產(chǎn)品簡介
詳細介紹
I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測試片。用于:將激磁次數(shù)降至zui少,以提高生產(chǎn)效率;
確定磁場方向和相對的磁場強度;
平衡多向磁場。
標(biāo)準(zhǔn)I試片
缺陷成基園和十字交叉條形,用于縱向和軸向磁場。
件號:519630 型號:KSC-230 標(biāo)準(zhǔn)I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.002英寸
產(chǎn)品關(guān)鍵字:KSC-230