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        1. 邁可諾技術有限公司

          主營產品: 美國Laurell勻膠機,WS1000濕法刻蝕機,Cargille光學凝膠,EDC-650顯影機,NOVASCAN紫外臭氧清洗機

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          勻膠機/勻膠旋涂儀

          濕法刻蝕顯影清洗系統(tǒng)

          掩膜曝光光刻機

          狹縫涂布儀

          烤膠機/熱板

          快速退火爐

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          紫外固化機/紫外固化箱

          紫外臭氧清洗機

          等離子清洗機

          超聲波清洗機

          等離子去膠機

          原子層沉積系統(tǒng)

          光學膜厚儀

          探針臺

          壓片機/液壓機

          制樣機

          接觸角測角儀

          手持式表面分析儀

          干冰清洗機

          顯微鏡檢測系統(tǒng)

          程序剪切儀

          光學試劑

          韓國波導樹脂

          環(huán)氧樹脂

          鈣鈦礦材料

          光刻膠

        2. 碳紙
        3. 防潮箱

          馬弗爐

          培養(yǎng)箱

          蠕動泵

          熱循環(huán)儀

          離心機

          手套箱

          天平

          鍵合機

          紫外交聯(lián)儀

          膜厚監(jiān)測儀

          離子濺射儀

          攪拌脫泡機

          橢偏儀

          自動涂膜器

          分光光度計

          點膠機

          噴涂機

          晶圓片

          密度測試儀

          臨界點干燥儀

          光譜儀

          太陽光模擬器

          干燥機

          Norland膠水

          真空回流焊爐

          過濾器

          切割機

          電鏡耗材

          Alconox清潔劑

          有機光伏材料

          鈣鈦礦界面材料

          Rondol擠壓機

          切割設備

          超聲波細胞粉碎機

          低溫水循環(huán)

          水浴油浴

          蒸發(fā)器

          凍干機

          剝離器

          紫外掩膜曝光系統(tǒng)

          涂布機

          恒電位儀

          源測量單元

          太陽能電池IV測試系統(tǒng)

          太陽模擬器

          LED測量系統(tǒng)

          顯微鏡

          干燥箱

          霍爾效應測試儀

          芯片熱管理分析系統(tǒng)

          公司信息

          聯(lián)人:
          葉盛
          話:
          4008800298
          機:
          13681069478
          真:
          址:
          洪山區(qū)珞獅南路147號未來城A棟
          編:
          化:
          www.mycro.net.cn
          網(wǎng)址:
          www.mycro.cn
          鋪:
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          MC方案|如何精確快速無損測量多層鈣鈦礦薄膜厚度?

          2022-7-27  閱讀(1471)

          鈣鈦礦廣泛用于太陽能電池的開發(fā)。由于這些類型的太陽能電池具有良好的光伏性能,因此對它們進行了系統(tǒng)的研究。鈣鈦礦薄膜的厚度和形態(tài)是影響太陽能電池性能的重要因素。人們發(fā)現(xiàn),特別當鈣鈦礦的厚度小于400nm時,鈣鈦礦太陽能電池的效率很大程度上取決于薄膜厚度;而當鈣鈦礦的厚度大于400nm時,效率則很大程度上取決于鈣鈦礦層的薄膜形態(tài)。在本篇方案說明中,我們使用FR-pRo VIS/NIR測量鈣鈦礦薄膜的厚度。


          圖片

          FR-pRo VIS/NIR

           

          測量方法:用于表征的樣品是兩種不同厚度的CH3NH3PbBr3鈣鈦礦薄膜,它們位于標準ITO/SiO2/Soda-lime基底上,如圖1所示。使用ThetaMetrisis FR-pRo VIS/NIR進行反射測量,在350-1020nm的光譜范圍內操作。


          圖片

          圖1.基底示意圖

           

          結果:兩種樣品的典型獲得的反射光譜(黑線)和擬合的反射光譜(紅線),如FR監(jiān)控軟件所示,分別在圖2a 和 圖2b中所示。兩種測量方法的擬合在500-750nm光譜范圍內進行,樣品1中鈣鈦礦薄膜的厚度在516.9nm處測量,而樣品2中的厚度在394.4nm處測量。


          圖片

          圖2a:樣品1的實驗和擬合反射光譜,在515nm處測得的厚度。 

           

           

          圖2b:樣品2的實驗和擬合反射光譜,在392nm處測得的厚度。   


          膜厚儀操作便捷,分析結果快速準確,多款型號,可滿足廣泛的應用范圍,后期我們將持續(xù)為您推送更多實際應用案例,希望幫助您達到實驗結果化。

           

           

          膜厚儀免費測樣服務


           

           

          FR-Pro系列膜厚儀 是基于光的反射光譜,非接觸、無損測量、安全*輻射,快速膜厚分析,只需幾秒即可獲得測量結果。測量范圍 1nm - 300μm;的分析準確度,在整個厚度測量范圍內偏差小于 1nm;可同時分析計算最多10層膜厚;可同時支持實驗室離線分析或者在線生產分析。

          可應用范圍:半導體、有機電子、聚合物、涂料、光伏、生物傳感、化學傳感……

           

          我司測試中心有一臺樣機,型號:基礎型膜厚儀FR-Pro VIS/NIR(370-1000nm),可提供免費測樣服務,如需測樣請點擊下方“閱讀原文”,填寫提交 膜厚儀測樣服務申請表。

          (*由于在疫情期間,目前測樣只預登記報名,實際測樣待*恢復后進行。)


          獲取暗光譜→放置樣片→擬合光譜→軟件計算→獲得厚度值。輕松幾步完成測試......

           

           
           
           
           

           


           

           



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