UM-5 超聲波測厚儀
參考價 | ¥ 17 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 上海銀澤儀器設備有限公司
- 品牌
- 型號 UM-5
- 產地 上海
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2017/10/29 7:04:19
- 訪問次數 1565
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彩色波形A-掃描超聲波測厚儀UM-5
如果你遇到了普通測厚儀不能解決的問題,請選擇我們的UM-5,它能zui大限度的解決各種測厚難題,為您提供高性價比的解決方案。
一、彩色波形A-掃描超聲波測厚儀UM-5技術參數:
工作原理:使用雙晶探頭的超聲波脈沖/回波法。測量范圍:0.5至508毫米(0.02至20英寸);取決于所用探頭、材料、表面狀況和溫度。單位和顯示分辨率:毫米-0.01,0.1;英寸-0.001,0.01。顯示模式:厚度值模式;A掃描或波形模式;zui小/zui大值捕獲模式;差值/減薄率模式。
V路徑修正:自動V聲程修正,補償雙晶探頭的非線性度。
示值誤差:±0.05mm(25mm以下);
±0.2%H(100mm以下);
±0.5%H(100mm以上)。注:H為被測物厚度
重復性:±0.05mm。
顯示屏:320×240點陣,2.4寸真彩屏。
測量速率:每秒4次測量。
材料聲速范圍:500~9999m/s,0.0197~0.3937in/us。
質保期:2年。
工作語言:中文。
電源:兩節(jié)1.5VAA電池。
操作時間:兩節(jié)5號電池,使用時間大于36小時。
自動關機:5分鐘無操作后自動關機。
工作溫度:-10℃~+50℃,有特殊要求可達-20℃。
尺寸:153mm×76mm×37mm(H×W×D)。
重量:含電池280g。
二、彩色波形A-掃描UM-5標準配置:
測厚儀UM-5,標配探頭,儀器箱,兩節(jié)1.5V堿性電池,耦合劑,操作手冊。
三、彩色波形A-掃描UM-5可選附件:
多種可供選擇的探頭;階梯試塊;耦合劑及高溫耦合劑。
四、彩色波形A-掃描UM-5原理講解:
采用脈沖—回波法原理的普通需要滿足以下兩個條件才能成功測量:
1.*底面回波要高于閘門(閘門電平高度是固定的不可調節(jié))。
2.*底面回波前沒有其它雜波高于閘門(否則測出的將是產生雜波處的厚度)。
有時許多情況無法滿足上述要求,例如近表面高度腐蝕、粗晶材料(如鑄鐵)、鋁材料、小直徑管、超薄板、超厚板、表面粗糙、材料內部的不均勻、內含缺陷、疊片結構等等,普通將無能為力。
五、彩色波形A-掃描UM-5可輕松解決上述問題:
1.可以通過調整增益和閘門高度,使*底面回波高于閘門。
2.可以通過消隱功能使*底面回波前的其它雜波無效。以前的棘手難題迎刃而解。
實時彩色A-掃描(LiveColorA-Scan):
用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號波型(或A掃描),這對于需要驗證厚度讀數是否正確的場合是至關重要的。許多情況會引發(fā)錯誤的厚度讀數甚至無讀數,根據波形能輕松找到問題所在,然后根據波形僅需對增益(GAIN)、消隱(BLANKING)、閘門(GATE)這三個參數做適當調整,就可得到正確的厚度讀數。
波形的用處:根據波形驗證厚度讀數,根據波形找到問題所在,根據波形尋求解決之道,根據波形調整參數解決問題。
增益調整(GAIN):
調整儀器對回波信號的放大倍數,允許以ldB為單位手動增加或減少。這個功能對聲衰減材料(比如金屬鑄件)的測量是非常有效的。
消隱功能(BLANKING):
使紅色消隱條范圍內的波形無效,可以略去影響測量的有害雜波,比如因材料表面粗糙或內部不均勻引起的噪聲。
閘門高度可調(GATE):
只有回波高于閘門時,儀器才認為接收到了回波,才會有測量值。可見閘門高度可調的重要性,尤其是在應對低回波信號的應用中更是如此(比如超薄板、超厚板的測量)。
紅色箭頭:
A-掃描模式有一個紅色箭頭指示測量點,厚度讀數就是該點的橫坐標。它可幫助判斷厚度讀數是否正確,正確測量時,紅箭頭應該指向*底面回波前沿。
范圍(RANGE):
調整顯示在屏幕上的波形范圍,視覺上波形被壓縮或展開。如果沒有正確的設置顯示范圍,回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到,但仍能正確地顯示測量值。
平移(DELAY):
調整顯示在屏幕上的波形的起始位置,視覺上波形被水平移動。如果沒有正確的設置平移,回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到,但仍能正確地顯示測量值。范圍和平移功能可將波形的任何一部分放大顯示在屏幕上。
整流方式:
可選擇射頻、正半波、負半波、全波四種整流方式。射頻:描繪了完整的回波波形;正半波:指去掉回波的負半波只顯示正半波;負半波:指去掉回波的正半波而將負半波翻轉顯示為正;
全波:指回波的正半波和翻轉為正的負半波均顯示。
報警模式:
可設置報警上限和報警下限。報警時波形和厚度值動態(tài)改變顏色。
縮減率測量:
儀器具有差值和縮減率模式。差值模式顯示實測厚度與預設厚度之間的差值變化??s減率是計算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型應用是對因彎曲而變薄的金屬材料進行測量。
zui小/zui大值模式:
該模式在屏幕上同時顯示當前厚度值、zui小厚度值和zui大厚度值??裳刂ぜ砻嫱蟿犹筋^,儀器自動找出zui薄值和zui厚值。
多種探頭可選:
儀器內置多種探頭的V聲程校正程序,分標準探頭、小徑管探頭、微型探頭、粗晶探頭、高溫探頭,頻率范圍從2至10MHz,晶片尺寸從4至12mm。
一般來說,探頭頻率越高而直徑越小,越適合對較薄或彎曲工件的測量。