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BW4080VX功能介紹

——由新加坡PROTEQ生產(chǎn)的BoardWirard（創(chuàng)能）
①BW4080VX為一體化、*的電路板故障診斷和維修設(shè)備，其特殊的設(shè)計(jì)可滿足印制電路
板
修理/維護(hù)市場(chǎng)的需要，適用于印制電路板使用±12V器件的故障診斷。它為電路板的自動(dòng)
檢
修提供了價(jià)廉物美的測(cè)試工具。模件板可擴(kuò)展性確保你在將來(lái)測(cè)試多于40腳的器件時(shí)仍能
提
供服務(wù)，它只要再加上一個(gè)插入式驅(qū)動(dòng)板，就可將通道數(shù)目擴(kuò)展到80個(gè)，而無(wú)需改變軟
件。
②創(chuàng)能BW4080VX測(cè)試儀將測(cè)試與動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試組合在一起，提供了*的故障診斷率，并
可
節(jié)省維修人員的時(shí)間，因此，可提高檢修故障印制電路板的生產(chǎn)率。

——有效、可靠的測(cè)試方法
BoardWirard（創(chuàng)能）為快速診斷故障提供三種測(cè)試方法，這三種測(cè)試方法為：
在線功能測(cè)試（ICFT）
VI曲線分析
電路追蹤法
通過(guò)使用這三種方法，可以診斷出大多數(shù)需要檢修的問(wèn)題，例如總線故障、輸出故障、IC
功
能錯(cuò)誤、電源Vcc加載軌跡、短路、多層短路、光耦電容故障、開(kāi)路以及許多其它故障。
所有這些測(cè)試均可使用“先學(xué)習(xí)，后測(cè)試”的方法，實(shí)現(xiàn)無(wú)需電路圖進(jìn)行故障檢修，通過(guò)
對(duì)
一個(gè)工作正常板進(jìn)行學(xué)習(xí)，建立一個(gè)標(biāo)示圖數(shù)據(jù)庫(kù)。這些存貯的標(biāo)示圖庫(kù)為將來(lái)測(cè)試故障
板
作為比較用。根據(jù)這點(diǎn)，也可開(kāi)發(fā)一些測(cè)試方法，作為在廠質(zhì)量控制用。

——在線功能測(cè)試（ICFT）
這是一種全面的功能測(cè)試，它對(duì)一個(gè)加有電源的IC，在一個(gè)特定的測(cè)試模型下，檢查所有
針
腳的響應(yīng)。在這種測(cè)試方法下，根據(jù)預(yù)先確定的測(cè)試邏輯模型來(lái)驅(qū)動(dòng)器件的輸入，要保證
IC
實(shí)現(xiàn)實(shí)際驅(qū)動(dòng)條件下的特性。必須打開(kāi)電源測(cè)試。
要測(cè)試一個(gè)器件，只需選定器件的型號(hào)，并把測(cè)試夾放在器件上，系統(tǒng)將根據(jù)這個(gè)器件作
功
能測(cè)試，并立即顯示通過(guò)/故障結(jié)果，響應(yīng)不正確的針腳，自動(dòng)地用高亮標(biāo)識(shí)在顯示屏上。
ICFT也可檢測(cè)器件的任何非法連接，能夠?qū)W習(xí)并存貯板的標(biāo)示圖，為將來(lái)測(cè)試其它類似的
板
作為比較用。用這種方法，只需用很短的時(shí)間就能檢測(cè)出PCB上大多數(shù)的故障。
您還可以通過(guò)使用以下三種方法，能為器件產(chǎn)生新的測(cè)試程序。
波形編輯
自動(dòng)生成（LSI）
測(cè)試語(yǔ)言 BOTL和LSI
可利用自動(dòng)測(cè)試程序產(chǎn)生功能完成存貯器件測(cè)試。

——VI曲線
這種測(cè)試，在電源關(guān)的條件下，對(duì)一器件的電路的接點(diǎn)測(cè)量動(dòng)態(tài)阻抗（電壓/電流），其結(jié)
果稱之為VI曲線，與學(xué)習(xí)來(lái)并存貯的曲線進(jìn)行比較。若與存貯曲線相比產(chǎn)生的任何形式的
偏
差超出了設(shè)置的誤差容*，立即用高亮標(biāo)識(shí)。
VI比較能診斷出故障元件、錯(cuò)誤值，不同的誤差容限和許多用普通示波器測(cè)試很難確定的
微
妙的差別。

---電路追蹤
這種測(cè)試學(xué)習(xí)板上器件之間的連接以及器件自身的連接。它為技術(shù)人員測(cè)試一個(gè)板的整體
線
路提供了一個(gè)簡(jiǎn)便的工具。它用于確定位PCB的軌跡故障。例如短路或開(kāi)路，板上IC排列方
向錯(cuò)誤和放置錯(cuò)誤。
利用建立的IC連接數(shù)據(jù)庫(kù)，在選件CAD的幫助下，可產(chǎn)生原理圖。

性能參數(shù)：
——測(cè)試方法
用內(nèi)部產(chǎn)生的測(cè)試模型激勵(lì)后備驅(qū)動(dòng)被測(cè)器件，器件的響應(yīng)可與邏輯值、存貯的響應(yīng)
或用戶編程的存貯響應(yīng)相比較。
——測(cè)試接口
40個(gè)通道（基本配置），插入驅(qū)動(dòng)板后可擴(kuò)展到80個(gè)通道。
——在線功能測(cè)試（ICFT）
可編程的測(cè)試量程
測(cè)試量程低高
TTL 松 0-1.3V 1.5-5V
TTL 緊 0-0.8V 2.0-5V
CMOS 松 0-2.4V 2.6-5V
CMOS 緊 0-1.5V 3.5-5V
在電流為200mA，頻率為250KHz條件下。

測(cè)試器件庫(kù)
內(nèi)含測(cè)試程序超過(guò)3000個(gè)TTL、CMOS、ECL技術(shù)芯片，包括LSI和存貯器芯片。

可編程的測(cè)試輸入
具有8個(gè)可編程控制針腳的20/40針測(cè)試夾，提供高達(dá)±12V、200mA，若需要可提供更多針
腳
數(shù)的測(cè)試夾。

可編程的被測(cè)器件電源
zui大可達(dá)到12V、5A。若需要更大的電流（高達(dá)10A）和其它的電壓值。要使用外加電源。

電阻/電容測(cè)量
電阻量程： 100Ω-300Ω（誤差容限 ±5%）
10Ω-100Ω（誤差容限 ±10%）
<10Ω 短路
電容量程： 1μF到10μF（誤差容限 ±5%）
電壓測(cè)量： zui大的被測(cè)器件電源電壓

讀數(shù)指示
邏輯波形和結(jié)果顯示在顯示器上，可采用屏幕打印輸出
——VI曲線
測(cè)試方式：測(cè)試存貯
測(cè)試波形：24Vpp （1.2mA）
源阻抗：1kΩ
測(cè)試輸入：20/40針測(cè)試夾或探針
讀數(shù)顯示：波形和結(jié)果顯示在顯示屏上，可采用屏幕打印輸出
——電路追蹤
IC連接：存貯被測(cè)板的標(biāo)示圖
原理圖產(chǎn)生：將所學(xué)習(xí)的IC連接數(shù)據(jù)裝入EE設(shè)計(jì)器CAD軟件包內(nèi)，產(chǎn)生原理圖，這
種用途需要CAD軟件，作為選件提供。
——電源需求
110V/220V，47-63Hz，200VA
——物理特性
體積：460×300×390mm 重量：28公斤

　相關(guān)資料下載：

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