目錄:孚光精儀（中國）有限公司>>激光光學(xué)類>>偏振光學(xué)器件>> FPTOK-Mueller穆勒矩陣偏振測量儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),電子 |
這款穆勒矩陣偏振測量儀Mueller Polarimeter采用斯托克斯偏振分析測試儀和Spectroscopic Polarimeter,可測量400nm~800nm范圍每個(gè)波長的偏振態(tài)。該穆勒矩陣偏振測量儀還具有雙折射偏振測試、斯托克斯偏振測試和映射mapping測量等功能，非常適合液晶顯示器、投影儀、偏振光學(xué)元件、偏振光學(xué)、晶體、生物樣品、熒光偏振等偏振態(tài)測量分析。
穆勒矩陣偏振測量儀Mueller Polarimeter特點(diǎn)
•無需校準(zhǔn),儀器在整個(gè)波長范圍內(nèi)進(jìn)行了校準(zhǔn)。
•波長分辨率高達(dá)2nm,采用分光計(jì)代替帶通濾波片。
•可測量發(fā)散角和散射光,不僅可以測量準(zhǔn)直光,還可以測量各種物質(zhì)發(fā)光和反射光。
•用戶友好軟件，控制軟件非常易用,便于用戶控制和查找結(jié)果,測量結(jié)果存儲(chǔ)在csv文件中。
各種偏振能力測量
•雙折射測量：在0～10萬nm量級范圍內(nèi)，可同時(shí)測量快軸方向和延遲量。
•穆勒矩陣測量：可以進(jìn)行更高水平的偏振分析。
•Mapping繪圖能力:自動(dòng)XY工作臺(tái)可選配,方便樣品偏振特性的分布。
客戶訂制化系統(tǒng)
我們可以對標(biāo)準(zhǔn)斯托克斯偏振測量儀 按照客戶要求進(jìn)行定制,比如紫外-近紅外（UV-NIR）偏振態(tài)測量儀、用于測量微弱光的高靈敏度斯托克斯偏振測量儀系統(tǒng)、連接到顯微鏡上的斯托克斯偏振測量儀系統(tǒng)等等。
偏振樣品的高級分析
利用外加的偏振態(tài)發(fā)生器（PSG）和軟件可以測量樣品的偏振特性。穆勒矩陣偏振測量儀Mueller Polarimeter的PSG和測量頭單元可自由布置。它為需要構(gòu)建適合多種應(yīng)用的測量系統(tǒng)的用戶提供了方便。從測量的幾個(gè)stokes參數(shù)可以計(jì)算出如下偏振特性。
線二色性——線偏振光吸收
圓二色性——圓偏振光的吸收
線性雙折射——相移（線性?圓偏振）
旋光——線偏振的旋轉(zhuǎn)
去極化——降低DOP的能力
穆勒矩陣偏振測量儀Mueller Polarimeter規(guī)格
測量參數(shù) 斯托克斯參數(shù)（S0，S1，S2，S3），橢圓度，偏振方向，偏振度（DOP，DOLP，DOCP），偏振消光比
數(shù)據(jù)繪圖 圖形（波長v.s.參數(shù)），圖形（數(shù)據(jù)點(diǎn)v.s.參數(shù)數(shù)量），龐加萊球，Ellips視圖，警報(bào)（低光，飽和時(shí)）
特色功能 單次掃描，連續(xù)掃描，確認(rèn)掃描，自動(dòng)曝光
斯托克斯偏振計(jì)
波長范圍 400～800nm
波長分辨率 <2nm
波長數(shù) 1500
最小測量時(shí)間 6秒
高精度模式測量時(shí)間 >20秒
精度 <2%
重復(fù)精度 0.01@3σ（斯托克斯參數(shù)）
方向精度 ±0.2度（基準(zhǔn)面為底面）
測量原理 波片旋轉(zhuǎn)、波片和分析儀旋轉(zhuǎn)
雙折射偏振計(jì)
原理 雙斯托克斯數(shù)據(jù)分析
波長 與斯托克斯偏振計(jì)相同
測量時(shí)間 斯托克斯測量值的2倍
遲滯范圍 0～λ/2納米，使用擬合方法，最大值為100000nm
快速軸范圍 ±90度
重復(fù)性 1度（延遲）
穆勒矩陣偏振計(jì)
原理 四斯托克斯數(shù)據(jù)分析
波長 與斯托克斯偏振計(jì)相同
測量時(shí)間 斯托克斯測量值的4倍
重復(fù)性 ±0.01（16個(gè)矩陣元素）
數(shù)據(jù)分析 線性二向衰減,圓形二向衰減，線性雙折射，圓雙折射，去偏振
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
員.png)
8
化工儀器網(wǎng)