安柏AT2617電容測試儀
AT261X系列是電容測試儀，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動實時檢測的微型臺式儀器。儀器可以選擇200kHz（AT2616）的測試頻率，并可選擇0.1V，0.3V，0.5V和1.0Vrms的測試信號電平。
主副參數(shù)全5位顯示，可以同時顯示Z、R、A、A%的一種。高達0.1%的準確度，使本儀器可滿足自動化設備制造廠家、各元件生產(chǎn)和使用廠家、學校、研究所和計量質檢部門進行精確測試和批量生產(chǎn)的要求。
儀器擁有專業(yè)分選功能，具有10組存儲文件，可編程3檔合格檔，1檔附屬檔（副參數(shù)不合格），1檔不合格檔和主參數(shù)HI/IN/LO檔，可設置百分比分選或絕對值分選，配備USB接口、Handler接口和RS-232C接口改良設計的AT261X，加強了整機抗干擾電路和保護電路，滿足自動化設備（分選機、老化機等）的復雜使用環(huán)境。
特征
真彩TFT-LCD顯示。
儲存999個LCD畫面檔案，觸發(fā)延遲
校正功能：全量程程開路和短路掃頻清零
校準功能
比較器功能（分選功能）
文件功能：儀器內部Flash存儲器有10個文件可供您用來保存儀器數(shù)據(jù)，
可編程1～256次平均次數(shù)，提供穩(wěn)定性。
自定義分選結果訊響。
內置RS232C/RS485/USB接口和Handler接口，可選GPIB接口。
SCPI和Modbus 通信協(xié)議。
安柏AT2617電容測試儀
基礎元件和材料測量：電容器、電阻器、變壓器等
元器件入料檢測
電容器分選檢測
用于實驗室質量控制，進料檢驗以及元器件分選
| 測量參數(shù) | Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q |
| 基本準確度 | 0.1% |
| 測試頻率 | 100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01% |
| 測試量程 | 自動、手動和標稱量程，9量程 |
| 測試速度 | 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒 |
| 顯示范圍 | C: 0.0001pF – 9.9999mF R,Z: 0.0001Ω - 99.999MΩ D, 0.0001 – 9.9999 Q: 0.0001 – 9999.9 Δ%: -999.999% - 999.999% |
| 輸出阻抗 | 30Ω，100Ω |
| 監(jiān)視參數(shù) | Z, R, Δ, Δ% |
| 讀數(shù) | 99999 |
| 等效方式 | 串聯(lián)和并聯(lián)等效 |
| 信號電平 | ACV：10.00mV~2.00V,準確度：10%,CV模式準確度：6% |
| 平均次數(shù) | 1~256 |
| 觸發(fā)方式 | 內部、手動、外部和遠程 |
| 觸發(fā)延時 | 0.01ms~60s |
| 比較器 | 合格檔（BIN1-BIN3）：表示主副參數(shù)均合格； 附屬檔（AUX）：表示附屬檔打開時，主參數(shù)合格但副參數(shù)不合格； 不合格檔（OUT）：主參數(shù)不合格，或者，附屬檔關閉時主參數(shù)合格但副參數(shù)不合格。 HI/IN/LO：主參數(shù)更詳細的比較結果，HI：主參數(shù)偏高，LO：主參數(shù)偏低，IN：主參數(shù)合格 |
| 比較方式 | 順序/絕對偏差/相對偏差 |
| 校準 | 開路清零、短路清零（掃頻和點頻) |
| 文件 | 內部存儲10個文件 外部USB存儲10個文件 |
| 數(shù)據(jù)記錄 | 9999 組文件（.csv) |
| 訊響功能 | 關/合格/不合格 |
| 接口 | 處理機（Handler）接口/RS232接口（標配） RS485接口/GPIB接口（選件） |
| 通訊協(xié)議 | SCPI/Modbus |
| 電源要求 | 90V-260VAC，50Hz至60Hz |
| 尺寸與重量 | 264(寬)x107(高)x349.5 (深) 3kg,凈重 |
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