LightWing光學(xué)系統(tǒng)

分析儀內(nèi)部的光學(xué)系統(tǒng)布局的設(shè)計已*改變。儀器包含多塊檢測器，并將探測器放在單一焦平面上。這能大幅提高分辨率，重新設(shè)計的光學(xué)系統(tǒng)也能減少外殼的整體體積。這反過來能減少操作過程中的氬氣消耗量，有助于降低成本。另一個好處是啟動時間更短，有助于提高生產(chǎn)率。

CMOS檢測器技術(shù)

如前文所述，我們已經(jīng)包含多個以特定方式配置的檢測器。但這還不是全部，實際上我們還重新設(shè)計了檢測器，并使用CMOS技術(shù)。這使每個檢測器的分辨率和動態(tài)范圍更高，意味著與傳統(tǒng)CCD檢測器相比，我們需要的探測器數(shù)量更少?，F(xiàn)代CMOS技術(shù)在極低檢出限下也很穩(wěn)定，是OE系列所具備的ppm范圍檢測能力的一個因素。

重新設(shè)計的火花光源降低能耗成本

火花直讀光譜儀的用戶知道，火花本身會產(chǎn)生大量熱，并消耗大量電能。我們減少了OE系列所需的余熱和能量，從而提高電光轉(zhuǎn)換效率，降低運(yùn)行成本。這也意味著我們可以納入一個直流電源，用于隔離儀器主電源——這一點(diǎn)很重要，因為如果主電源波動的話會影響性能。

通過減少維護(hù)以優(yōu)化環(huán)境穩(wěn)定性

由于獲得在OE系列的設(shè)計中進(jìn)行整體改變的機(jī)會，由此我們能夠觀察技術(shù)的各個方面，包括氬氣如何隨著時間的推移而影響結(jié)果。我們知道，對于非常短的波長（小于200nm），光強(qiáng)會逐漸降低，因此很難獲得某些元素的結(jié)果。OE750通過使用中壓力氬氣凈化系統(tǒng)克服了這一點(diǎn)，該環(huán)境隨著時間推移提供更好的穩(wěn)定性和強(qiáng)度。這意味著系統(tǒng)可以用無油泵運(yùn)行，從而降低功耗并減少標(biāo)準(zhǔn)化的需要。

火花臺是單獨(dú)的密封裝置

火花臺的任何泄漏或連接不*都會影響儀器性能。如果火花臺中進(jìn)入空氣，會影響結(jié)果，進(jìn)入灰塵會增加清潔的需要。解決辦法是將光學(xué)系統(tǒng)和火花臺密封在單臺裝置中，使空氣或灰塵無法進(jìn)入。這也可以使等離子體源更好地傳導(dǎo)到檢測器上，從而提高分辨率。已對密封裝置的氬氣流進(jìn)行優(yōu)化，這也有助于降低氬氣消耗量。

OE系列的上述技術(shù)創(chuàng)新可使用戶在價格合理的儀器中獲得全面ppm級性能的金屬分析，運(yùn)營成本也得以降低。

OE系列：兩種分析儀可供選擇

OE系列的兩種儀器都受益于相同的高性能和*的成本效益。OE720非常適合低檢出限，或者可選擇OE750達(dá)到更低的檢出限，并為用戶的工具包添加氮、氧或氫分析功能。