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應用領域 |
環(huán)保,化工,電子,汽車,電氣 |
MHY-28966系列 介電常數(shù)測試儀由頻阻抗分析儀、測試裝置,標準介質(zhì)樣品組成,能對緣材料行低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
介電常數(shù)測試儀 型號:MHY-28966
MHY-28966系列 介電常數(shù)測試儀由頻阻抗分析儀、測試裝置,標準介質(zhì)樣品組成,能對緣材料行低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
MHY-28966系列作頻率范圍是20Hz~1MHz,它能成作頻率內(nèi)對緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。
MHY-28966系列中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器般用來夾被測樣品,配用頻阻抗分析儀作為示儀器。緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp(電容值)讀數(shù)通過公式計算得到。
1 點:
◎ 頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示,保證了ε和D值度和重復性。
◎ 介電常數(shù)測量范圍可達1~105
2 主要標:
2.1 ε和D性能:
2.1.1 固體緣材料測試頻率20Hz~1MHz的ε和D變化的測試。
2.1.2 ε和D測量范圍:ε:1~105,D:0.1~0.00005,
2.1.3 ε和D測量度(10kHz):ε:±2% , D:±5%±0.0001。
作頻率范圍
100Hz~100kHz(6個頻點)
度:±0.05%
20Hz~1MHz
數(shù)字合成,度:±0.02%
電容測量范圍
0.0001pF~99999μF
四位數(shù)顯
0.00001pF~9.99999F
六位數(shù)顯
電容測量基本誤差
±0.05%
±0.05%
損耗因素D值范圍
0.0001~9.9999
四位數(shù)顯
0.00001~9.99999
六位數(shù)顯
2.3 HAD-Y916B 介電常數(shù)測試裝置(含保護電)
2.3.1 平板電容器片尺寸:Φ38mm和Φ50mm二種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:0~8mm, ±0.001mm
2.3.3插頭間距:與電橋四端配合
加溫控溫裝置(選購設備)可以成zui200℃控溫度l℃加熱測試
HAD-Y918 介電常數(shù)測試裝置提供四種不同直徑測試電,能對直徑φ10~56mm,
厚度<10mm的試樣測量。它針對不同試樣可設置為接觸電法,薄膜電法和
非接觸法三種,以適應軟材料,表面不平整和薄膜試樣測試。
2.4.1 微分頭分辨率:10μm
2.4.2 zui耐壓:±42Vp(AC+DC)
2.4.3 電纜長度設置:1m
2.4.4 zui使用頻率:30MHz
2.5 頻介質(zhì)樣品(選購件):
在現(xiàn)行頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定為頻介質(zhì)損耗測量儀
提供的測量標準是頻標準介質(zhì)樣品。該樣品由人藍寶石,石英玻璃,
氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。
用戶可按需訂購,以保證測試裝置的重復性和準確性。
2.6 MHY-28966系列 配置
配置類型
普及型
標準型
型
電橋作頻率范圍
100Hz~100kHz
度:±0.02%
50Hz~1MHz
度:±0.02%
50Hz~1MHz
度:±0.02%
配置型號
WY2817數(shù)字電橋
+WY916B測試裝置
WY2818A頻阻抗分析儀
+WY916B三電測試裝置
WY2818A頻阻抗分析儀
+WY918測試裝置
(能適宜各種樣品)
介電常數(shù)范圍
1-10000
度:±5%
1-10000
度:±2%
1-10000
度:±2%
損耗因素D值范圍
0.0001~9.9999
四位數(shù)顯
0.00001~9.99999
六位數(shù)顯
0.00001~9.99999
六位數(shù)顯