HR-ER-CL 高分辨率光譜儀
- 公司名稱 KEWLAB-杭州秋籟科技有限公司
- 品牌 KEWLAB/澳洲
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/22 11:17:28
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離心機(jī),顯微鏡,磁力攪拌器,移液器,天平,混勻器,超聲波清洗機(jī),冷水機(jī),水分儀,里氏硬度計(jì),工業(yè)內(nèi)窺鏡,COD消解器,超聲波細(xì)胞破碎儀,激光光束分析儀,光源,積分球,光學(xué)系統(tǒng),光學(xué)棱鏡,光學(xué)透鏡,晶體光學(xué),平面光學(xué)窗口和反射鏡基底等光學(xué)儀器和元件
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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HR-ER-CL 高分辨率光譜儀,采用高分辨率光機(jī)平臺(tái),配置先進(jìn)的線陣探測(cè)器,是一款結(jié)構(gòu)緊湊、攜帶方便的微型光纖光譜儀。動(dòng)態(tài)范圍最大可至10000:1,積分時(shí)間可達(dá)0.5ms, 同時(shí)信噪比提高到600:1,支持RS232/RS422通訊,增強(qiáng)了抗干擾性能,更適用于科研及工業(yè)生產(chǎn)的光譜測(cè)量應(yīng)用,具有高靈敏度、高分辨率、高量子效率和高動(dòng)態(tài)范圍的特點(diǎn)。
HR-ER-CL 高分辨率光譜儀的探測(cè)器覆蓋范圍為180-1100nm,用戶可以選擇不同的光柵配置,得到不同的光學(xué)分辨率和光譜響應(yīng)范圍,以滿足不同的應(yīng)用需求。另外針對(duì)其它波段380-900nm/300-1100nm/250-400nm等,可以提供OEM定制。
性能特點(diǎn):
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結(jié)構(gòu)緊湊,便于攜帶與系統(tǒng)集成
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交叉非對(duì)稱C-T光路結(jié)構(gòu),有效抑制雜散光
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180~1100nm寬光譜響應(yīng)均衡
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高靈敏響應(yīng),實(shí)現(xiàn)弱光探測(cè)
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多種狹縫、透鏡、光柵可選,搭配靈活
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USB通信,即插即用,高速傳輸
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支持二次開(kāi)發(fā),支持OEM集成
應(yīng)用領(lǐng)域:
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激光器中心波長(zhǎng)測(cè)量
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透射/反射測(cè)量
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輻射測(cè)量
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吸光度測(cè)量
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薄膜測(cè)量
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顏色測(cè)量
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熒光測(cè)量
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激光光譜測(cè)量
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太陽(yáng)光譜測(cè)量
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LIBS光譜測(cè)量
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生化、醫(yī)學(xué)分析
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農(nóng)業(yè)與食品檢測(cè)
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水質(zhì)分析檢測(cè)
探測(cè)器 | 濱松S11639線陣CMOS |
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波長(zhǎng)范圍 | 200-1000nm |
工作溫度 | 5℃ -35℃(推薦溫度25℃) |
像素 | 2048像素,像元尺寸:14 µm×200 µm |
狹縫 | 5μm |
光學(xué)分辨率 | ~0.6nm |
信噪比 | 600:1全光譜 |
線性度 | >99% |
雜散光 | <0.1% (600nm, 435nm) |
A/D | 16 bit |
積分時(shí)間 | 0.5ms - 10s |
動(dòng)態(tài)范圍 | 10000:1 |
功耗 | 250 mA, 5 VDC |
通信接口 | USB2.0(12Mbps) RS232(115200bps) |
外觸發(fā)模式 | 軟件觸發(fā),硬件觸發(fā),同步觸發(fā) |
光纖接口 | SMA905 |
電源 | USB 或 5VDC |
尺寸 | 140mm x 110mm x 46mm |
儀器重量 | 0.7 Kg |
微軟操作系統(tǒng) | Win XP, Win7,Win8, Win10 |