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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,電氣,綜合 |
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深能級瞬態(tài)譜儀2-半導(dǎo)體表征
儀器簡介:
美國高分辨深能級瞬態(tài)譜儀是半導(dǎo)體領(lǐng)域研究和檢測半導(dǎo)體雜質(zhì)、缺陷深能級、界面態(tài)等的重要技術(shù)手段!測試功能:電容模式、定電容模式、電流模式、(雙關(guān)聯(lián)模式)、光激發(fā)模式、FET分析、MOS分析、等溫瞬態(tài)譜、Trap profiling、俘獲截面測量、I/V,I/V(T) 、C/V, C/V(T) 、TSC/TSCAP 、光子誘導(dǎo)瞬態(tài)譜、DLOS。
測試根據(jù)半導(dǎo)體P-N結(jié)、金-半接觸結(jié)構(gòu)肖特基結(jié)的瞬態(tài)電容(△C~t)技術(shù)和深能級瞬態(tài)譜的發(fā)射率窗技術(shù)測量出的深能級瞬態(tài)譜,是一種具有很高檢測靈敏度的實(shí)驗方法,能檢測半導(dǎo)體中微量雜質(zhì)、缺陷的深能級及界面態(tài)。通過對樣品的溫度掃描,給出表征半導(dǎo)體禁帶范圍內(nèi)的雜質(zhì)、缺陷深能級及界面態(tài)隨溫度(即能量)分布的DLTS譜,集成多種全自動的測量模式及全面的數(shù)據(jù)分析,可以確定雜質(zhì)的類型、含量以及隨深度的分布。
也可用于光伏太陽能電池領(lǐng)域中,分析少子壽命和轉(zhuǎn)化效率衰減的關(guān)鍵性雜質(zhì)元素和雜質(zhì)元素的晶格占位,確定是何種摻雜元素和何種元素占位影響少子壽命。
感謝中國科學(xué)院寧波材料研究所,國家硅材料深加工產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心 南昌大學(xué) 西安電子科技大學(xué)成為此設(shè)備的專業(yè)用戶?。?br/> 此設(shè)備在全球用戶眾多,比歐洲設(shè)備性能價格比高,是研究材料深能級領(lǐng)域的理想工具??!
深能級瞬態(tài)譜儀2-半導(dǎo)體表征
系統(tǒng)配置:
DLTS數(shù)據(jù)采集及分析軟件 (DLTS, ODLTS, DDLTS)
Boonton 7200型快速電容測試器
自動電容零點(diǎn)界面
數(shù)據(jù)采集卡及中斷箱
ODLTS穿導(dǎo)件
機(jī)柜安裝硬件及電纜
設(shè)備機(jī)柜
GPIB 接口卡
電腦是雙核, 2GB 內(nèi)存, 19"顯示器. USB 接口, CD書寫用于數(shù)據(jù)傳輸.
可調(diào)節(jié)探針(2)
閉環(huán)液氦制冷機(jī) (25-700K)
溫度控制器
電容測試器指標(biāo):
型號: Boonton 7200
電容零點(diǎn)界面: Yes
全自動電容補(bǔ)償: Yes
全自動范圍設(shè)置: Yes
響應(yīng)時間: ~25μsec
補(bǔ)償范圍: 256pF
測試頻率: 1MHz
測試信號級別: 15, 30, 50, 100 mV
電容范圍: 2000pF
靈敏度: 1fF
電壓范圍: +100V to –100V (Boonton)
+10V to –10V (數(shù)據(jù)采集卡)
靈敏度: 1mV (電壓小于 20V時), 10mV (電壓大于 20V時)
0.3mV (數(shù)據(jù)采集卡)
脈沖寬度: 15ms to >0.1sec (Boonton內(nèi)置偏壓)
5μs to >0.1sec (數(shù)據(jù)采集卡)
脈沖幅度: 到 200V, slew rate<20V/ms (Boonton)
到 20V, slew rate of 20V/μs (數(shù)據(jù)采集卡)
電流: 5mA
數(shù)據(jù)采集卡瞬時記錄:
采樣速率: 可至 1μs. 一般使用 >50μs
采樣次數(shù): >10,000.
記錄分辨率: 50ns暫時分辨率, 優(yōu)于 50aF 電容分辨率
過濾: 全自動檢測及正弦噪音消除
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)