CSK-ⅡA 試塊- NB/T47013-2015探傷試塊
NB/T47013-2015 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)超聲波探傷用 CSK-IIA試塊依據(jù)承壓設(shè)備I型焊接接頭超聲檢測(cè)要求而設(shè)計(jì)，適用于將斜探頭、直探頭檢測(cè)工件厚度范圍為6mm～200mm的Ⅰ型焊接接頭
CSK-IIA 試塊依據(jù)承壓設(shè)備I型焊接接頭超聲檢測(cè)要求而設(shè)計(jì)，適用于將斜探頭、直探頭檢測(cè)工件厚度范圍為6mm～200mm的Ⅰ型焊接接頭。試塊設(shè)計(jì)內(nèi)容見下表：
CSK-IIA-1#測(cè)試方法：（1）橫波靈敏度的設(shè)定：將選用已校驗(yàn)好的的斜探頭置于示意圖中a位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第一點(diǎn)。探頭置于示意圖中b位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中c位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)。探頭置于示意圖中d位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第四點(diǎn)。探頭置于示意圖中e位置，前后移動(dòng)探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第五點(diǎn)。探頭置于示意圖中f位置，前后移動(dòng)探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第六點(diǎn)。將以上六點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線。
（2）縱波靈敏度設(shè)定：將選用已校驗(yàn)好的直探頭置于示意圖中g(shù)位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第一點(diǎn)。探頭置于示意圖中h位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中i位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)。探頭置于示意圖中j位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第四點(diǎn)。探頭置于示意圖中k位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第五點(diǎn)。探頭置于示意圖中L位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第六點(diǎn)。將以上六點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線，此時(shí)的靈敏度即為基準(zhǔn)靈敏度。
化工儀器網(wǎng)