吉時(shí)利半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng) 其它儀器是用于器件、材料和半導(dǎo)體工藝參數(shù)分析的完整解決方案。這種先進(jìn)的參數(shù)分析儀具有不可比擬的測(cè)量靈敏度和精度，同時(shí)繼承了嵌入式Windows操作系統(tǒng)和吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境，

為半導(dǎo)體科研及產(chǎn)業(yè)用戶進(jìn)行半導(dǎo)體器件特性分析提供了直觀而高級(jí)的功能。

吉時(shí)利半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng) 其它儀器使用 4200A-SCS 加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 高性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測(cè)量。

特點(diǎn)

• 內(nèi)置測(cè)量視頻采用英語、中文、日語和韓語

• 使用數(shù)百個(gè)用戶可修改應(yīng)用測(cè)試開始您的測(cè)試

• 自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)

測(cè)量、 切換、 重復(fù)。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動(dòng)在 I-V 和 C-V 測(cè)量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測(cè)試設(shè)置，并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時(shí)輕松排除故障。

特點(diǎn)

• 無需重新布線即可將 C-V 測(cè)量移動(dòng)到任何設(shè)備終端

• 用戶可配置低電流功能

• 個(gè)性化輸出通道名稱

• 查看實(shí)時(shí)測(cè)試狀態(tài)

檢定、 自定義

簡(jiǎn)單地說，4200A-SCS 可以玩全自定義且全面升級(jí)，您可以對(duì)半導(dǎo)體設(shè)備、新材料、有源/無源組件、晶片級(jí)可靠性、故障分析、電化學(xué)或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評(píng)估。

特點(diǎn)

• NBTI/PBTI 測(cè)試

• 隨機(jī)電報(bào)噪聲

• 非易失內(nèi)存設(shè)備

• 穩(wěn)壓器應(yīng)用測(cè)試

帶分析探測(cè)器和低溫控制器的集成解決方案。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動(dòng)和半自動(dòng)晶片探測(cè)器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點(diǎn)

• “點(diǎn)擊”測(cè)試定序

• “手動(dòng)”探測(cè)器模式測(cè)試探測(cè)器功能

• 假探測(cè)器模式無需移除命令即可實(shí)現(xiàn)調(diào)試