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型號(hào) SY.74-WQL
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簡介 應(yīng)用范圍：儀器基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測(cè)定顆粒的粒度大小及分布，采用變速測(cè)定方式，使1次測(cè)量的粒度范圍比大于20:1。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
| 粒度儀 | |||
| 型號(hào) | SY.74-WQL | ||
| 圖片 |  | ||
| 簡介 | 儀器基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測(cè)定顆粒的粒度大小及分布，采用變速測(cè)定方式，使1次測(cè)量的粒度范圍比大于20:1。 性能指標(biāo)： 轉(zhuǎn)速范圍：600～10000r/min 光信號(hào)穩(wěn)定性：0.2%/30min 可測(cè)粒度范圍：0.01～60μm 測(cè)試準(zhǔn)確度：5％ （使用原上海測(cè)試技術(shù)研究院所提供的二氧化硅標(biāo)樣） | ||
| 北京卓川電子科技有限公司 ： 59499733 57173682 57161285 62918360 57173683 ： www.bjzcdz.com ：webmaster@bjzcdz.com |
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