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對溫度沖擊試驗箱的要求
閱讀：697 發(fā)布時間：2012-7-25
溫度沖擊試驗箱即由位于上部的高溫試驗箱、位于下部的低溫試驗箱組成。在高溫與低溫瞬間變化條件下，對待測材料的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試。主要用于考核和確定電子電工、汽車電器、材料等產(chǎn)品，在進行高、低溫試驗的溫度沖擊變化后的參數(shù)及性能。
1.高溫試驗箱的要求，應符合GJB150.3-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗》的第3章各條所規(guī)定的要求。
2.低溫試驗箱的要求，應符合GJB150.4-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 低溫試驗》的第3章各條所規(guī)定的要求。
3.溫度沖擊試驗箱提供高溫試驗部分和低溫試驗部分，應分別符合GJB 150.3-86和GJB 150.4-86的第3章各條所規(guī)定的要求。
4.試驗箱的容積應保證在試驗樣品放入后不超過試驗溫度保持時間的10%就能使試驗箱溫度達到GJB 150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗條件容差范圍之內(nèi)。