Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站
- 公司名稱 深圳市錫成科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) Uniscan M470
- 產(chǎn)地 法國(guó)
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/8/7 15:15:02
- 訪問(wèn)次數(shù) 531
微區(qū)掃描電化學(xué)工作站掃描電化學(xué)工作站微區(qū)電化學(xué)探針掃描電化學(xué)測(cè)試
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臺(tái)階儀,光學(xué)輪廓儀,電化學(xué)工作站,納米壓痕儀,力電聯(lián)測(cè)材料試驗(yàn)機(jī),介電溫譜測(cè)量系統(tǒng),電阻測(cè)試儀,原子力顯微鏡,光學(xué)顯微鏡
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
儀器種類 | 電化學(xué)工作站 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
Uniscan M470
微區(qū)掃描電化學(xué)工作站基于電化學(xué)掃描探針設(shè)計(jì),具有超高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng),快速精準(zhǔn)的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米級(jí)研究的需求而特別設(shè)計(jì)。目前已迭代至第四代掃描探針系統(tǒng),是最靈活的電化學(xué)掃描探針工作平臺(tái),適配多種探針技術(shù)和不同模塊。
9種探針技術(shù)
掃描電化學(xué)顯微系統(tǒng)(SECM)
交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)(ac-SECM)
間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)(ic-SECM)
微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試系統(tǒng)(LEIS)
掃描振動(dòng)點(diǎn)擊測(cè)試系統(tǒng)(SVET)
電解液微滴掃描系統(tǒng)(SDS)
交流電解液微滴掃描系統(tǒng)(ac-SDS)
掃描開(kāi)爾文探針測(cè)試系統(tǒng)(SKP)
非觸式微區(qū)形貌測(cè)試系統(tǒng)(OSP)
M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站特征:
SECM自動(dòng)處理曲線。
SECM用戶自定義處理曲線步長(zhǎng)變化。
高分辨率讀取。
手動(dòng)或自動(dòng)調(diào)節(jié)相位。
傾斜校正。
X或Y曲線相減(5階多項(xiàng)式)。
2D或3D快速傅里葉變化。
實(shí)驗(yàn),探針移動(dòng)和區(qū)域繪圖的自動(dòng)排序。
圖形實(shí)驗(yàn)測(cè)序引擎(GESE)。
支持多區(qū)域掃描。
所有實(shí)驗(yàn)多個(gè)數(shù)據(jù)視圖。
峰值分析。
掃描工作臺(tái)(適配所有探針技術(shù))
掃描范圍(x,y,z):大于100mm
掃描驅(qū)動(dòng)分辨率 :高0.1nm
閉環(huán)定位:線性零滯后編碼器,直接實(shí)時(shí)讀出x,z和y位移
軸分辨率(x,y,z):20nm
大掃描速度:12.5mm/s
壓電(ic-和ac-掃描探針技術(shù))
振動(dòng)范圍:20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量
最小振動(dòng)分辨率:0.12nm(16-bit DAC,4μm)
壓電晶體伸展:100μm
定位分辨率 :0.09nm(20-bit DAC ,100μm)