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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
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| 薄膜太陽(yáng)電池可以使用在價(jià)格低廉的玻璃、塑料、陶瓷、石墨，金屬片等不同材料當(dāng)基板來(lái)制造，薄膜太陽(yáng)電池在溫度循環(huán)、濕冷凍、濕熱試驗(yàn)中的量測(cè)及電壓輸入的方式，與晶圓型是不一樣的所以量測(cè)方式也所有不同，是不可以混淆的，薄膜型太陽(yáng)能電池所依據(jù)的試驗(yàn)規(guī)范為IEC 61646、IEC 61215、UL1703、GB9535、GB18911..等。 形成可產(chǎn)生電壓的薄膜厚度僅需數(shù)μm，因此在同一受光面積之下可較硅晶圓太陽(yáng)能電池大幅減少原料的用量（厚度可低于硅晶圓太陽(yáng)能電池90%以上），目前轉(zhuǎn)換效率zui高以可達(dá)13%，薄膜電池太陽(yáng)電池除了平面之外，也因?yàn)榫哂锌蓳闲钥梢灾谱鞒煞瞧矫鏄?gòu)造其應(yīng)用范圍大，可與建筑物結(jié)合或是變成建筑體的一部份，在薄膜太陽(yáng)電池制造上，則可使用各式各樣的沈積（deposition）技術(shù)，一層又一層地把p-型或n-型材料長(zhǎng)上去，常見的薄膜太陽(yáng)電池有非晶硅、CuInSe2 （CIS）、CuInGaSe2 （CIGS）、和CdTe..等。 |
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| Thermal cycle test（溫度循環(huán)測(cè)試） 目的：確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。 要求： 1.整個(gè)測(cè)試過程中紀(jì)錄模塊溫度，測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃ 2.整個(gè)測(cè)試過程中，監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器 3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器 4.監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效（測(cè)試過程中無(wú)間歇開路或接地失效）。
Humidity-freeze test（濕冷凍測(cè)試） 目的：確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。 要求： 1.整個(gè)測(cè)試過程中紀(jì)錄模塊溫度，測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃ 2.整個(gè)測(cè)試過程中，監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器 3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器 4. 監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效（測(cè)試過程中無(wú)間歇開路或接地失效）。
Damp Heat（濕熱測(cè)試） 目的：確定模塊抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力。 試驗(yàn)條件：85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h（IEC61646-10.13、GB18911-10.13、CNS15115-10.13） |
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