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X熒光光譜儀XRF技術原理與工作流程詳解
閱讀：1268 發(fā)布時間：2024-4-5
X熒光光譜儀XRFX是一種用于元素分析的儀器，可以檢測樣品中的元素種類和含量。 
一、技術原理
X熒光光譜儀XRFX基于X射線熒光的原理。當樣品受到高能X射線照射時，樣品中的原子會被激發(fā)并發(fā)射出二次X射線，這種現(xiàn)象稱為X射線熒光。每種元素的原子都有熒光發(fā)射譜線，因此可以通過測量這些譜線的強度來確定樣品中元素的種類和含量。
二、工作流程
1.樣品準備：將樣品置于樣品臺上，確保樣品表面平整并與探測器相對。
2.激發(fā)源產(chǎn)生：光譜儀中的X射線管產(chǎn)生高能X射線，照射到樣品上。
3.熒光發(fā)射：樣品中的原子吸收X射線能量后，被激發(fā)到高能級。當原子退回到低能級時，會發(fā)射出具有特定波長的熒光X射線。
4.信號檢測：探測器接收樣品發(fā)射的熒光X射線，將其轉換為電信號。
5.數(shù)據(jù)處理：將探測器收集到的電信號進行放大、數(shù)模轉換等處理，得到樣品中各元素的強度數(shù)據(jù)。
6.結果分析：根據(jù)各元素的熒光強度，通過預先建立的標準曲線或校準模型，計算出樣品中各元素的含量。
三、特點
1.分析速度快：可以在幾分鐘內(nèi)同時分析樣品中的多種元素。
2.分析范圍廣：可以分析從Na到U的大部分元素。
3.靈敏度高：可以檢測到ppm甚至ppb級別的元素含量。
4.非破壞性：對樣品無損傷，適合于珍貴文物、藝術品等樣品的分析。
X熒光光譜儀XRFX是一種重要的元素分析儀器，它基于X射線熒光的原理，通過一系列工作流程，可以快速、準確地分析樣品中的元素種類和含量。