X熒光edx-3600k光譜儀生產(chǎn)廠家屬于良好的分析檢測(cè)儀器，隨著半導(dǎo)體微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學(xué)、熱學(xué)、電化學(xué)、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學(xué)精密機(jī)械電子學(xué)結(jié)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)室內(nèi)人工操作應(yīng)用模式，轉(zhuǎn)化成光、機(jī)、電、算（計(jì)算機(jī)）一體化、自動(dòng)化的結(jié)構(gòu)，并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。

EDX 3600K X熒光光譜儀的亮點(diǎn)在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測(cè)器和自旋式的樣品腔，產(chǎn)品通過了江蘇省計(jì)量科學(xué)研究院的檢測(cè)，并通過中國儀器儀表學(xué)會(huì)分析儀器分會(huì)組織的科技成果鑒定，技術(shù)達(dá)到國際良好水平。

 

X熒光edx-3600k光譜儀生產(chǎn)廠家性能優(yōu)勢(shì)

 

1.超低能量分辨率，輕元素檢測(cè)效果更佳

使用大面積鈹窗電致冷SDD探測(cè)器，探測(cè)器分辨率達(dá)到139eV，各項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于國家標(biāo)準(zhǔn)。SDD探測(cè)器具有良好的能量線

性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有良好的分析精度。

 

2. 測(cè)試精度更高，檢出限更低

①專業(yè)化的樣品腔設(shè)計(jì)，帶可調(diào)速的自旋樣品腔，能有效的測(cè)定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測(cè)試精度。

②采用超小超真空的樣品腔設(shè)計(jì)，保證測(cè)試時(shí)達(dá)到10Pa以下，使設(shè)備的測(cè)試范圍可從F元素起測(cè)試，大大地提高測(cè)試范圍、輕元素檢出限和精度。

 

3. 分析速度更快，從第1秒即可得到定性定量結(jié)果

采用自主研發(fā)的數(shù)字多道技術(shù)，其線性計(jì)數(shù)率可達(dá)100kcps，可以更加快速的分析，從第1秒就可以得出定性定量結(jié)果，

設(shè)計(jì)成高計(jì)數(shù)率，大大提高了設(shè)備的穩(wěn)定性。

 

4. 一鍵式智能化操作

專業(yè)軟件，良好的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、一鍵智能化操作，使操作簡(jiǎn)易，對(duì)操作人員限制小的特點(diǎn)。

 

5. 強(qiáng)大的自動(dòng)化功能

①自動(dòng)化程度高，具有自動(dòng)開蓋、自動(dòng)切換準(zhǔn)直器與濾光片等功能。

②采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的*性：利用解譜技術(shù)使譜峰分解，采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。

 

6. 強(qiáng)度校正法

具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式的自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

 

7. 完善的光路系統(tǒng)

自主研發(fā)的光路系統(tǒng)，光程更短，光路損失更少，激發(fā)效果更佳。

 

8. 三重安全防護(hù)功能

三重安全防護(hù)功能，自動(dòng)感應(yīng)，沒有樣品時(shí)儀器不工作，無射線泄漏；加厚防護(hù)測(cè)試壁；配送測(cè)試防護(hù)安全罩。

 

9. 安全警示系統(tǒng)

警告指示系統(tǒng)，通電時(shí)綠色指示燈亮，測(cè)試時(shí)黃色輻射指示燈閃爍，防止誤操作。

 

X熒光edx-3600k光譜儀生產(chǎn)廠家儀器配置

 

鈹窗電制冷SDD探測(cè)器

自旋式樣品腔

高效超薄窗X光管

信噪比增強(qiáng)器SNE

超近光路增強(qiáng)系統(tǒng)

可自動(dòng)開啟的測(cè)試蓋

自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片

真空腔體

自動(dòng)穩(wěn)譜裝置

90mm×70mm的液晶屏

良好的數(shù)字多道技術(shù)

多變量非線性回歸程序

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

 

技術(shù)參數(shù)

 

型號(hào)：EDX3600K

X射線源：50KV、1mA

樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm

分析方法：能量色散X熒光分析方法

測(cè)量元素范圍：原子序數(shù)為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測(cè)量

檢測(cè)元素：同時(shí)分析元素達(dá)三十多種，可根據(jù)客戶需要增加元素

含量范圍：ppm～99.99%

檢測(cè)時(shí)間：10秒以上

檢測(cè)對(duì)象：標(biāo)準(zhǔn)粉未壓片及可以放入標(biāo)準(zhǔn)樣品杯的固體、液體及粉末

探測(cè)器及分辨率：超大超薄的SDD探測(cè)器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測(cè)器至125eV

激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇

攝像頭：高清攝像頭

測(cè)井環(huán)境：超真空系統(tǒng)，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以

準(zhǔn)直器和濾光片：四組準(zhǔn)直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動(dòng)切換

自旋裝置：可調(diào)速的自旋裝置

檢出限：對(duì)樣品中的大多數(shù)元素來說，檢出限達(dá)5～500ppm

真空系統(tǒng)：超真空系統(tǒng)，10秒可到10Pa

數(shù)據(jù)傳輸：數(shù)字多道技術(shù)，快速分析，高計(jì)數(shù)率

測(cè)試臺(tái)：360°電動(dòng)旋轉(zhuǎn)式

保護(hù)系統(tǒng)：樣品腔為電動(dòng)控制，上蓋打開時(shí)測(cè)試已完成

樣品放置：*的樣品杯設(shè)計(jì)，自帶壓環(huán)，可防止樣品晃動(dòng)

數(shù)字多道技術(shù)：計(jì)數(shù)率>50kcps，有效計(jì)數(shù)率高至500kcps

外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG

操作環(huán)境濕度：≤90%

操作環(huán)境溫度：15℃～30℃