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當(dāng)前位置:北京恒奧德儀器儀表有限公司>>電工儀器儀表>>電阻測(cè)量?jī)x表>> HAD0-70601能薄膜性測(cè)試儀 薄膜性測(cè)試儀
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)HAD0-70601
品 牌恒奧德
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
更新時(shí)間:2016-09-08 19:47:22瀏覽次數(shù):1106次
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能薄膜性測(cè)試儀型號(hào):HAD0-70601 | |
儀器由四探針測(cè)試儀和非晶硅薄膜電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x兩分組成。具有測(cè)量度,靈敏度,穩(wěn)定性好,測(cè)量范圍寬,結(jié)構(gòu)緊湊,使用方便等點(diǎn)。儀器適用于半導(dǎo)體材料廠,半導(dǎo)體器件廠,科研單位,等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能的測(cè)試。 四探針測(cè)試儀由主機(jī),測(cè)試架等分組成??梢詼y(cè)量片狀,塊狀,塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率,測(cè)量擴(kuò)散層的薄層電阻(亦稱(chēng)方塊電阻),能材料暗電導(dǎo)和光電導(dǎo)及溫度的變化的性,還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低,中值電阻行測(cè)量。測(cè)試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和耐磨碳化鎢探針制成,故定位準(zhǔn)確,游移率小,壽命長(zhǎng)。 非晶硅薄膜電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x由樣品室,溫控系統(tǒng),真空系統(tǒng),阻測(cè)量系統(tǒng)等分組成。 1. 測(cè)量范圍:電阻測(cè)量范圍:1×106 1×1017Ω; 電阻率:0.001~200Ω cm; 電導(dǎo)率:0.005~1000s/cm; 2. 可測(cè)晶片直徑:200mm×200mm; 3. 探針:碳化鎢或速鋼;探針間距:1± 0.01mm; 4. 針間緣電阻: ≥ 1000 MΩ; 機(jī)械游移率:≤0.3%; 5. 本底真空度: ≤10Pa,氣壓可控范圍:10~400Pa; 襯底加熱溫度:室溫度~200℃ | 能薄膜性測(cè)試儀 |
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產(chǎn)品名稱(chēng):綜合校驗(yàn)儀 產(chǎn)品型號(hào):HS-VD3002 |
綜合校驗(yàn)儀 型號(hào):HS-VD3002
本儀器采用三路立LED數(shù)碼顯示系統(tǒng),內(nèi)置兩組立的穩(wěn)定信號(hào)發(fā)生器,可同時(shí)顯示兩路輸出直模擬電壓、電信號(hào)及路測(cè)量直電、電壓信號(hào)。本儀器采用交供電、顯示清楚、穩(wěn)定,既能使用于實(shí)驗(yàn)室對(duì)自動(dòng)化儀表行維修、校驗(yàn)及計(jì)量,又能使用于現(xiàn)場(chǎng),對(duì)儀表行安裝、調(diào)試及維修。
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