Leica LAS X ID Modules 清潔度分析軟件 -領(lǐng)拓儀器
- 公司名稱 廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/9/9 13:47:01
- 訪問次數(shù) 229
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· 通過多樣品測量改善工作流程
· 滿足國際、國家標準以及個性化要求
· 通過激光光譜獲得用于識別污染源的更多信息
同時分析多個樣品,提高工作流程效率,借助自動化顆粒分析簡化您的過程。例如,將來自一個過濾過程的多個過濾樣品組合到一個單一批次進行分析,并為每個過濾器分配不同的顆粒分類設置。輕松生成報告,共享您的結(jié)果。
現(xiàn)在,您可以
- 在每個批次中一次分析多個過濾器,節(jié)省時間
- 設置不同的顆粒分類參數(shù),例如每種過濾器的長度和寬度限值
- 以圓形或矩形掃描圖形進行測量
- 使用顯微鏡進行除技術(shù)清潔度分析以外的其他任務
檢查是產(chǎn)品安全的重要步驟,對于產(chǎn)品的可靠性和標準合規(guī)性非常關(guān)鍵。為了獲得必要的證明書,記錄零部件的清潔度至關(guān)重要。
清潔度軟件有助于
- 按照各種國際和國家標準對您的技術(shù)清潔度進行分類
- 兼顧個性化要求
- 通過存儲和調(diào)用功能獲得可靠、可重復的結(jié)果
- 通過測量顆粒高度,而不僅僅是長度和寬度,全面測定顆粒造成損害的可能性
- 根據(jù)外部或內(nèi)部標準快速生成報告
何必費心搜尋 – 分析全搞定!
假如您可以將目視檢查和化學檢查組合在一個工作流程解決方案中,將會為污染源識別帶來莫大的幫助。清潔度軟件與的全新激光誘導擊穿光譜 (LIBS) 系統(tǒng)相結(jié)合,為您帶來靈活的二合一分析解決方案。輕松快速地掌握污染的更多信息,為您的業(yè)務帶來決策優(yōu)勢。
LIBS 的靈活性
- 無需將顆粒傳輸?shù)诫娮语@微鏡 (SEM) 或其他設備,即可獲得顆粒的化學指紋圖譜
- 消除額外的樣品制備和系統(tǒng)調(diào)節(jié)
- 在內(nèi)部進行化學分析,節(jié)省時間和資金
- 根據(jù)光學信息和化學信息作出明智決策
清潔度軟件的設計以用戶為出發(fā)點。用戶界面可根據(jù)特定需求進行配置,使得不同熟練程度的操作者可以輕松瀏覽。軟件通過直觀的方式指導用戶快速開始分析。為得到可靠、可復制的結(jié)果,所以系統(tǒng)設置存儲在一個配置文件中,可自動調(diào)用。
選擇 清潔度軟件
- 輕松快速地區(qū)分反光 (金屬) 顆粒和非反光顆粒
- 自動調(diào)焦和自動檢測功能
- 互動式過濾圖,在查看結(jié)果的過程中顯示動態(tài)圖像的位置
- 軟件由編碼顯微鏡進行校準,因此自動化分析準確無誤
- 輕松生成報告,共享您的結(jié)果
從兩大企業(yè)的強強聯(lián)合中受益
通過“來源單一”的“成套”清潔度分析解決方案優(yōu)化您的清潔度工作流程。
徠卡和 Pall 共同推出了、完備的部件清潔度集成工作流程解決方案。從提取 (例如從部件上分離顆粒) 到使用合適的徠卡光學評估系統(tǒng)完成分析,PALL 提供全面的整套解決方案來裝備您的清潔度實驗室。
工作流程包括
- 來自 Pall 的清洗機和過濾器
- 來自徠卡的光學和化學分析解決方案
- 由來自徠卡和 Pall 的應用專家提出工作流程優(yōu)化建議