產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
A1型磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
簡 介:
A型靈敏度試片zui先由日本無損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出,以后為多個(gè)國家使用,主要用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對(duì)幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工作,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設(shè)備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。
特點(diǎn):
試片用于磁粉顯示,圖象直觀,使用簡便。對(duì)各類零件所有方向的磁場(chǎng),尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí),表現(xiàn)其*的優(yōu)點(diǎn)。
性能規(guī)格:
A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1、A2;A1為退火材料制成,A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片,與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對(duì)應(yīng)。本試片為A1(15/50μ)標(biāo)準(zhǔn)試片。相當(dāng)于A1型試片中2# (30/100μ)標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片,規(guī)格為(8-9)D;適用于中靈敏度探傷,其中括號(hào)中分子為槽深,分母為試片厚度,單位為(微米),D為工件直徑。
本套試片包括:
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成
使用方法:
1、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法,使用時(shí)應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片,將刻有槽的一面朝向工件,用膠帶紙緊密地貼上,保證試片與被檢面接觸良好,膠帶紙貼于試片兩邊緣,不能覆蓋試片背面的刻槽部位。
2、進(jìn)行外加懸場(chǎng)法,對(duì)工件進(jìn)行磁化,并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉(磁化規(guī)范由低檔逐提高,以顯示磁痕為界,即是磁化電流)。上述步驟完畢后,貼在工件表面上的試片,即可清楚顯示磁痕。
注意事項(xiàng):
1、試片使用前,用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,再用膠帶紙緊密地貼在工件上,保證試片與被檢面接觸良好。
2、試片用后請(qǐng)涂防銹油。
3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用
產(chǎn)品關(guān)鍵字:A1磁粉試片 A1磁粉標(biāo)準(zhǔn)試片