質(zhì)檢總局發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)GB/T18043《貴金屬首飾含量的無(wú)損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來(lái)進(jìn)行貴金屬含量的無(wú)損檢測(cè)方法。
目前在貴金屬制造行業(yè)已經(jīng)形成大規(guī)模使用X熒光光譜儀(XRF)來(lái)測(cè)試貴金屬含量。
XRF對(duì)貴金屬檢測(cè)的*優(yōu)勢(shì)
標(biāo)準(zhǔn):產(chǎn)品符合相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),并通過(guò)等相關(guān)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)檢驗(yàn),并可以提供校準(zhǔn)證書;
快速:對(duì)樣品無(wú)需前處理,一般只需要20~200秒即可判定金、銀、鉑、鈀等含量,方便對(duì)飾品做大量抽樣的檢測(cè);
:ppm級(jí)度,可靠的檢測(cè)數(shù)據(jù);
無(wú)損:測(cè)試前后,樣品無(wú)任何形式的變化;
直觀:實(shí)時(shí)譜圖,可直觀顯示貴金屬或有害元素含量;
簡(jiǎn)易:操作簡(jiǎn)易,無(wú)需專業(yè)測(cè)試人員,無(wú)需嚴(yán)格的測(cè)試條件;
安全:三重保護(hù)裝置,確保安全無(wú)誤;
經(jīng)濟(jì):測(cè)試過(guò)程基本不需要任何耗材,降低測(cè)試與維護(hù)費(fèi)用;
可靠:為化學(xué)分析提供測(cè)量依據(jù),減少成本,提率。
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