MARS1000 顯微角分辨光譜儀
| 參考價 | ￥ 2000000 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌 貝拓科學(xué)
- 型號 MARS1000
- 產(chǎn)地 中國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/9/6 10:39:48
- 訪問次數(shù) 887
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廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2010年8月，是國家高業(yè)，廣州科技小巨人企業(yè)，并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌（股權(quán)代碼：892081），通過ISO9001-2015質(zhì)量體系認(rèn)證和知識產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)定體系，擁有近20項(xiàng)國家磚利。貝拓科學(xué)一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域，自主研發(fā)儀器有光學(xué)接觸角測量儀，顯微拉曼光譜儀，表界面張力儀，白光干涉膜厚分析儀，陣列式紫外可見分光光度計，積分球式透反射率測試儀等。具備光學(xué)設(shè)計、機(jī)械設(shè)計、軟件編寫和算法編寫核心能力，和中山大學(xué)、廣州大學(xué)、華南師范大學(xué)有緊密的合作關(guān)系，并且是廣州大學(xué)物理與光電學(xué)院的長期實(shí)習(xí)基地。貝拓科學(xué)所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國內(nèi)高水平，未來面向市場。
貝拓科學(xué)陪伴著科學(xué)家一起探索未知事件，“Touch the future”作為我們的口號，貝拓科學(xué)尊重以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目茖W(xué)理論為指導(dǎo)，為科學(xué)家提供有力的科研工具。我們默默堅(jiān)持做前沿分析儀器的搬運(yùn)工，陪伴科學(xué)家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家，例如：日本Hitachi，德國WITec,德國Bruker，英國OXFORD，美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強(qiáng)和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理，一起為中國的科學(xué)家提供專業(yè)的服務(wù)。
我們的宗旨是為科學(xué)學(xué)提供更專業(yè)，更貼心的服務(wù)。
我們的優(yōu)勢和專注點(diǎn)集中于材料測試方面，為了普惠科研工作者，我們還提供測試服務(wù)，其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。
材料分析領(lǐng)域代理品牌：
OXFORD（牛津）、FEI（賽默飛）、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI（日立）、OTO（中國臺灣超微光學(xué)）、WITec（威泰克）、BRUKER（布魯克）、普析、徠卡、本原納米等。
接觸角測量儀、在線測厚儀、光學(xué)膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀
| 波長范圍 | 400~100nm/900~1650nmnm | 價格區(qū)間 | 200萬-500萬 |
|---|---|---|---|
| 儀器原理 | 光柵掃描型 | 儀器種類 | 實(shí)驗(yàn)室級別 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,建材,汽車 |
顯微角分辨光譜技術(shù)是一種直接觀測微納米材料中電磁模式色散關(guān)系的方法，是現(xiàn)在實(shí)驗(yàn)手段中為數(shù)不多的能直接定量測量材料的電磁模式色散關(guān)系的工具。貝拓科學(xué)顯微角分辨光譜儀MARS1000利用顯微角分辨光譜技術(shù)對光子與微納米材料相互作用機(jī)制的深入研究，對于了解凝聚態(tài)物質(zhì)基本性質(zhì)、掌握微納結(jié)構(gòu)中的特殊的電磁模式的色散關(guān)系，并應(yīng)用于微型化光電器件的開發(fā)，都具有重要的理論和實(shí)際意義。
工作原理:
顯微角分辨技術(shù)利用共軛面成像，包括物鏡后焦平面、全內(nèi)反射平面、和角分辨平面，可用細(xì)光纖作為光源在全內(nèi)反射平面形成方向一致的平行光，在角分辨平面上匯聚入光纖，實(shí)現(xiàn)顯微級別角分辨光譜分析。顯微角分辨光譜儀通過在全內(nèi)反射平面和角分辨平面上對光纖端面的位置進(jìn)行實(shí)空間掃描，即可以實(shí)現(xiàn)特定角度的入射和出射，從而實(shí)現(xiàn)角分辨的光譜測量。
儀器特點(diǎn):
● 結(jié)合了顯微鏡和光譜儀的功能，可以同時進(jìn)行樣品的微觀結(jié)構(gòu)觀察和光譜特性分析
● 提供高分辨率的顯微觀察和光譜分析，可以捕捉到微小尺寸的細(xì)節(jié)，并以更高的精度解析光譜信號
● 可以提供樣品的光譜特性信息，包括吸收、發(fā)射、散射等光學(xué)性質(zhì)
● 可收集從不同角度樣品的光譜數(shù)據(jù)，提高數(shù)據(jù)的可靠性和全面性
技術(shù)參數(shù):
光譜波段 | 400~1100nm（可見）/900~1650nm（近紅外） |
波長分辨率 | 2.5nm |
近紅外波段光譜儀 | 6.88nm |
反射入射角度范圍 | -60°~60°（可見）/-50°~50°（近紅外） |
透射入射角度范圍 | -50°~50°（可見）/-50°~50°（近紅外） |
接收角度范圍及角度分辨率 | -60°~60°（可見），-50°~50°（近紅外）、0.5° |
定角度入射角分辨率 | ＜5° |
調(diào)節(jié)維度 | 寬度 W、高度 H、角度 θ |
| 選區(qū)范圍 | Φ 10~180 μm |
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