日本三豐粗糙度儀SJ-210驅(qū)動(dòng)維修，勒豐精密儀器主要代理品牌有：日本三豐，德國(guó)馬爾，瑞士TRIMOS，日本美能達(dá)，德國(guó)尼克斯，日本Nikon，日本索尼，日本必佳，瑞士TESA，日本東日，德國(guó)BYK，日本得樂(lè)，溫州山度，成都成量，沈陽(yáng)天星，中國(guó)臺(tái)灣萬(wàn)濠，山東華銀硬度計(jì)，北京時(shí)代等，涵蓋長(zhǎng)度類(lèi)、力學(xué)類(lèi)、光學(xué)類(lèi)、物理化學(xué)、表面涂裝、涂料檢驗(yàn)儀器等方面。

蘇州勒豐精密儀器有限公司（德日維修部）專(zhuān)業(yè)從事日本三豐，德國(guó)馬爾等品牌，以“質(zhì)量*”為宗旨，向廣大市場(chǎng)提供千分尺，卡尺等量具；三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，形狀測(cè)量系統(tǒng)，視像測(cè)量系統(tǒng)，光學(xué)儀器等系統(tǒng)精密測(cè)量?jī)x以及專(zhuān)業(yè)維修服務(wù)中心。公司技術(shù)力量雄厚，多名工程師都是來(lái)自世界*的量具生產(chǎn)企業(yè)，配件采用日本*，計(jì)量試驗(yàn)室儀器都是進(jìn)口測(cè)量?jī)x器，為客戶(hù)解決維修后精度不良的后顧之憂(yōu)，品質(zhì)服務(wù)由計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)部門(mén)支持并出具相關(guān)維修產(chǎn)品的檢測(cè)報(bào)告，并與日本三豐“Mitutoyo”總代理建立有長(zhǎng)期穩(wěn)定的合作關(guān)系。是大陸地區(qū)專(zhuān)業(yè)的量具量?jī)x銷(xiāo)售及維修服務(wù)商之一。

      專(zhuān)業(yè)維修卡尺、高度尺、千分表、百分表、千分尺、內(nèi)外徑量表、測(cè)厚規(guī)，粗糙度儀，2D測(cè)高儀，工具顯微鏡等。
服務(wù)承諾： 提供免費(fèi)上門(mén)取件  提供免費(fèi)檢測(cè)故障   提供2日內(nèi)快修服務(wù)
質(zhì)量保證： 維修產(chǎn)品精度符合國(guó)家精度標(biāo)準(zhǔn)
保修期限： 非人為損壞，同類(lèi)故障保修3個(gè)月

日本三豐粗糙度儀常見(jiàn)問(wèn)題排除法

如果觸摸屏上出現(xiàn)一條錯(cuò)誤信息，查找如下列表，識(shí)別錯(cuò)誤尋求合適的處理方法。根據(jù)信息或關(guān)閉窗口按‘OK“鍵鍵或其它鍵。然后針對(duì)錯(cuò)誤采取必要的措施。
特征/錯(cuò)誤信息可能存在的原因處理方法
電池不能充電●SJ-400用交流適配器連接電流時(shí)忘了關(guān)掉。
●電池開(kāi)關(guān)被關(guān)掉。
●內(nèi)置電池出現(xiàn)損壞了（變質(zhì)）。
●內(nèi)置電池過(guò)度放電?！翊蜷_(kāi)SJ-400，檢果電池圖標(biāo)以確保顯示圖標(biāo)指明“Be charged在充電”
●打開(kāi)電池開(kāi)關(guān)
●用新的電池代替舊的。
●充電。
不能運(yùn)行自動(dòng)睡眠●RS-232C交流還在運(yùn)行。
●執(zhí)行統(tǒng)計(jì)過(guò)程。
●交流適配器還在連接。
●自動(dòng)睡眠功能設(shè)定為OFF。沒(méi)問(wèn)題。在RS-232C交流和統(tǒng)計(jì)過(guò)程期間自動(dòng)睡眠是無(wú)效的。按“POWER”鍵關(guān)掉電源就可以了。
觸摸屏顯示不清晰對(duì)比度調(diào)整不適當(dāng)。打開(kāi)顯示器裝置后面的對(duì)比度控制按鈕，適當(dāng)調(diào)整對(duì)比度。
按鍵或觸摸屏不能使用●RS-232模式還在運(yùn)行
●鍵的屏蔽產(chǎn)生作用。●關(guān)掉RS-232C開(kāi)關(guān)。
●關(guān)掉鍵屏蔽開(kāi)關(guān)。
存儲(chǔ)器錯(cuò)誤1錯(cuò)誤位置：在內(nèi)部存儲(chǔ)器中開(kāi)機(jī)自檢錯(cuò)誤。
存儲(chǔ)器錯(cuò)誤2錯(cuò)誤位置：內(nèi)部存儲(chǔ)器中內(nèi)部存儲(chǔ)數(shù)據(jù)領(lǐng)域錯(cuò)誤
系統(tǒng)錯(cuò)誤1錯(cuò)誤位置：在輸入信號(hào)線路中自檢錯(cuò)誤。
SPC錯(cuò)誤1錯(cuò)誤位置：帶SPC裝置輸出SPC數(shù)據(jù)交流錯(cuò)誤適當(dāng)?shù)闹匦逻B接SPC連接線。打開(kāi)電源進(jìn)入數(shù)據(jù)處理器。
打印錯(cuò)誤1錯(cuò)誤位置：打印機(jī)沒(méi)有紙，不能接收打印輸出要求增加紙張，再按一次PRINT
打印錯(cuò)誤2錯(cuò)誤位置：打印機(jī)的機(jī)頭出現(xiàn)錯(cuò)誤增加紙張，轉(zhuǎn)動(dòng)拉桿。
打印錯(cuò)誤3錯(cuò)誤位置：自動(dòng)打印機(jī)如果電池剩余電量不到40—20%，充電。
關(guān)閉電源，等幾秒。如果電池剩余電量超過(guò)60%--40%，打開(kāi)電源。再一次打印。如果問(wèn)題持續(xù)，

存儲(chǔ)卡錯(cuò)誤1錯(cuò)誤位置：當(dāng)卡被寫(xiě)保護(hù)時(shí)，執(zhí)行存儲(chǔ)卡的寫(xiě)，格式或刪除要求從插槽中重新移走存儲(chǔ)卡，取消寫(xiě)保護(hù)，
存儲(chǔ)卡錯(cuò)誤2錯(cuò)誤位置：存儲(chǔ)卡保存的數(shù)據(jù)超出存儲(chǔ)容量。插入一個(gè)新的存儲(chǔ)卡并格式化。實(shí)行新的保存操作
存儲(chǔ)卡錯(cuò)誤3錯(cuò)誤位置：當(dāng)讀取存儲(chǔ)卡時(shí)，發(fā)生轉(zhuǎn)存錯(cuò)誤。確保存儲(chǔ)卡牢固地插在插槽上，如果沒(méi)有，重新插好。
存儲(chǔ)卡錯(cuò)誤4錯(cuò)誤位置：存儲(chǔ)卡沒(méi)有被格式化，如果需要權(quán)限讀、取，可能出現(xiàn)錯(cuò)誤格式化存儲(chǔ)卡。
存儲(chǔ)卡錯(cuò)誤5錯(cuò)誤位置：在存取時(shí)，插槽沒(méi)有卡。在插槽中插入一個(gè)卡，如果是新的，格式化它。
LCD顯示器什么都沒(méi)有●對(duì)比度沒(méi)有調(diào)整好。
●電源保持關(guān)閉狀態(tài)。當(dāng)從前面查看時(shí)，反方向旋轉(zhuǎn)對(duì)比度調(diào)整按鈕，打開(kāi)電源。其次，調(diào)整LCD對(duì)比度。
日本三豐粗糙度儀SJ-210驅(qū)動(dòng)維修驅(qū)動(dòng)錯(cuò)誤1錯(cuò)誤位置：驅(qū)動(dòng)/探測(cè)器裝置
在具體的時(shí)間段內(nèi)，初始的范圍不能檢測(cè)或執(zhí)行正確的連接驅(qū)動(dòng)/探測(cè)器裝置和顯示器裝置。如果問(wèn)題持續(xù)存在，
驅(qū)動(dòng)錯(cuò)誤3錯(cuò)誤位置：沒(méi)有正確連接驅(qū)動(dòng)/探測(cè)器裝置正確的連接驅(qū)動(dòng)/探測(cè)器裝置和顯示器裝置。如果問(wèn)題持續(xù)存在，
限制探測(cè)錯(cuò)誤位置：驅(qū)動(dòng)/探測(cè)器裝置
從在驅(qū)動(dòng)范圍內(nèi)測(cè)量進(jìn)行一半，探測(cè)器裝置滑行全部要求測(cè)量長(zhǎng)度前，探測(cè)范圍末端已經(jīng)探測(cè)到。在第3頁(yè)面按“Move the measurement start position”圖標(biāo)或“Return it to the origin”圖標(biāo)，進(jìn)入測(cè)量開(kāi)始位置（驅(qū)動(dòng)范圍的開(kāi)始）以便能達(dá)到測(cè)量長(zhǎng)度。
探測(cè)器錯(cuò)誤1錯(cuò)誤位置：探測(cè)器
開(kāi)始測(cè)量前，就工件而言，探測(cè)器不在探測(cè)范圍內(nèi)。在工件上正確地設(shè)定探測(cè)器，探測(cè)器正確地依附在
探測(cè)器裝置。
探測(cè)器錯(cuò)誤2錯(cuò)誤位置：探測(cè)器
在測(cè)量時(shí)，就工件而言，探測(cè)器超過(guò)探測(cè)范圍。在工件上正確地設(shè)定探測(cè)器，探測(cè)器正確地依附在
探測(cè)器裝置。
探測(cè)器錯(cuò)誤3錯(cuò)誤位置：探測(cè)器
探測(cè)器不當(dāng)?shù)匕惭b在在探測(cè)器裝置上。探測(cè)器正確地依附在探測(cè)器裝置。
超出范圍錯(cuò)誤顯示“000”錯(cuò)誤位置：測(cè)量范圍
已探測(cè)數(shù)值超出當(dāng)前測(cè)量范圍。使用一個(gè)大的測(cè)量范圍。
零位轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤錯(cuò)誤位置：探針
通過(guò)提供的零位轉(zhuǎn)換數(shù)值，探針位置不在規(guī)定的范圍。調(diào)整探針以使它的位置能在規(guī)定的范圍內(nèi)。
DAT錯(cuò)誤
數(shù)據(jù)調(diào)整平臺(tái)錯(cuò)誤錯(cuò)誤位置：傾斜調(diào)整
在DAT測(cè)量期間，不能進(jìn)行運(yùn)算。在探測(cè)器和工件之間的傾斜角度太大。探測(cè)器的傾斜要進(jìn)行精細(xì)調(diào)整。
Ra…………um錯(cuò)誤位置：運(yùn)算裝置
●發(fā)生參數(shù)運(yùn)算錯(cuò)誤。
●發(fā)生R面補(bǔ)償運(yùn)算錯(cuò)誤。●修改測(cè)量條件后再測(cè)量一次。
●如果R面補(bǔ)償已經(jīng)設(shè)定為ON，在啟動(dòng)R面補(bǔ)償后再測(cè)量一次。
☆25.65um錯(cuò)誤位置：運(yùn)算裝置
在測(cè)量期間，檢測(cè)到超出范圍。在數(shù)據(jù)前面將粘上一顆“☆“使用一個(gè)大的測(cè)量范圍。
Rz#5.68um錯(cuò)誤位置：運(yùn)算裝置
計(jì)算Rz峰谷或峰底的數(shù)據(jù)小于規(guī)定的數(shù)據(jù)。
“#“顯示在運(yùn)算結(jié)果前。
Ra****m錯(cuò)誤位置：運(yùn)算裝置
如果沒(méi)有獲得運(yùn)算結(jié)果。
Rz L-P錯(cuò)誤位置：運(yùn)算裝置
沒(méi)有足夠的峰谷或峰底數(shù)據(jù)運(yùn)算Rz或Sm。在運(yùn)算結(jié)果前將顯示L-P。
校準(zhǔn)錯(cuò)誤錯(cuò)誤位置：校準(zhǔn)
校準(zhǔn)測(cè)量結(jié)果超出可能范圍。
 針對(duì)觸摸屏上顯示的數(shù)據(jù)，檢查參考標(biāo)準(zhǔn)塊粗糙度數(shù)值。確保探測(cè)器在參考標(biāo)準(zhǔn)塊上正確地設(shè)定。
條件錯(cuò)誤1在評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)（測(cè)量條件1/3和2/3）和測(cè)量數(shù)據(jù)之間關(guān)系不相稱(chēng)檢查評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。
條件錯(cuò)誤2在評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)（測(cè)量條件1/3和2/3）和測(cè)量數(shù)據(jù)之間關(guān)系不相稱(chēng)檢查測(cè)量條件。
條件錯(cuò)誤3不能計(jì)算R面補(bǔ)償測(cè)量數(shù)據(jù)不能實(shí)行R面補(bǔ)償。關(guān)掉R面補(bǔ)償。
不能設(shè)定Ry表面粗糙標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)設(shè)定為JIS01，ISO97，ANSI 或VDA。標(biāo)準(zhǔn)（JIS：2001，ISO：1997）修訂時(shí)，參數(shù)符號(hào)的含義也修改了。舊的標(biāo)準(zhǔn)版本的Ry改為Rz，避免使用Ry。因此，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)（JIS：2001，ISO：1997），儀器不能設(shè)定Ry或Py參數(shù)。
如果有需要Ry，那么把標(biāo)準(zhǔn)改回“JIS‘82”或“JIS‘94”任一版本才開(kāi)始實(shí)行測(cè)量。