CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK-IA 試塊是我國承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn) NB/T47013 中 規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊。CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的 主要用途有:測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度;測定斜探頭的折射角;測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍等。
CSK-IA 試塊是我國承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn) NB/T47013 中 規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊。
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利 用50、44和40mm 三個(gè)臺階孔測定斜探頭分辨力。
水平線性又稱時(shí)基線性，或掃描線性。是指輸入到超聲檢測儀中的不 同回波的時(shí)間間隔與超聲檢測儀顯示屏?xí)r基線上回波的間隔成正比關(guān)系的 程度。水平線性影響缺陷位置確定的準(zhǔn)確度。水平線性的測試可利用任何 表面光滑、厚度適當(dāng)，并具有兩個(gè)相互平行的大平面的試塊，用縱波直探 頭獲得多次回波，并將規(guī)定次數(shù)的兩個(gè)回波調(diào)整到與兩端的規(guī)定刻度線對 齊，之后，觀察其他的反射回波位置與水平刻度線相重合的情況。其測試 步驟如下:
(1)將直探頭置于 CSK-IA 試塊上，對準(zhǔn) 25mm 厚的大平底面， 如圖 a 所示
(2)調(diào)整微調(diào)、水平或脈沖移位等旋鈕，使示波屏上出現(xiàn)五次底波 B1 到 B5，且使 B1 對準(zhǔn) 2.0，B5 對準(zhǔn) 10.0，如圖 b 所示
(3)觀察和記錄 B2、B3、B4 與水平刻度值 4.0、6.0、8.0 的偏差 值 a2、a3、a4。
(4)計(jì)算水平誤差:公式
式中，amax——a2，a3，a4 中最大者 b——示波屏水平滿刻度值
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