為了在原子尺度上建立材料的性質(zhì)與其結(jié)構(gòu)之間的相關(guān)性，研究者迫切需要用掃描/透射電子顯微鏡（S/TEM）對材料的結(jié)構(gòu)進(jìn)行原子尺度的直接成像。雖然高分辨率 TEM 和 STEM是大多數(shù)材料結(jié)構(gòu)的常規(guī)表征手段，但由于電子束敏感材料（如金屬有機(jī)骨架(MOFs)、分子篩、超分子晶體、雜化鹵素鈣鈦礦等）極度的不穩(wěn)定性，以常規(guī)方式觀察它們的結(jié)構(gòu)仍然是一個極大的挑戰(zhàn)。隨著超低劑量電子顯微成像技術(shù)（ultralow-dose (S)TEM）的開發(fā)，電子束敏感材料的高分辨率成像這一難題在很大程度上得到了解決。過去幾年間，包括上述材料在內(nèi)的各種電子束敏感材料的納米顆粒高分辨(S)TEM成像都獲得了成功。但是，對于需要“試樣制備"的體相電子束敏感材料的(S)TEM成像仍然具有極大的挑戰(zhàn)。這是因為，電子束敏感材料的TEM試樣制備非常具有挑戰(zhàn)，這些電子束敏感材料往往對于其它各種作用力也很敏感，其結(jié)構(gòu)很容易被常規(guī)的試樣制備方法所破壞。鑒于超低劑量電子顯微成像技術(shù)日趨成熟，如何開發(fā)出有效的、可適用于體相敏感材料的試樣制備技術(shù)變得十分迫切。

本次網(wǎng)絡(luò)研討會特別邀請重慶大學(xué)張大梁教授為大家介紹使用冷凍聚焦離子束(Cryo-FIB)加工電子束敏感結(jié)晶材料和器件的技術(shù)方法和難點，分享其使用利用冷凍FIB和低劑量電子顯微成像技術(shù)揭示電子束敏感晶體和器件中的微結(jié)構(gòu)的成功案例。