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          目錄:孚光精儀(中國)有限公司>>表面微納測量>>橢偏儀>> FPANG-DUV-VIS-NIR深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀

          深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀
          • 深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀
          參考價 面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          參考價 面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 品牌 其他品牌
          • 型號 FPANG-DUV-VIS-NIR
          • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
          • 所在地 上海市
          屬性

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          更新時間:2024-08-29 15:20:32瀏覽次數(shù):226評價

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          應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合
          深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀是覆蓋190nm-1700nm光譜范圍的DUV-VIS-NIR光譜橢偏儀,非常適合超薄薄膜厚度測量,納米薄膜膜厚測量應(yīng)用。

          深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀是覆蓋190nm-1700nm光譜范圍的DUV-VIS-NIR光譜橢偏儀,非常適合超薄薄膜厚度測量,納米薄膜膜厚測量應(yīng)用。
          DUV深紫外橢偏儀特別適合測量超薄薄膜,如納米厚度薄膜,典型例子是硅晶片上的自然氧化物薄膜,其薄膜厚度通常僅為約1nm-2nm。
          DUV深紫外橢偏儀還很適合測量許多材料的帶隙。
          可見近紅外范圍VIS-NIR橢偏儀用于測量相對較厚的薄膜,也適合測量薄膜的光學(xué)常數(shù)。
          深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀產(chǎn)品特色
          使用基于Windows的軟件易于操作
          **的光學(xué)設(shè)計,實現(xiàn)***佳系統(tǒng)性能
          用于寬帶應(yīng)用的高功率DUV-VIS-NIR光源
          基于陣列的探測器系統(tǒng),確??焖贉y量
          用戶可以定義任意數(shù)量的圖層
          可用于實時或在線厚度、折射率監(jiān)測
          系統(tǒng)配有全面的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫和庫
          **的TFProbe 3.3.X軟件允許用戶對每張膠片使用NK表、色散或有效介質(zhì)近似(EMA)。
          三種不同的用戶級別控制:工程師模式、系統(tǒng)服務(wù)模式和易用用戶模式
          靈活的工程師模式,用于各種配方設(shè)置和光學(xué)模型測試
          強大的一鍵式(交鑰匙)解決方案,用于快速和常規(guī)測量
          可配置的測量參數(shù)、用戶偏*和易于操作
          系統(tǒng)的全自動校準(zhǔn)和初始化
          直接從樣品信號獲得精確的樣品對準(zhǔn)接口,無需外部光學(xué)元件
          精確的高度和傾斜調(diào)節(jié)
          適用于多種不同厚度的基材
          各種選項,可用于特殊配置的配件,如標(biāo)測臺、波長擴展、焦點等。
          2D和3D輸出圖形和用戶友*的數(shù)據(jù)管理界面
          深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀規(guī)格參數(shù)

          型號和波段

          SE200

          (DUV-Vis)

          SE300

          (Vis)

          SE450

          (Vis-Nir)

          SE500

          (DUV-Vis-Nir)

          探測器類型

          CCD或CMOS陣列

          CCD或CMOS陣列

          CCD或CMOS和InGaAs陣列

          CCD或CMOS和InGaAs陣列

          波長范圍

          190-1100nm

          370-1100nm

          370-1700nm

          190-1700nm

          波長數(shù)據(jù)點

          測量波長范圍和波長數(shù)據(jù)點均可訂購時選配(數(shù)據(jù)點僅受分辨率限制)

          波長分辨率

          0.01-3nm

          0.01-3nm

          0.01-3nm

          0.01-3nm

          光學(xué)選配根據(jù)應(yīng)用或客戶偏*進行步進掃描或旋轉(zhuǎn)偏振器/分析儀/減速器;使用PCSA或PSCA配置,可以測量完整的360度模型;還提供PCSCA雙減速器配置,用于16個全元件(4x4)Mueller Matrix測量

          數(shù)據(jù)采集時間

          100ms-10s,用戶可定義

          入射角范圍

          20-90度

          入射角分辨率

          5度-手動型調(diào)整配置
          0.001度-自動型橢偏儀配置(用訂購可選)

          偏光器件

          起偏器,檢偏器等

          光斑尺寸

          1-5mm孔徑可調(diào)

          光源

          (D2+TH)/Xe

          TH

          TH

          (D2+TH)/Xe

          燈泡壽命

          4000 hrs.

          10000 hrs.

          10000 hrs.

          4000 hrs.

          可測薄膜厚度

          ***高30 µm

          20nm-50 µm

          20nm-50 µm

          ***高50 µm

          測厚分辨率

          < 1? or 0.1% (with 200 ? thick SiO2onSi Standard, precision better than 0.2 ?)

          折射率精度

          0.0001

          測厚精度

          0.25%

          系統(tǒng)角度精度

          UV-Vis Range: Psi 45° ± 0.05°, Delta 0° ± 0.1° ; NIR Range: Psi 45° ± 0.1°, Delta 0° ± 0.2° 

          樣品臺

          黑色陽極氧化鋁合金真空吸盤,通常直徑為150x150mm或200mm;其他尺寸(如450mm)可根據(jù)要求或基于自動映射行程范圍進行配置

          Z-位移臺

          精密Z臺,典型行程范圍為12mm,用于樣品高度調(diào)節(jié),電動Z臺是可選的,行程范圍可定制高達50mm(~2英寸)

          Tilting傾斜校準(zhǔn)

          三點傾斜手動對準(zhǔn)機構(gòu)通常配備非標(biāo)測工具,電動自動傾斜可作為選項;對于自動測繪工具,提供無需進一步傾斜調(diào)整的預(yù)調(diào)平平臺。

          軟件

          標(biāo)配

          接口

          USB

          操作系統(tǒng)

          Both 32bit and 64 Bit, Win XP, 7, 8, 10,11

          計算機配置建議

          Intel i5, 500 GB space, 8GB RAM; 24" LCD Monitor or equivalent Laptop

          供電要求

          110– 240 VAC /50-60Hz, 3A

          平臺

          桌面式或原位配置

          重量/尺寸

          ~ 75kg / 38(L)x22(D)x34(H)"


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