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CSK-IB試塊再原有的CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試斜探頭折射角的刻度面。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
CSK-IB試塊
CSK-IB試塊再原有的CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試斜探頭折射角的刻度面。
使用要點(diǎn)：
1、利用半徑R100mm 曲面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度
2、利用Φ50和1.5mm 圓孔測(cè)定斜探頭的折射角
3、利用試塊直角邊測(cè)定斜探頭聲束軸線的偏離情況
4、利用25mm厚度測(cè)定探傷儀水平線、垂直線和動(dòng)態(tài)范圍
5、利用25mm厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度
6、利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃苗速度
7、利用Φ50、Φ44和Φ40mm三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力。
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