安柏AT817LCR 數(shù)字電橋采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT817僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏科技*的技術(shù)，使其性能亦無(wú)可挑剔。
內(nèi)建50Hz~100kHz 10點(diǎn)測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，使其能*多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統(tǒng)，使AT817具有傻瓜式操作界面。
內(nèi)置RS232C接口，兼容SCPI編程語(yǔ)言，很容易與計(jì)算機(jī)通訊，完成所有儀器功能。
技術(shù)規(guī)格 ● 測(cè)試參數(shù)：L,C,R,Z,D,Q,θ（deg）,θ（rad） ● 測(cè)試頻率：50Hz~100kHz ● 基本準(zhǔn)確度：0.05% ● 測(cè)試電平：0.1V, 0.3V, 1.0V ● 測(cè)試速度：1.5次/秒，5次/秒，15次/秒 ● 主副參數(shù)5位顯示 ● L: 0.01μH-99999H ● C: 0.01pF - 99999μF ● R,Z: 0.0001Ω - 99.999MΩ? ● D,Q: 0.00001 - 999999 ● θ（deg）: -90.000°- 90.000°? ● θ（rad）: -3.1416 – 3.1416 ● Δ%: -99999% - 99999% ● 輸出阻抗：30Ω, 50Ω 100Ω ● 等效電路：串聯(lián), 并聯(lián) ● 9量程自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試。 性能特征 ● 高亮度，超清晰四色VFD顯示。 ● 校正功能：全量程程開(kāi)路和短路掃頻清零。 ● 第三窗口可同時(shí)顯示 Z, D, Q, θ, ΔABS, Δ%或分選結(jié)果。 ● 比較器（分選）功能：內(nèi)建20組分選記錄，P1,P2,P3,NG,AUX 五檔分選結(jié)果顯示和輸出。 ● 自定義分選結(jié)果訊響和音量。 ● 內(nèi)置RS232C接口和Handler接口。 ● 顯示亮度可調(diào)。 ● 1000V*沖擊保護(hù)
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