納米壓痕測(cè)試儀:(NHT³)
- 公司名稱 上海富瞻環(huán)??萍加邢薰?/a>
- 品牌 Anton Paar/安東帕
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/6/5 18:20:37
- 訪問次數(shù) 195
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非甲烷總烴在線監(jiān)測(cè)儀,有機(jī)揮發(fā)物氣體監(jiān)測(cè)儀,沼氣檢測(cè)儀,大氣環(huán)境在線檢測(cè)儀,空氣質(zhì)量指數(shù)檢測(cè)儀器,大氣氣象綜合分析系統(tǒng),林業(yè)大氣環(huán)境檢測(cè)儀,交通環(huán)境大氣污染檢測(cè),惡臭工作站
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
納米壓痕測(cè)試儀:(NHT3)
納米到微米尺度下硬度、彈性模量和其他表面的力學(xué)表征測(cè)量
樣品安裝后可立即開始測(cè)量
快速輕松地更換壓頭
測(cè)力高達(dá) 500 mN
也可用于接觸電阻測(cè)量(ECR 版本)
NHT3 納米壓痕測(cè)試儀適合在納米到微米的尺度下測(cè)試硬度、彈性模量、蠕變以及其他表面特性。它的量程為 0.1 mN 至 500 mN,具備最大的通用性功能。由于的表面參比技術(shù),無需等待達(dá)到熱穩(wěn)定狀態(tài),開機(jī)就可立即進(jìn)行儀器壓痕測(cè)試?!翱焖倬仃嚒眽汉勰J娇蓪?shí)現(xiàn)高通量(每小時(shí)測(cè)試量高達(dá) 600 個(gè)壓痕)。
在 NHT3 中添加另一種力學(xué)表面測(cè)試方法(例如劃痕測(cè)試):該平臺(tái)可容納多個(gè)測(cè)試頭以覆蓋所有力范圍,并為您提供更大的樣品圖片。
簡(jiǎn)單明了的納米壓痕測(cè)試
使用 Anton Paar 直觀的軟件,可以輕松定義和分析各種儀器壓痕測(cè)試(從標(biāo)準(zhǔn)方法到高級(jí)方法)。集成顯微鏡提供非常大的放大倍數(shù),讓您能觀察到樣品表面,從而直接確定測(cè)量位置。而且,參比環(huán)還可全面保護(hù)壓頭不受碰撞,并且不到 2 分鐘即可更換測(cè)量針尖。
高準(zhǔn)確度,測(cè)量時(shí)間短
該儀器的設(shè)計(jì),頂部集成了表面參比環(huán),它在壓痕測(cè)量過程中可以追蹤樣品表面。這意味著,它始終根據(jù)當(dāng)前的表面位置來直接獲得壓入深度。Anton Paar 納米壓痕測(cè)試儀是少有的具備此功能的儀器,這意味著 NHT3 可提供準(zhǔn)確的結(jié)果和不易出錯(cuò)的軟件校正功能。這種技術(shù)的另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是,在上樣后可以立即開始測(cè)試,而無需等待數(shù)小時(shí)以便其達(dá)到熱穩(wěn)定狀態(tài)。
快速點(diǎn)陣實(shí)現(xiàn)較高效率
使用快速測(cè)試模式,每小時(shí)可通過真實(shí)的壓痕曲線測(cè)試多達(dá) 600 個(gè)壓痕。借助參比式設(shè)計(jì),無需等待達(dá)到熱穩(wěn)定狀態(tài),讓您每天可以安裝和立即測(cè)量大量樣品。憑借用戶配置、測(cè)量模式、多樣品測(cè)量及可定制報(bào)告,NHT3 成為市面上通量最高的儀器。
通過“正弦模式”進(jìn)行其他動(dòng)態(tài)力學(xué)分析 (DMA)
使用正弦模式,您可以執(zhí)行 DMA 分析來研究力學(xué)特性隨深度的變化情況(HIT、EIT 對(duì)比深度),并分析樣品的粘彈性(E'、E':儲(chǔ)能和損耗模量、tan δ)。正弦動(dòng)態(tài)測(cè)量模式還提供其他功能,例如壓痕儀快速校正以及應(yīng)力/應(yīng)變分析。
Step 平臺(tái):充分發(fā)揮納米壓痕測(cè)試儀多功能性
需要使用單個(gè)測(cè)量頭進(jìn)行 QC 壓痕測(cè)試,還是需要使用多頭設(shè)置進(jìn)行完整的表面力學(xué)表征測(cè)試?Step 平臺(tái)能為專業(yè)實(shí)驗(yàn)室中使用的單一用途以及跨多個(gè)部門的共享儀器提供解決方案。
技術(shù)規(guī)格
最大載荷 [mN] | 500 |
載荷分辨率 [nN] | 20 |
載荷背底噪聲 [rms] [μN(yùn)] | ≤0.5 |
加載速度 [mN/min] | 高達(dá) 10000 |
深度量程 [μm] | 200 |
深度分辨率 [nm] | 0.01 |
深度背底噪聲 [rms] [nm] | ≤0.15 |
數(shù)據(jù)采集頻率 [kHz] | 192 |
選件 | |
液體測(cè)試 | ? |