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          化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>測量/計量儀器>表面測量儀器>光學表面分析儀>PZ-WLI-150 三維光學形貌儀

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          PZ-WLI-150 三維光學形貌儀

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          北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司(以下簡稱品智創(chuàng)思),始終專注于精密影像測量領域的影像分析及測量軟件的設計與研發(fā)。品智創(chuàng)思公司從事表面科學、分析儀器、計量檢測設備及實驗室儀器系統(tǒng)集成商;致力于為工業(yè)制造和科研領域用戶提供顯微分析,圖像分析,缺陷識別和檢驗, 無損探查, 品質(zhì)管理, 計量,過程控制等專業(yè)檢測設備,依托強有力的技術資源及完善專業(yè)的售后服務與維修體系,向用戶提供專業(yè)成熟細致的服務及全面地解決方案。
             

          公司致力于提高工業(yè)產(chǎn)品的質(zhì)量品質(zhì)! 迄今為止,品智創(chuàng)思已為多家用戶提供產(chǎn)品檢測設備,用戶遍布機械、電子、醫(yī)療、軌道交通、汽車、航空、航天、研究所、計量站、等行業(yè),為用戶提供的儀器和完善的解決方案,為用戶工作提供強有力的技術支持。

          品智創(chuàng)思秉承“專注質(zhì)量、誠信服務、立足創(chuàng)新、真誠合作”的理念,為您提供、多角度的服務。

          北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司愿與您精誠合作,共拓美好未來。

           

           

           

          影像測量儀,光學顯微鏡,測量顯微鏡,試驗機,接觸角測量儀,表面張力儀,超景深顯微鏡,金相顯微鏡,投影測量儀,磨刀機顯微鏡

          產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應用領域 醫(yī)療衛(wèi)生,地礦,電子,電氣,綜合

           產(chǎn)品簡介:

          三維光學形貌儀結合相移垂直掃描的前沿技術與顯微光干涉技術,不需要復雜光路調(diào)整程序,即可在非接觸、無破壞、普通大氣環(huán)境下完成3D納米深度的表面檢測分析不僅提供3D表面形狀和表面紋理的分析,更可提供鏡面表面的納米級粗糙度和臺階高度分析
          并追溯至IS0國際規(guī)范。三維光學形貌儀具有的測量能力,可在幾秒內(nèi)就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù),檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡,3D圖形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力,且不需要使用電子束或雷射,開機快又安全,維護成本更低。

          三維光學形貌儀

          無論是拋光面,還是粗糙面,甚至是高透明材質(zhì)(例如石英),只要有超過1%以上的反射率就能夠被檢測。適合各種材料與微元件表面特征和微尺寸檢測,應用領域包含:觸控面板(Touch Panel)
          太陽能板(Solar Cell)
          晶圓(Silicon Wafer or Sapphire Wafer)
          光碟/硬碟( DVD Disk /Hard Disk)
          微機電元件(MEMSComponents)
          平面液晶顯示器(LCD)
          高密度線路印刷電路板(HDIPCB)
          IC封裝(IC Package)
          精密微機械元件或模具(Micro MechanicalPartsorMode)以及其它材料分析與元件微表面研究。

          三維光學形貌儀

          納米深度3D形狀顯微檢測儀提供Z軸掃描解析度0.1nm,平面空間分辨力0.62um(50X物鏡)的量測能力,所具有的納米3D顯微形貌快速呈現(xiàn)能力是科研、研發(fā)、生產(chǎn)品檢時所的工具。



           

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