FPANG-DUV-VIS-NIR 深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀
- 公司名稱 孚光精儀(中國)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 FPANG-DUV-VIS-NIR
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/8/29 15:20:32
- 訪問次數(shù) 202
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合 |
深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀是覆蓋190nm-1700nm光譜范圍的DUV-VIS-NIR光譜橢偏儀,非常適合超薄薄膜厚度測量,納米薄膜膜厚測量應(yīng)用。
DUV深紫外橢偏儀特別適合測量超薄薄膜,如納米厚度薄膜,典型例子是硅晶片上的自然氧化物薄膜,其薄膜厚度通常僅為約1nm-2nm。
DUV深紫外橢偏儀還很適合測量許多材料的帶隙。
可見近紅外范圍VIS-NIR橢偏儀用于測量相對較厚的薄膜,也適合測量薄膜的光學(xué)常數(shù)。
深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀產(chǎn)品特色
使用基于Windows的軟件易于操作
**的光學(xué)設(shè)計,實現(xiàn)***佳系統(tǒng)性能
用于寬帶應(yīng)用的高功率DUV-VIS-NIR光源
基于陣列的探測器系統(tǒng),確??焖贉y量
用戶可以定義任意數(shù)量的圖層
可用于實時或在線厚度、折射率監(jiān)測
系統(tǒng)配有全面的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫和庫
**的TFProbe 3.3.X軟件允許用戶對每張膠片使用NK表、色散或有效介質(zhì)近似(EMA)。
三種不同的用戶級別控制:工程師模式、系統(tǒng)服務(wù)模式和易用用戶模式
靈活的工程師模式,用于各種配方設(shè)置和光學(xué)模型測試
強大的一鍵式(交鑰匙)解決方案,用于快速和常規(guī)測量
可配置的測量參數(shù)、用戶偏*和易于操作
系統(tǒng)的全自動校準(zhǔn)和初始化
直接從樣品信號獲得精確的樣品對準(zhǔn)接口,無需外部光學(xué)元件
精確的高度和傾斜調(diào)節(jié)
適用于多種不同厚度的基材
各種選項,可用于特殊配置的配件,如標(biāo)測臺、波長擴展、焦點等。
2D和3D輸出圖形和用戶友*的數(shù)據(jù)管理界面
深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀規(guī)格參數(shù)
型號和波段 | SE200 (DUV-Vis) | SE300 (Vis) | SE450 (Vis-Nir) | SE500 (DUV-Vis-Nir) |
探測器類型 | CCD或CMOS陣列 | CCD或CMOS陣列 | CCD或CMOS和InGaAs陣列 | CCD或CMOS和InGaAs陣列 |
波長范圍 | 190-1100nm | 370-1100nm | 370-1700nm | 190-1700nm |
波長數(shù)據(jù)點 | 測量波長范圍和波長數(shù)據(jù)點均可訂購時選配(數(shù)據(jù)點僅受分辨率限制) | |||
波長分辨率 | 0.01-3nm | 0.01-3nm | 0.01-3nm | 0.01-3nm |
光學(xué)選配 | 根據(jù)應(yīng)用或客戶偏*進行步進掃描或旋轉(zhuǎn)偏振器/分析儀/減速器;使用PCSA或PSCA配置,可以測量完整的360度模型;還提供PCSCA雙減速器配置,用于16個全元件(4x4)Mueller Matrix測量 | |||
數(shù)據(jù)采集時間 | 100ms-10s,用戶可定義 | |||
入射角范圍 | 20-90度 | |||
入射角分辨率 | 5度-手動型調(diào)整配置 | |||
偏光器件 | 起偏器,檢偏器等 | |||
光斑尺寸 | 1-5mm孔徑可調(diào) | |||
光源 | (D2+TH)/Xe | TH | TH | (D2+TH)/Xe |
燈泡壽命 | 4000 hrs. | 10000 hrs. | 10000 hrs. | 4000 hrs. |
可測薄膜厚度 | ***高30 µm | 20nm-50 µm | 20nm-50 µm | ***高50 µm |
測厚分辨率 | < 1? or 0.1% (with 200 ? thick SiO2onSi Standard, precision better than 0.2 ?) | |||
折射率精度 | 0.0001 | |||
測厚精度 | 0.25% | |||
系統(tǒng)角度精度 | UV-Vis Range: Psi 45° ± 0.05°, Delta 0° ± 0.1° ; NIR Range: Psi 45° ± 0.1°, Delta 0° ± 0.2° | |||
樣品臺 | 黑色陽極氧化鋁合金真空吸盤,通常直徑為150x150mm或200mm;其他尺寸(如450mm)可根據(jù)要求或基于自動映射行程范圍進行配置 | |||
Z-位移臺 | 精密Z臺,典型行程范圍為12mm,用于樣品高度調(diào)節(jié),電動Z臺是可選的,行程范圍可定制高達50mm(~2英寸) | |||
Tilting傾斜校準(zhǔn) | 三點傾斜手動對準(zhǔn)機構(gòu)通常配備非標(biāo)測工具,電動自動傾斜可作為選項;對于自動測繪工具,提供無需進一步傾斜調(diào)整的預(yù)調(diào)平平臺。 | |||
軟件 | 標(biāo)配 | |||
接口 | USB | |||
操作系統(tǒng) | Both 32bit and 64 Bit, Win XP, 7, 8, 10,11 | |||
計算機配置建議 | Intel i5, 500 GB space, 8GB RAM; 24” LCD Monitor or equivalent Laptop | |||
供電要求 | 110– 240 VAC /50-60Hz, 3A | |||
平臺 | 桌面式或原位配置 | |||
重量/尺寸 | ~ 75kg / 38(L)x22(D)x34(H)” |