E4980B 精密LCR器
參考價 | ¥ 88 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 上海騁利電子科技有限公司
- 品牌 KEYSIGHT/美國是德
- 型號 E4980B
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/10/12 20:39:53
- 訪問次數(shù) 143
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可編程電子負載,可編程電源,大功率電源,LCR 數(shù)字電橋,示波器,信號發(fā)生器,萬用表,功率計,計數(shù)器,程控安規(guī)測試儀,醫(yī)用安規(guī)測試儀,絕緣耐壓測試儀,無紙記錄儀,熱成像儀,邏輯分析儀,網(wǎng)絡分析儀,音頻/視頻分析儀,,實驗室電力檢測儀,氣體分析,環(huán)境實驗,天平實驗儀,測距儀,電子元器件,機柜配套設備,低電壓電氣設備
產(chǎn)地類別 | 進口 | 類型 | 其他 |
---|---|---|---|
應用領域 | 綜合 |
E4980B精密LCR計,20 Hz至2 MHz
為廣泛的零部件測量提供了精確度、速度和多功能性的最佳組合
強調(diào)
頻率
20 Hz至2 MHz,可在任意范圍內(nèi)使用四位分辨率
基本準確度
基本精度為0.05%,在低阻抗和高阻抗下具有精確的測量重復性
直流偏壓
直流偏置增強(Keysight選項001)
更多功能
20 VRMS測試信號(Keysight選項001)
5.6毫秒的高速測量
201分列表測量掃描
多功能PC連接(LAN、USB和GPIB)
Keysight E4980B精密LCR測量儀集精度、速度和多功能于一身,可用于廣泛的元器件測量。E4980B是元器件和材料的一般研發(fā)和制造測試bi不可少的工具,可在低阻抗和高阻抗范圍內(nèi)提供快速的測量速度和性能。
多功能LAN、USB和GPIB PC連接可提高您的設計和測試效率。對于材料測量,E4980B與Keysight N1500A-005/006材料測量套件配對可簡化從夾具設置到生成報告的測量過程。
主要技術指標
E4980A精密LCR測量儀
宣傳冊
一種工業(yè)標準LCR儀表
Keysight E4980A 精密型 LCR 表為各種元器件測量提供了精度、速度和多功能性的最佳組合。E4980A 在低阻抗和高阻抗范圍內(nèi)都能提供快速的測量速度和出色的性能,是元器件和材料的一般研發(fā)和制造測試的zhong極工具。
測量速度快
E4980A提供出色的速度:
- 5.6 毫秒(短暫) 2
- 88 毫秒 (MED) 2
- 220 毫秒(長) 2
精確的測量
在低阻抗和高阻抗下具有極低的噪聲,用于評估電感器的特性和
電容器具有優(yōu)異的精度和重復性。
-0.05%基本阻抗精度
- 1/2/4米電纜延伸能力
- 打開/關閉/負載校正
主要特性
精確的測量
在低阻抗和高阻抗下均具有極低的噪聲,以提高測試質(zhì)量。
-0.05%基本阻抗精度
- 開放/短缺/負載補償支持
-電纜延伸部分(1/2/4米)支承
測量速度快
快速的速度提供了更多的吞吐量,降低了測試成本。
- 5.6 毫秒(短暫)
- 88 毫秒(MED)
- 220 毫秒(長)
測量通用性
-測試頻率為20赫茲至2 MHz,可在任意頻率下使用4位分辨率
—16個阻抗參數(shù)
-100μV至2 Vr ms,1μA至20 mA-可變測試信號
-自動水平控制
- 可編程列表chou獎201分
選項E4980A-001功率和直流偏置增強
- 0至20伏特/100毫米臂測試信號
-內(nèi)置40伏直流偏置,分辨率為0.3毫伏
-內(nèi)置10伏直流電源
-直流電阻、直流電流及直流電壓測量能力
高精度、快速測量,最高可達2 MHz
精確的測量結果為設計和測試提供了可靠性
廣域阻抗測量
E4980A LCR測量儀在所有阻抗測量中均具有出色的性能。要滿足當今最新設備的測試要求,需要可靠的測量性能。只有E4980A能夠在“同時”低阻抗和高阻抗范圍內(nèi)提供快速的測量速度和出色的性能,并具有出色的耗散因數(shù)精度。
穩(wěn)定的小ESR/低阻抗測量
電容器的等效串聯(lián)電阻(ESR)正變得越來越小,以滿足高速和低功耗電路的需要;而且測量困難,E4980A提供了出色的測量穩(wěn)定性。
極其精確的高阻抗測量
芯片電容和半導體芯片的電容值現(xiàn)在已降至fF(fF)范圍。因此,需要非常穩(wěn)定和精確的高阻抗測量,以提高收率和設計可靠性。E4980A超越Keysight之前的行業(yè)標準LCR測量儀(4284A),進一步提高了這些小電容器件的測量穩(wěn)定性。
提供業(yè)界最佳的速度和準確性組合
快速的測量速度,提高制造業(yè)的吞吐量
- 在1 MHz時,在短模式下,每點5.6毫秒
- 在1 MHz時,在MED模式下每點88毫秒
- 在1 MHz時,在長模式下每點220 ms
平均函數(shù)(最高可達999)
使用戶能夠提高測量的重復性。
多功能測量功能,滿足您的應用需求
強大的功能提高了測試的可靠性和效率
六種便捷的顯示模式
選擇六種顯示模式之一,以滿足您的特殊測量需求。
-數(shù)據(jù)概覽的正常視圖
-大顯示視圖,提高可讀性
- BIN 編號視圖,用于測量比較和設備分類
- BIN計數(shù)視圖,用于統(tǒng)計評估
- 列表掃描視圖以查看連續(xù)數(shù)據(jù)
- 空白頁面視圖,實現(xiàn)ji致速度
(關閉顯示以節(jié)省刷新時間。)
201分名單大獲全勝
頻率、測量范圍和刺激條件,可設置為列表參數(shù)(最大201點),可獨立選擇兩個參數(shù)在多種測量條件下進行測試。
直流電阻測量
對于電感測量,可以同時測量Ls或Lp和RDC參數(shù)。
E4980A功率和直流偏置增強
(備選E4980A-001)
20 VRMS測試信號(Opt.001)
強大的交流測試信號可提供高達20 Vrms,100 mArms(最大值)。這使您無需外部放大器即可評估交流電平依賴性。直流參數(shù)測量(Opt.001)
同時測量直流電壓和直流電流以及阻抗。泄漏電流測量可用于電容評估。
40伏直流偏置(選件001)
內(nèi)置的寬范圍(±40 Vdc/100 mA)直流偏置源可實現(xiàn)對直流偏壓與阻抗的精確評估。
直流電源(選件001)
提供額外的獨立DC源端口,以擴展DC控制和偏置應用的靈活性。例如,此選項可測量三個終端設備,使您可以同時控制您的DUT、添加額外偏置并控制其他設備。
阻抗測量手冊
應用文章
阻抗測量數(shù)據(jù)可幫助工程師設計需要特定電阻、電容和電感值才能實現(xiàn)最佳性能的電路和系統(tǒng)。為了最大限度地傳輸功率并減少射頻(RF)設備中的反射,工程師必須使RF鏈中的每個組件的阻抗匹配。
什么是電阻抗?
工程師使用阻抗測量來表征電子電路、元件和材料。在射頻應用中,工程師通常定義阻抗(Z),在矢量平面上以復數(shù)表示,作為設備或電路在給定頻率下對交流電(AC)流的總阻抗。工程師根據(jù)所需的測試頻率、阻抗參數(shù)和優(yōu)選的顯示參數(shù)選擇特定的阻抗測量技術。
本應用說明展示了參考解決方案,其中包括目前可用的產(chǎn)品和已停產(chǎn)和/或過時的產(chǎn)品,以利用Keysight的阻抗測量專長滿足特定應用要求。無論您從事何種應用或行業(yè)——從電路設計和信號完整性到制造或生物醫(yī)學應用——Keysight均可提供zhuo越的性能和高可靠性,讓您在進行阻抗測量時充滿信心。
本文從阻抗測量的基礎知識開始,首先定義了阻抗和阻抗參數(shù)、阻抗測量的基礎知識以及無源元件的理論和自然行為——包括寄生和理想、實際和測量值。
阻抗矢量由實部(電阻,R)和虛部(反應性,X)組成。我們用矩形坐標形式R+jX或極坐標形式表示阻抗的幅值和相位角:|Z|_θ。在某些情況下,使用阻抗的反比證明在數(shù)學上是有利的。因此,1/Z=1/(R+ jX) =Y=G+jB,其中Y表示導入、G導和B受力。阻抗測量用歐姆()為單位,而導納測量用西門子(S)。阻抗被證明特別有用,用R和X的簡單和來表示電阻和電抗的串聯(lián)連接。導通率更好地表示并行連接。
反應性有兩種形式:電感(XL)和電容(Xc)。根據(jù)定義,XL=2πfL和Xc=1/(2πfC),其中f表示感興趣的頻率,L表示電感和C電容。用角頻率(ω:ω)替換2πf來表示XL=ωL和Xc=1/(ωC)。類似的對等關系也適用于接受和接納。
根據(jù)這些定義,應用說明擴展了組件依賴因素(如測試、測試信號電平、直流偏置和溫度)以及常見組件(如電容和電感)的等效電路模型。
如何測量阻抗?
在定義了術語和阻抗參數(shù)之間的關系之后,本文介紹了阻抗測量的基本原理??紤]到阻抗的復雜性質(zhì),要找到阻抗,我們至少需要測量兩個值。許多現(xiàn)代阻抗測量儀器測量阻抗矢量的實部和虛部,然后將它們轉換成所需的參數(shù),如|Z|、θ、|Y|、R、X、G、B、C和L。
本文詳細介紹了阻抗測量電路模式、測試儀器、三元件等效電路和復雜元件模型以及常用的測量方法,包括:
橋梁阻抗測量
共振阻抗測量
I-V阻抗測量
射頻I-V阻抗測量
網(wǎng)絡分析測量
自動平衡橋阻抗測量
橋式阻抗測量方法在標準實驗室中很常見,它以較低的成本提供較高的精度。然而,橋式阻抵抗測量需要手動平衡,并且只提供較窄的頻率覆蓋范圍,只能使用單臺儀器。
諧振阻抗測量在高Q值時具有良好的Q值精度,但需要調(diào)諧才能實現(xiàn)諧振,而諧振阻值測量方法也存在阻抗測量精度低的問題。
I-V阻抗測量可實現(xiàn)對接地器件的測量并兼容探針式測試需求。因此,使用接地器件中的開發(fā)人員更喜歡這種方法。然而,使用I-V阻值測量方法時,探針變壓器限制了工作頻率范圍。
射頻I-V、網(wǎng)絡分析和自動平衡橋阻抗測量方法最shi合從事射頻元件表征的工程師。射頻I-V阻抗測量在高頻下具有高精度和寬阻抗范圍(m至M)。不過,與I-V阻抗測量方法一樣,測試頭中使用的變壓器限制了工作頻率范圍。
網(wǎng)絡分析阻抗測量方法涵蓋了從低頻(LF)到射頻的頻率范圍,并且在未知阻抗出現(xiàn)在特征阻抗附近時具有良好的精度。不幸的是,網(wǎng)絡分析儀在改變測量頻率后需要重新校準,并且只允許狹窄的阻抗測量范圍。
自動平衡電橋阻抗測量提供從低頻到高頻(HF)的廣泛頻率覆蓋范圍,同時在寬阻抗測量范圍(m到100M的量級)上保持極其高的精度。它們還能夠像I-V方法一樣進行接地器件測量,但缺乏對高頻范圍測試的支持。
用什么儀器測量阻抗?
本文進一步探討了射頻 I-V 阻抗測量、網(wǎng)絡分析和自動平衡電橋阻抗測量背后的理論,特別是考慮到它們與 Keysight 各種解決方案的相關性,包括電容計、LCR 計、阻抗分析儀和網(wǎng)絡分析儀。
LCR計和阻抗分析儀主要在顯示特性上有所不同。LCR計顯示數(shù)字數(shù)據(jù),而阻抗分析儀器顯示數(shù)字或圖形格式的數(shù)據(jù)。另外,標準的VNA提供從測量的S參數(shù)數(shù)據(jù)計算阻抗的功能,盡管Keysight ENA系列網(wǎng)絡分析儀支持在單一平臺上進行阻抗和網(wǎng)絡分析的各種應用。
我們對阻抗測量解決方案的討論包括:電阻圖、實用儀器的運行原理、關鍵測量功能、固定和布線以及測量誤差補償。
阻抗測量的系統(tǒng)配置是什么?
通常,用于阻抗測量的系統(tǒng)使用以下組件:
阻抗測量儀
電纜和適配器接口
試驗夾具
最后,本應用說明最后提出了各種應用中阻抗測量增強的建議,包括:
電容器
電感器
變壓器
二極管
MOSFETs
電池
閱讀本手冊,以找到滿足阻抗測量需求的最佳測量方法和儀器。