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CHY-115 涂層測厚儀/膜厚計 CHY115
產品特色：

■CE 認證合格

■可偵測導磁、非導磁材料

■資料儲存支援 255 筆

■可設定 Hi/Lo 警報蜂鳴的讀值範圍

■選擇平均值、zui大值、zui小值及zui大值-zui小值

■常用厚度量測點可使用快速一點校正

■兩點校正正常操作

■背光顯示

■使用者可選擇 μm/mils

■自動關機功能

CHY-115 涂層測厚儀/膜厚計 CHY115
一般規(guī)格：

顯示：31/2  位數字液晶顯示，zui大 1999 讀值。

電池電壓不足顯示：當電池電壓低於操作電壓時，

"   "顯示。

操作環(huán)境：0°C至40°C，相對濕度<90%R.H.。

避免有強度磁場的環(huán)境。

儲存環(huán)境：-20°C至60°C，0 至 80%R.H. （電池移除後）。

精確度測試環(huán)境：23°C±5°C，相對濕度<75%R.H.。

自動關機：15 秒。

尺寸：148mm（高）x105mm（寬）x42mm（厚）。

 www.dingxin17。。ｃｏｍ  www.pifayiqi。。ｎｅｔ  www.godee。。ｃｎ   www.qiti8。。ｃｏｍ

CHY-115 涂層測厚儀/膜厚計 CHY115
技術資料：

範圍：0 至 40.0mils （0 至 1000μm）

解析度：0.1mils/1μm

回應時間：1 秒

精確度：

±（4位）在0至7.8mils

±（10 位）在 0 至 199μm

±（3%+4 位）在 7.9mils 至 40mils

±（3%+10 位）在 200μm 至 1000μm