化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>測(cè)量/計(jì)量?jī)x器>表面測(cè)量?jī)x器>輪廓儀>TopMap Micro.View + Polytec 3D白光干涉成像系統(tǒng)
TopMap Micro.View + Polytec 3D白光干涉成像系統(tǒng)
| 參考價(jià) | ￥ 1 |
| 訂貨量 | ≥1套 |
- 公司名稱 廣州萬(wàn)智光學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) TopMap Micro.View +
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/29 14:26:41
- 訪問(wèn)次數(shù) 12
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 100萬(wàn)-200萬(wàn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 |
TopMap Micro.View+ 是新一代光學(xué)表面輪廓儀。 該模塊化工作站專為模塊化設(shè)計(jì)，可進(jìn)行定制和特定于應(yīng)用的配置。 MICRO.VIEW +提供了最詳細(xì)的表面粗糙度，紋理和微觀結(jié)構(gòu)形貌分析。 結(jié)合3D數(shù)據(jù)和顏色信息結(jié)合起來(lái)，實(shí)現(xiàn)驚人的可視化和擴(kuò)展分析，如缺陷的詳細(xì)文檔。 高分辨率500萬(wàn)像素相機(jī)提供了令人難以置信的工程表面3D數(shù)據(jù)可視化。
亮點(diǎn)：
納米級(jí)分辨率的白光干涉儀
采用CST連續(xù)掃描技術(shù)可達(dá)到100毫米垂直測(cè)量范圍
配有自動(dòng)“對(duì)焦儀”和“對(duì)焦跟蹤器”進(jìn)行自動(dòng)化
電動(dòng)X，Y，Z，傾斜調(diào)平臺(tái)和轉(zhuǎn)塔無(wú)需再重新定位
用于缺陷擴(kuò)展分析和文檔記錄的顏色信息模式
模塊化，特定于應(yīng)用程序的配置
啟用自動(dòng)化且可投入生產(chǎn)線：
編碼和電動(dòng)轉(zhuǎn)塔確保了物鏡之間的無(wú)縫過(guò)渡。 Micro.View+ 采用“對(duì)焦儀”和“焦點(diǎn)追蹤器”，使表面在任何情況下都保持聚焦。 采用全電動(dòng)的樣品定位臺(tái)可實(shí)現(xiàn)縫合和自動(dòng)化。
以 3D 方式表征小細(xì)節(jié)和微觀結(jié)構(gòu)，以亞納米分辨率評(píng)估區(qū)域表面粗糙度 Sa，并以干涉精度評(píng)估甚至陡峭的角度。 Micro.View 和 Micro.View+ 是基于相干掃描技術(shù) (CSI) 的表面輪廓儀，無(wú)論物鏡放大倍數(shù)如何，都能提供出色的垂直分辨率。采用連續(xù)掃描技術(shù) (CST)、100 毫米 Z 軸行程和 100 毫米相等的垂直測(cè)量范圍、高達(dá) 5 MP 的相機(jī)、從 2.5X（0.6X！）到 111X 的各種物鏡，包括長(zhǎng)工作距離選項(xiàng)和玻璃補(bǔ)償，并預(yù)設(shè)ISO參數(shù)包括ISO 25178、ASME B46.1、ISO 4287、ISO 13565、ISO 21920...
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