半自動(dòng)晶圓清洗機(jī) 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)晶圓清洗機(jī)UH117型是半自動(dòng)晶片清潔系統(tǒng),專(zhuān)業(yè)為為鋸切或劃線(xiàn)后的晶片清潔而設(shè)計(jì)。
光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀是專(zhuān)業(yè)為光伏太陽(yáng)能領(lǐng)域的薄膜測(cè)量而開(kāi)的手動(dòng)光伏橢偏儀，這款為光伏薄膜測(cè)量研究提供便利，具有實(shí)時(shí)測(cè)量薄膜厚度和薄膜厚度繪圖的*功能。它采用...
反射式光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長(zhǎng)范圍，可與顯微分光光度計(jì)聯(lián)合使用，測(cè)量極小斑點(diǎn)的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導(dǎo)體晶圓等領(lǐng)域,...
自動(dòng)光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款自動(dòng)光譜橢偏儀M300是一種自動(dòng)變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長(zhǎng)范圍，并具有自動(dòng)改變?nèi)肷浣堑墓δ?。自?dòng)spectroscop...
三腔室分子束外延系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
三腔室分子束外延系統(tǒng)是帶有三個(gè)MBE分子束外延生長(zhǎng)腔室的異質(zhì)結(jié)材料MBE生長(zhǎng)設(shè)備,可用于在高達(dá)∅100mm的襯底上以及三個(gè)2英寸以上襯底上一次精確生...
混合異質(zhì)結(jié)構(gòu)分子束外延系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
混合異質(zhì)結(jié)構(gòu)分子束外延系統(tǒng)具有雙反應(yīng)器,非常適合А3В5和А2В6異質(zhì)結(jié)構(gòu)生長(zhǎng)應(yīng)用,也可用于epi晶圓研發(fā)和試生產(chǎn)。
高壓PVD系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
高壓PVD系統(tǒng)配置適合在晶圓濺射金屬膜,磁性材料,多組分氧化物,得益于它靈活的配置和特殊的晶圓加熱器設(shè)計(jì),PVD可以在溫度最高900℃的襯底上濺射金屬膜層和磁性...
電子束蒸發(fā)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
電子束蒸發(fā)系統(tǒng)是按照“從實(shí)驗(yàn)室到工廠"的方法設(shè)計(jì)的電子束鍍膜蒸發(fā)系統(tǒng),既適用于密集的研發(fā)活動(dòng)，也適用于中試生產(chǎn)。
超高真空開(kāi)爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
超高真空開(kāi)爾文探針系統(tǒng)幫助用戶(hù)充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測(cè)量。每個(gè)系統(tǒng)都配有高質(zhì)量的手動(dòng)或電動(dòng)轉(zhuǎn)換器，可實(shí)現(xiàn)可靠和準(zhǔn)確的針尖到樣品定位，跟蹤...
太陽(yáng)能電池i-v測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
太陽(yáng)能電池i-v測(cè)試系統(tǒng)是專(zhuān)業(yè)為光伏器件特性測(cè)量設(shè)計(jì)的太陽(yáng)能電池i-v測(cè)量系統(tǒng)。測(cè)量太陽(yáng)能電池的電流-電壓曲線(xiàn)，然后自動(dòng)計(jì)算關(guān)鍵器件屬性。此外，I-V測(cè)量可以隨...
四點(diǎn)探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款四點(diǎn)探針系統(tǒng)用于快速測(cè)量材料的片電阻、電阻率和電導(dǎo)率。系統(tǒng)包括一個(gè)四點(diǎn)探針、源測(cè)量單元和易于使用的PC軟件。不適用于測(cè)量形成天然絕緣氧化物（如硅）的材料的性...
超高真空超低溫四探針SPM 參考價(jià)：面議
這超高真空超低溫四探針SPM是超高真空室內(nèi)應(yīng)用設(shè)計(jì)的UHV極低溫多探針掃描探針顯微鏡，得益于多探針SPM優(yōu)異性能,這款產(chǎn)品可用于納米技術(shù)
單點(diǎn)開(kāi)爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
我們的單點(diǎn)開(kāi)爾文探針系統(tǒng)采用非零信號(hào)檢測(cè)方法對(duì)材料的功函數(shù)/費(fèi)米能級(jí)進(jìn)行非常高質(zhì)量的測(cè)量。
太陽(yáng)能電池I-V測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
太陽(yáng)能電池I-V測(cè)試儀能夠高精度高效率地測(cè)量太陽(yáng)能I-V曲線(xiàn)和Suns-Voc數(shù)據(jù)，可高精度測(cè)量傳統(tǒng)太陽(yáng)能電池和背接觸太陽(yáng)能電池。
Suns-Voc后擴(kuò)散測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
Suns-Voc后擴(kuò)散測(cè)試儀是Suns-Voc后擴(kuò)散過(guò)程控制的理想儀器，適合用于漿料燒結(jié)優(yōu)化和過(guò)程控制。
高分辨率晶圓厚度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
高分辨率晶圓厚度測(cè)試儀能夠高精度測(cè)量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達(dá)10nm,可滿(mǎn)足不同的晶圓厚度范圍。
微探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款微探針系統(tǒng)micro probe是為材料光學(xué)特性和電特性測(cè)試設(shè)計(jì)的納米級(jí)微納探針儀器,可以結(jié)合顯微鏡,光譜儀等儀器在各種環(huán)境條件下現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試材料電學(xué)和光學(xué)特性...
納米操縱系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
納米操縱系統(tǒng)采用納米探針模塊nanoprober為顯微鏡或電鏡下微納操作提供納米級(jí)微操縱方案,非常適合SEM和各種電鏡樣品微操作使用
晶圓裝卸操作臺(tái) 參考價(jià)：面議
晶圓裝卸操作臺(tái)是專(zhuān)業(yè)為4英寸晶圓裝卸,晶圓搬運(yùn),晶圓取放等晶圓操作操縱設(shè)計(jì)的晶圓裝卸定位臺(tái)系統(tǒng)。它采用XYZ三維定位臺(tái)和360度旋轉(zhuǎn)臺(tái)集成而成。
電鏡熒光屏 參考價(jià)：面議
這款電鏡熒光屏與電鏡光導(dǎo)聯(lián)合使用用于電鏡探測(cè)和電鏡成像，電鏡熒光片采用進(jìn)口閃爍單晶，具有熒光轉(zhuǎn)換效率高，壽命長(zhǎng)的特點(diǎn)，是SEM掃描電鏡探測(cè)成像和TEM透射電鏡探...
磁場(chǎng)消除系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款磁場(chǎng)消除系統(tǒng)專(zhuān)業(yè)為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設(shè)計(jì)的消磁儀器和磁場(chǎng)補(bǔ)償系統(tǒng),有效屏蔽消除磁場(chǎng)噪聲問(wèn)題,為電子顯微鏡,電子和離子束實(shí)驗(yàn),磁共振成像...
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺(tái) 參考價(jià)：面議
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺(tái)VAN DER WAALS是為半導(dǎo)體芯片不同材料在位置的堆積過(guò)程研究設(shè)計(jì)的范德瓦爾斯位移臺(tái)。
C-V/I-V特性測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
C-V/I-V特性測(cè)試儀是為半導(dǎo)體C-V特性分析測(cè)試和I-V特性測(cè)試分析設(shè)計(jì)的C-V/I-V測(cè)試系統(tǒng)。
混凝土掃描儀 參考價(jià)：面議
這款混凝土掃描儀是專(zhuān)業(yè)為鋼筋混凝土掃描設(shè)計(jì)混凝土鋼筋掃描儀,能夠掃描處混凝土內(nèi)的鋼筋,管線(xiàn)和空隙,查找鋼筋和管道走向,避免施工切割到鋼筋和管線(xiàn)。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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