全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS2000B
- 公司名稱(chēng) 北京儀光科技有限公司
- 品牌 ZEPTOOLS/澤攸科技
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/11/12 15:24:10
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 133
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西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析、徠卡等光學(xué)顯微鏡、RMC超薄切片機(jī)、Linkam冷熱臺(tái)
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,地礦,能源,汽車(chē),綜合 |
國(guó)產(chǎn)全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS2000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。JS2000B提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，可無(wú)畸變的觀察樣品區(qū)，方便定位特征區(qū)域，同時(shí)探針掃描時(shí)可實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域。
應(yīng)用范圍
▲ 刻蝕、沉積和薄膜等厚度測(cè)量
▲ 薄膜多晶硅等粗糙度、翹曲度等材料表面參數(shù)測(cè)量
▲ 各式薄膜等應(yīng)力測(cè)量
▲ 3D掃描成像
▲ 計(jì)劃任務(wù)和多點(diǎn)掃描
▲ 批量測(cè)試晶圓，批量處理數(shù)據(jù)等、
系統(tǒng)組成
▲ EFEM（SMIF+ROBOT+ALINGER)
▲ JS200B
選配品
▲ 高度校準(zhǔn)標(biāo)樣
▲ FFU模塊
▲ 靜電消除模塊
▲ E84接口
軟件界面
掃描圖
18nm樣品
68um樣品
技術(shù)參數(shù)
采購(gòu)中心
化工儀器網(wǎng)