簡(jiǎn)單介紹
測(cè)試電壓:50V~10KV
測(cè)試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增,1KV-10KV的范圍里以25V步進(jìn)遞增
測(cè)試電阻(阻抗)顯示zui大讀數(shù)35TΩ,顯示zui小讀數(shù)10KΩ
短路電流:5mA
實(shí)時(shí)輸出:能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓,電流和阻抗
美國(guó)Megger (AVO) 絕緣電阻測(cè)試儀S1-1054/2的詳細(xì)介紹 |
美國(guó)Megger (AVO) S1-1054/2 10KV絕緣電阻測(cè)試儀(高壓兆歐表) (替代S1-5010、MEG-10-01) 產(chǎn)品特點(diǎn): ▲全新的S1-1054/2絕緣電阻測(cè)試儀是MEGGER特別設(shè)計(jì), 用來(lái)測(cè)試和維護(hù)高壓設(shè)備的*儀器。 ▲IEEE43-2000推薦使用者可以使用S1-1054/2來(lái)測(cè)試額定超過(guò)12KV的電動(dòng)機(jī)的繞組。 ▲雙路電源輸入設(shè)計(jì):可充電電池或主電源輸入。儀器可由220V電源供電,也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測(cè)試的場(chǎng)所不清楚是否有電源或者測(cè)試周期不清楚的時(shí)候,都可以來(lái)進(jìn)行測(cè)試。 ▲數(shù)字/模擬雙顯示測(cè)試結(jié)果 ▲測(cè)試電壓由 50V至10KV 可調(diào) 測(cè)試電壓在 50V-1000V 的范圍里以10V(步進(jìn))微調(diào),1000V-10000V的范圍里以25V(步進(jìn))微調(diào)。 ▲絕緣電阻測(cè)量測(cè)試范圍擴(kuò)展為35TΩ,用于對(duì)高質(zhì)量絕緣材料的絕緣趨勢(shì)分析等。 ▲短路電流:5mA ▲測(cè)試電流范圍:0.01mA~5mA ▲抗干擾:4mA rms
▲全新設(shè)計(jì)的背光LCD顯示屏使操作者在陽(yáng)光下或者光線很暗的情況下輕松讀出數(shù)據(jù)。 ▲絕緣電阻測(cè)試儀顯示的信息:絕緣阻值,實(shí)時(shí)測(cè)試電壓,泄漏電流,等效電容,電池狀態(tài)和時(shí)間常數(shù)。同時(shí),每次測(cè)試時(shí)LCD上還會(huì)顯示已測(cè)試時(shí)間,這就不需要在測(cè)試時(shí)額外計(jì)時(shí)。 ▲絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)置了多個(gè)計(jì)時(shí)器,還具備絕緣測(cè)試設(shè)限告警功能。 ▲儀器上還帶有一個(gè)接地端子,使儀器能提高其精確性。 ▲儀器的標(biāo)號(hào)分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊,方便儲(chǔ)存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)。 ▲儀器的控制的操作都清楚的寫(xiě)在儀器隨機(jī)器附帶的說(shuō)明書(shū)里面。 MEGGER絕緣電阻測(cè)試儀功能: 內(nèi)置多種自動(dòng)測(cè)試程序: ▲IR 絕緣電阻測(cè)試、 ▲DAR 吸收比測(cè)試 (介電吸收率)、 ▲PI 極化指數(shù)測(cè)試、 ▲SV 步進(jìn)電壓(跨步電壓)測(cè)試 ▲DD 測(cè)試 (介質(zhì)放電)) ▲測(cè)試上限擴(kuò)展:35TΩ ▲提供USB與RS232接口下載數(shù)據(jù) ▲儀器內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器可保存測(cè)試結(jié)果:電壓,測(cè)試時(shí)間,泄漏電流,阻抗,電容,PI, DAR, DD MEGGER絕緣電阻測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo):
備注:以上所列產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)及參數(shù)僅供參考,實(shí)際指標(biāo)及參數(shù)以廠商產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
▲絕緣電阻測(cè)試儀外殼由硬塑聚炳烯制造,由于在生產(chǎn)過(guò)程中經(jīng)過(guò)特殊處理,因此特別堅(jiān)固耐用,而且輕巧便于攜帶,符合IP65標(biāo)準(zhǔn)。 |