德國BRUKER 原子力顯微鏡AFM Dimension FastScan 儀器檢測設(shè)備 產(chǎn)品關(guān)鍵詞:afm檢測
參考價(jià) | ¥ 180000 |
訂貨量 | ≥1臺(tái) |
- 公司名稱 深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/11/4 17:35:43
- 訪問次數(shù) 40
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Dimension FastScan德國BRUKER 原子力顯微鏡AFM
世界上掃描速度的原子力顯微鏡
高效率 :
在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍,自動(dòng)激光調(diào)節(jié) 和檢測器調(diào)節(jié),智能進(jìn)針,大大縮短了實(shí)驗(yàn)時(shí)間。
自動(dòng)測量軟件和高速掃描系統(tǒng)結(jié)合,大幅提高了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù) 的可信度和可重復(fù)性。
高分辨率 :
Fastscan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時(shí),延長了探針的使用壽命。
掃描速度20Hz時(shí)仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像,掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像。
低噪音,溫度補(bǔ)償傳感器展現(xiàn)出亞埃級(jí)的噪音水平。
在任何樣品上均有表現(xiàn)
閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描管極大地降低了Z方向噪音,使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm,具有超低的熱漂移率,可得到超高分辨的真實(shí)圖像。
Fast Scan可以對(duì)不同樣品進(jìn)行測量,保證高度從埃級(jí)到100多納米的樣品高精度無失真掃描。
Dimension Fastscan是一臺(tái)將掃描速度、分辨率、精確度和噪音控制結(jié)合的AFM,真正實(shí)現(xiàn)了快速掃描原子力顯微鏡的商業(yè)化應(yīng)用。為了實(shí)現(xiàn)AFM掃描速度變革性的提升,Bruker的工程師致力于AFM技術(shù)的改造和完善。
■采用?spacerun: 'yes'; mso-font-kerning: 0.0000pt">■在ScanAsyst模式中,使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片,即使掃描速度達(dá)到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片。
■Z方向,探針在Contact模式中移動(dòng)速度可達(dá)到12mm/s,同時(shí)在閉環(huán)工作中X-Y方向的移動(dòng)速度達(dá)到2.5mm/s, X-Y方向的跟蹤誤差■ 自動(dòng)的激光和檢測器的調(diào)節(jié)使得實(shí)驗(yàn)的組建更為快速有效。
■ 系統(tǒng)使用自帶的樣品導(dǎo)航軟件MIRO,利用光學(xué)成像系統(tǒng)能夠在幾分鐘之內(nèi)分辨并抓取納米級(jí)的樣品特征。
的光學(xué)系統(tǒng)可以使用任何Bruker的探針,在不降低系統(tǒng)穩(wěn)定性的前提下,得到激光信號(hào)調(diào)節(jié)。
■ 針尖掃描系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與210mm大尺寸樣品臺(tái)結(jié)合,消除了樣品尺寸的限制,同時(shí)維持了的噪音和熱漂移水平。
AFM性能:
Dimension FastScan AFM 優(yōu)秀的分辨率,與Bruker的電子掃描計(jì)算方法相結(jié)合,提供給用戶顯著提升的測量速度與質(zhì)量。Dimension Icon是我們工業(yè)的針尖掃描技術(shù)的革新,配置了溫度補(bǔ)償位置傳感器,展現(xiàn)出Z軸亞埃級(jí)范圍和XY軸埃級(jí)范圍的噪音水平,這個(gè)驚人的性能出現(xiàn)在大樣品臺(tái),34微米和90微米的掃描范圍的系統(tǒng)上,尤勝高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計(jì)也能展現(xiàn)較高掃描速度,而不損壞圖像質(zhì)量,實(shí)現(xiàn)更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。Icon 掃描管比當(dāng)今市場上任何一款大樣品臺(tái)AFM具有更低的噪音水平和更高的精確度。這種革新與新的掃描和下針?biāo)惴ㄏ嘟Y(jié)合,即使是在難測量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果。
靈活的平臺(tái)
Dimension FastScan 展現(xiàn)出的的性能,堅(jiān)固性和靈活度,使得這臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)了以前只有在特制的系統(tǒng)中才能完成的所有測量。利用開放式平臺(tái),大型多元樣品支架和許多簡單易用的性能,將AFM強(qiáng)大的功能展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前,為高質(zhì)量AFM 成像和納米研究設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。Dimension 系列原子力顯微鏡在不斷演變提升,以迎合您不斷增長的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力學(xué)、電學(xué)和電化學(xué)附件。
杰出的生產(chǎn)力:
使用Dimension系列原子力顯微鏡發(fā)表的文章遠(yuǎn)比其他大樣品臺(tái)原子力顯微鏡要多。在科研和工業(yè)生產(chǎn)的過程研究中已成為一個(gè)標(biāo)志性的符號(hào)。FastScan把此平臺(tái)引入了更的新水平,展現(xiàn)出更高的性能和更快地獲得測量結(jié)果。其軟件的直觀工作流程,使其操作過程比以往的AFM技術(shù)更加簡便??梢允钩鯇W(xué)者在操作中,同樣得到專家級(jí)的圖像。Dimension FastScan用戶可以立即獲得高質(zhì)量的結(jié)果,而無需像以前一樣通常需要幾小時(shí)的專業(yè)調(diào)整。Dimension FastScan的每個(gè)方面—從開放式針尖樣品空間,到預(yù)存軟件參數(shù)設(shè)置—都經(jīng)過特殊設(shè)計(jì)以求達(dá)到無障礙操作和驚人的AFM操作簡易性。每分鐘低于200pm的熱漂移速率,全新的直觀用戶界面,世界聞名的Dimension AFM平臺(tái),三者結(jié)合提供了的AFM儀器性能,保證您在最短時(shí)間內(nèi)得到測試結(jié)果并發(fā)表出版。
的性能和多種附加模塊滿足您的一切科研需要
出眾的性能滿足各種應(yīng)用需求
Dimension FastScan可同時(shí)高速捕捉多個(gè)通道的數(shù)據(jù),獲得更多通道的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。結(jié)合我們Bruker的很多AFM技術(shù),模式和模式增強(qiáng)功能,Dimension FastScan以其的性能優(yōu)勢,幫助您完成更高水平的納米研究。
加熱和冷卻:電學(xué)表征
在以各種AFM 模式掃描的同時(shí)可實(shí)現(xiàn)-35℃到250℃的溫度的精確控制和熱分析。另外還可使用熱探針對(duì)低于100nm的局部加熱到500℃。
材料成像:
FastScan在使用ICON的掃描管的情況下支持Bruker的PeakForce QNMTM成像模式,在使用快速掃描掃描
管的情況下可進(jìn)行納米力學(xué)成像。使用FastScan技術(shù),大大減少了研究者獲得高分辨率形貌和納米力學(xué)圖譜的時(shí)間。
納米操縱:
可實(shí)現(xiàn)在納米和分子級(jí)別的納米操縱和刻蝕。FastScan的XYZ閉環(huán)掃描器解決了掃描管的蠕變效應(yīng),大大提高了操縱的精確度。同時(shí)超低噪音的精密探針的準(zhǔn)確定位,適用于任何納米操作系統(tǒng)。
電學(xué)表征:
使用的模式,可以在更高的靈敏度和更大的動(dòng)態(tài)范圍上實(shí)現(xiàn)電學(xué)表征。PeakForce TUNA™和PeakForce SSRM提供了的電學(xué)表征方法,同時(shí)還可以與樣品上的力學(xué)屬性相聯(lián)系。
樣品篩選
利用AFM系統(tǒng)獲取大量樣品信,進(jìn)行樣品常規(guī)篩選。無論是材料生產(chǎn)中進(jìn)行失效分析或納米級(jí)的質(zhì)量控制,及時(shí)的產(chǎn)品信息反饋是的產(chǎn)品質(zhì)量控制過程。納米表征面臨提高表征速度的挑戰(zhàn)時(shí),高精準(zhǔn)度成為條件。在獲取藥物配方的過程中需要大量的數(shù)據(jù)對(duì)其中的非晶藥物成分進(jìn)行篩選,這可能成為FastScan的一個(gè)新用途。
利用最短時(shí)間獲得高質(zhì)量可發(fā)表數(shù)據(jù)結(jié)果:
無論是作為科研交流還是發(fā)表科學(xué)文章,Dimension FastScan可比以前快幾十倍至上百倍獲得專業(yè)精確的數(shù)據(jù)測量和高質(zhì)量AFM圖片。真正的快速掃描AFM系統(tǒng)使您能夠運(yùn)用簡易方法對(duì)大量數(shù)據(jù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的處理分析。
動(dòng)態(tài)應(yīng)用范例:
另一種常見的應(yīng)用是觀察一個(gè)納米級(jí)物體在外部條件變化或受刺激的情況下,隨著時(shí)間產(chǎn)生變化的過程。無論是在空氣中還是在液體中,對(duì)納米尺度的動(dòng)態(tài)變化觀察都是研究價(jià)值的。Dimesion FastScan為這種實(shí)驗(yàn)提供了極為便利的條件。
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