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KLA先進(jìn)的探針式臺階儀Alpha-Step D-600,帶有電動載物臺。可測量納米級至1200um臺階高度,并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應(yīng)力。且其具有5....
Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。Alpha-Step臺階儀光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測...
這款XRD設(shè)備是由美國NASA用于火星探測目的研制。2009年正式軍用轉(zhuǎn)民用,榮獲了2010年美國宇航局大獎,被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、采礦、金屬、材料、石油化工、醫(yī)藥...
TEAM™ EDS X-射線顯微分析系統(tǒng)是一個智能化交互式的能譜分析系統(tǒng)。將能譜分析理論與專家的實(shí)踐經(jīng)驗相結(jié)合,自動地設(shè)置Z佳工作條件或提出建議、警...
作為納米結(jié)構(gòu)的基本組成單元,團(tuán)簇或納米顆粒在納米科學(xué)中具有關(guān)鍵的地位。我們設(shè)計研制了兩套氣體聚集型團(tuán)簇源:基于熱蒸發(fā)的氣體聚集團(tuán)簇束流源和磁控等離子體聚集型團(tuán)簇...
脈沖激光沉積(PLD)是一種用途非常廣泛的薄膜及納米結(jié)構(gòu)的制備方法。其已成功地應(yīng)用于各種復(fù)雜氧化物、氮化物和多元素材料等的薄膜制備。近年來,激光薄膜制備已發(fā)展到...
德國SURFACE公司自1993年起就從事脈沖激光沉積鍍膜系統(tǒng)(PLD)的研發(fā)和制造工作,在這期間SURFACE公司不但向市場提供了標(biāo)準(zhǔn)的PLD系統(tǒng),而且也提供...
日本Kosaka輪廓儀(臺階儀)ET4000是Kosaka公司推出的全自動接觸式微細(xì)形狀測定儀,具有高精確性、穩(wěn)定性和重復(fù)性,可測量FPD、晶片、磁盤,和與納米...
可以實(shí)現(xiàn)納米級紅獲得樣品化學(xué)性質(zhì)、接觸共振獲得樣品力學(xué)性能、原子力顯微鏡獲得樣品三維形貌、納米熱學(xué)分析獲得樣品熱量傳輸溫度。
IKOsizer MINI 是一款測量納米粒子的大小,擴(kuò)散系數(shù)和反應(yīng)式中的分子量的儀器。該分析儀以動態(tài)光散射(光子雙關(guān)頻譜法)為基礎(chǔ)。該設(shè)備通過標(biāo)準(zhǔn)ISO 22...
IKOSIZER CC系列儀器是以動態(tài)光散射(光子雙關(guān)頻譜法)為基礎(chǔ)的。這項技術(shù)適用于測量納米粒子大小,擴(kuò)散系數(shù)和溶解中的高分子聚合物的分子量。另外,還有靜態(tài)光...
FemtoTools是一家瑞士的高科技公司。它提供優(yōu)秀的超高精確度儀器,用以在微納米領(lǐng)域的機(jī)械測試和機(jī)械手操作。新一代的儀器迎合了半導(dǎo)體科技,微系統(tǒng)發(fā)展,材料學(xué)...
FemtoTools是一家瑞士的高科技公司。它提供優(yōu)秀的超高精確度儀器,用以在微納米領(lǐng)域的機(jī)械測試和機(jī)械手操作。新一代的儀器迎合了半導(dǎo)體科技,微系統(tǒng)發(fā)展,材料學(xué)...
Solver LS不僅是一種用于科學(xué)研究領(lǐng)域的*解決方案,同時也可用于工業(yè)檢測。使用這種采用*技術(shù)的工具,您可以在直徑250毫米(300mm可選)高度15mm的...
裝有一個帶集成電容傳感器的可替換掃描器,可獲得100x100x12μm的掃描范圍。 100x100x10 的掃描范圍 集成的位置傳感器可得到高的掃描線性度 倒置...
本產(chǎn)品適用于裝放精密電子元件、濾光片,透鏡,晶體及芯片等光學(xué)產(chǎn)品、儀器耗材。這一系列的包裝盒都有三種顏色:全透--蓋子和底部都是透明的,半透--蓋子是透明的,底...
該膜為無機(jī)膜,由一種特殊形式的非晶氧化鋁膜構(gòu)成,這種膜具有均勻分布的納米孔結(jié)構(gòu),其厚度、孔徑、孔間距、孔隙率等均高度可控。
高分辨率納米壓印模板(Mold for nanoimprint lithography)采用*制造工藝,可把平面納米壓印拓展到任意曲面。標(biāo)準(zhǔn)模板分為三類:Qua...
產(chǎn)品類型:白光、共軛焦、非接觸μSurf結(jié)合CCD的影像攝取,以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞,再將物鏡垂直移動,以類似斷層攝影方式,精確量測物體高度(如下...
μScan采用模塊化設(shè)計,特點(diǎn)是快速測量、不接觸、不破壞、自動化,μScan的中心部件掃描模塊(x/y方向樣品掃描)可以和不同的傳感器,(Z方向測量)連用,如C...
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