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當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> AT510X40-40路電阻測(cè)試儀
AT510X40 是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,測(cè)試范圍從1μΩ~3MΩ,zui大顯示30,000數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)10ms/次,AT510X20 40路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)4000個(gè)器件的測(cè)試。 配備Handler接口,將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。 配備RS-232C接口,*受控的指令集,*實(shí)現(xiàn)與計(jì)算機(jī)通訊。 | |||||||||||||||||||||||||
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技術(shù)規(guī)格 | |||||||||||||||||||||||||
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性能特征 | |||||||||||||||||||||||||
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應(yīng)用 | |||||||||||||||||||||||||
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