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應用電磁輻射波譜區(qū)通常在200nm～800nm為紫外可見分光光度計。
采用微處理機控制技術(shù)，在紫外可見光譜區(qū)域內(nèi)對物質(zhì)作定性、定量分析，是常規(guī)實驗室*的多用途分析儀器。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
752N紫外可見分光光度計基本原理：
分光光度計分析法是基于不同分子結(jié)構(gòu)的物質(zhì)對電磁輻射選擇性吸收而建立的分析方法。
應用電磁輻射波譜區(qū)通常在200nm～800nm為紫外可見分光光度計。
采用微處理機控制技術(shù)，在紫外可見光譜區(qū)域內(nèi)對物質(zhì)作定性、定量分析，是常規(guī)實驗室*的多用途分析儀器。
752N特點：
采用*的全息閃耀光柵單色器，具有波長精度高，單色性好，雜散光低等優(yōu)點。
超大屏幕帶背光液晶顯示器，測量數(shù)據(jù)一目瞭覽
采用微機測量系統(tǒng)，T-A轉(zhuǎn)換精度高，并有自動調(diào)0%T和調(diào)100%T，濃度因子設定、濃度直讀。
測量讀數(shù)準確性高，重現(xiàn)性好和穩(wěn)定性佳。
可選配串行打印機和與軟件UVWin7配合使用，拓展儀器的使用功能。
UVWin7軟件包（另購）。
752N主要技術(shù)指標:
波長范圍；200nm～1000nm
波長zui大允許誤差：±2nm
波長重復性：≤1nm
透射比zui大允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
透射比重復性：≤0.2%（T）
光譜帶寬：4nm
雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定）
穩(wěn)定性:暗電流漂移：0.2%（T）/3min 亮電流漂移：0.5%（T）/3min
其它：
儀器尺寸和重量：500mm×350mm×190mm 14kg
產(chǎn)品關(guān)鍵字：752N 紫外分光光度計