美國KEYSIGHT是德LCR電橋E4980A
- 公司名稱 上海堅融實業(yè)有限公司
- 品牌 KEYSIGHT/美國是德
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/8/21 11:05:37
- 訪問次數(shù) 1042
美國是德E4980ALLCR電橋E4980ALE4980ALKeysight LCR電橋Keysight E4980AL
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堅融實業(yè)——致力于為祖國用戶提供儀器設(shè)備售前演示實測、測試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修計量，全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商!
專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應(yīng)商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，專注工業(yè)測試行業(yè)十六年，志在破舊立新！填BU進口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國內(nèi)設(shè)銷售點，但技術(shù)支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗，以我們先進獨TE的經(jīng)營理念，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購與技術(shù)工程師的工作，提供具競爭力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。十六年精耕細(xì)作于儀器設(shè)備售前演示實測、測試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修服務(wù)。
經(jīng)營品牌及產(chǎn)品：
一、測試技術(shù)方案【我們根據(jù)用戶實際應(yīng)用，撰寫有上百篇技術(shù)測試應(yīng)用文章】：
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二、環(huán)境可靠性試驗/拉力試驗/幾何精密測量/機器人手臂：
愛斯佩克ESPEC/賓德BINDER/廣五所GWS/偉思富奇Weiss-Technik烘箱、
高低溫試驗箱、恒溫恒濕箱、冷熱沖擊箱、鹽霧箱。沖擊跌落機、振動臺、英斯特朗INSTRON拉力試驗機。海克斯康HEXAGON/蔡司ZEISS/法如FARO三坐標(biāo)測量儀/智能機械人手臂。
三、靜電檢測消除：
DESCO/KLEINWACHTER防靜電電阻測試儀、靜電測試儀、離子風(fēng)機、靜電吸塵器、手腕帶防靜電鞋ESD測試儀、電荷電量庫侖計、MET ONE百級潔凈室塵埃粒子計。
四、電子測量儀器：
是德KEYSIGHT/泰克Tektronix/KEITHLEY/ADCMT/日置HIOKI/普源RIGOL/致茂Chroma/羅德R&S/德國EA電源、電子負(fù)載、萬用表、數(shù)據(jù)采集、皮安表、源表、靜電計、高阻表、半導(dǎo)體圖示儀、信號源、示波器、頻譜儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、功率計、電池測試儀。ZEROPLUS邏輯分析儀、Wayne Kerr LCR電橋、阻抗分析儀、FOTRIC紅外熱像儀、菊水KIKUSUI/華儀EEC/高美GMC-I耐壓絕緣接地漏電流測試儀。
五、生物制藥化學(xué)實驗儀器/傳感器：
賽默飛Thermo元素分析儀、博勒飛BrookField粘度計、安捷倫Agilent色譜/質(zhì)譜/光譜儀、萬通Metrohm滴定儀、電化學(xué)工作站、梅特勒METTLER/威卡WIKA壓力/流量/PH/溶氧/電導(dǎo)率傳感器，天平。艾卡IKA/Sartorius發(fā)酵罐、水分儀。愛色麗X-rite/美能達(dá)Minolta色彩分析儀、光度/亮度/照度計。COSMOS潤滑油鐵粉濃度計。
六、金相設(shè)備耗材：
賀利氏Heraeus/司特爾Struers/標(biāo)樂Buehler切割機、研磨拋光機、鑲嵌機、顯微鏡、硬度計。
企業(yè)在銷售過程中根據(jù)給用戶實際測試使用撰寫有《芯片集成電路I2C、SPI測試》、《存儲器SD4.1、eMMC5.1測試》、《電腦周邊USB3.0、UART測試》、《CAN、LIN、FlexRay、SENT汽車電子總線測試》、《MVB、WTB總線軌道交通測試方案》、《電源管理系統(tǒng)BMS測試》、《音視頻多媒體MIPI/HDMI/DP AUX/SoundWire測試》、《GB/T國標(biāo)、ANSI/ASTM美標(biāo)之材料表面電阻和體積電阻率測試方案》、《防靜電地板/臺面/鞋服/橡膠絕緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規(guī)范防靜電測試》、《電子電器/防靜電產(chǎn)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標(biāo)準(zhǔn)靜電消散測試》、《基于LCR電橋/阻抗分析儀/網(wǎng)絡(luò)分析儀之介電常數(shù)、電導(dǎo)率測試評估》、《6517B與B2985A高阻表測量電阻/體積電阻率》、《新材料先進半導(dǎo)體微電流/微電阻/低噪聲測試》、《循環(huán)伏安法CV電化學(xué)實驗系統(tǒng)工作站測量線性掃描伏安特性CV、電流-時間曲線I-t、電勢、電沉積、電阻率》、《基于源表和轉(zhuǎn)換開關(guān)的霍爾效應(yīng)與范德堡測試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半導(dǎo)體晶體管特性曲線分析》、《電波暗室EMC電磁兼容測試》、《基于頻譜分析儀的EMI輻射預(yù)測試》、《相噪/頻響/數(shù)字模擬高速信號采集/射頻微波測試》、《音視頻綜合測試分析》、《Wi-Fi/藍(lán)牙Bluetooth/LTE/GPS測試》、《大眾VW80000/通用GMW3172/ISO7637瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾/ISO16750電源故障模擬標(biāo)準(zhǔn)測試》、《鑲嵌機、磨拋機在電子零部件中的應(yīng)用》、《Agilent34970A，KEITHLEY2700數(shù)據(jù)采集監(jiān)測多路溫度/電壓/電阻》、《精密電流源/納伏表納米超導(dǎo)材料，繼電器開關(guān)，汽車電子連接器微小電阻測試》、《靜電電量Static Charge電荷庫侖Coulomb測試方案》、《基于KEITHLEY6514靜電計，DMM7510圖形萬用表和高速示波器之nanogeneration納米發(fā)電機實驗》、《基于皮安表的元器件/電路板泄漏電流，二極管暗電流測試》、《基于KEITHLEY2460-EC電化學(xué)工作站/恒電位測試》、《石墨烯/碳納米/晶體管測試》、《半導(dǎo)體材料SiC，GaN等電流/電壓特性分析和功能測試》、《光電子/納米電子器件測試》、《LED照明測試》、《OLED，TFT LCD液晶顯示集成電路及材料測試》、《IoT物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備低功耗測試》、《大功率編程電源/負(fù)載的太陽能光伏、新能源汽車、充電樁、燃料電池測試》、《機電/材料/生物醫(yī)學(xué)/汽車電子云熱像》、《ABS防抱死制動系統(tǒng)、SRS汽車安全氣囊、TPMS胎壓監(jiān)測測試系統(tǒng)》、《薄膜/膠片介電擊穿/電氣強度試驗》、《橡膠/電芯/陶瓷絕緣電阻試驗》、《符合IEC61215、IEC61730光伏標(biāo)準(zhǔn)耐壓測試方法》、《GB/T 1695硫化橡膠擊穿電壓強度和耐電壓測定方法》、《GB/T 24344工業(yè)機械電氣設(shè)備耐壓試驗規(guī)范》、《基于GB/T、IEC、EN、UL、VDE、JIS等各國安全規(guī)范要求》、《符合IEC、JIS、UL各類標(biāo)準(zhǔn)的醫(yī)療器械泄漏電流測試》、《燈具/開關(guān)插座/EV充電樁接地電阻測試》、《干濕球、不飽和、濕潤飽和模式高壓加速老化試驗》、《腐蝕性物質(zhì)高低溫環(huán)境可靠試驗》、《汽車電子零部件/內(nèi)飾件高低溫冷熱沖擊試驗》、《樹脂、涂料、油漆、膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱》等上百篇技術(shù)測試應(yīng)用解決方案文章，為工業(yè)測試行業(yè)做出了我們應(yīng)有的貢獻(xiàn)。
堅忍不拔 圓融通達(dá) 是我們秉承的理念，嚶其鳴矣 求其友聲，我們渴望跟更多志同道合的同仁共建至真至誠共贏合作，為祖國測試行業(yè)“添磚加瓦”！
代理授權(quán)證/技術(shù)培訓(xùn)證：
用戶培訓(xùn)：
總線測試協(xié)議解碼邏輯分析儀，靜電阻/靜電場測試儀，源表，干燥箱烘箱，高低溫恒溫恒濕試驗箱，LCR阻抗分析儀，示波器，頻譜儀，耐壓絕緣電阻測試儀
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 類型 | 智能LCR測量儀 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
堅融實業(yè)——專注工業(yè)測試行業(yè)十六年！
致力于儀器設(shè)備售前演示實測、測試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修服務(wù)。
堅融實業(yè)——一家真正有技術(shù)支持的儀器儀表設(shè)備供應(yīng)商！
美國是德Keysight LCR電橋E4980AL-032 20Hz to 300 kHz with DCR
美國是德Keysight LCR電橋E4980AL-052 20Hz to 500 kHz with DCR
美國是德Keysight LCR電橋E4980AL-102 20Hz to 1 MHz with DCR
美國是德KEYSIGHT E4980AL LCR電橋 精密LCR表，20 Hz至2 MHz
測量參數(shù)
– Cp-D、 Cp-Q、 Cp-G、 Cp-Rp
– Cs-D、 Cs-Q、 Cs-Rs
– Lp-D、 Lp-Q、 Lp-G、 Lp-Rp、 Lp-Rdc
– Ls-D、 Ls-Q、 Ls-Rs、 Ls-Rdc
– R-X
– Z-qd、 Z-qr
– G-B
– Y-qd、 Y-qr
– Vdc-Idc1
定義
Cp 通過并聯(lián)等效電路模型測得的電容值
Cs 通過串聯(lián)等效電路模型測得的電容值
Lp 通過并聯(lián)等效電路模型測得的電感值
Ls 通過串聯(lián)等效電路模型測得的電感值
D 損耗因數(shù)
Q 品質(zhì)因數(shù)（D 的倒數(shù)）
G 通過并聯(lián)等效電路模型測得的等效并聯(lián)電導(dǎo)
Rp 通過并聯(lián)等效電路模型測得的等效并聯(lián)電阻
Rs 通過串聯(lián)等效電路模型測得的等效串聯(lián)電阻
Rdc 直流電阻
R 電阻
X 電抗
Z 阻抗
Y 導(dǎo)納
qd 阻抗/導(dǎo)納相位角（角度）
qr 阻抗/導(dǎo)納相位角（弧度）
B 電納
Vdc 直流電壓
Idc 直流電流
偏差測量功能： 參考值偏差以及參考值偏差百分比可以作為結(jié)果輸出。
測量等效電路： 并聯(lián)、串聯(lián)
阻抗范圍選擇： 自動（自動范圍模式）、手動（保持范圍模式）
觸發(fā)模式： 內(nèi)部觸發(fā)（ INT）、手動觸發(fā)（ MAN）、外部觸發(fā)（ EXT）、 GPIB 觸發(fā)（BUS）
美國KEYSIGHT是德LCR電橋E4980A基本技術(shù)指標(biāo)
1. 觸發(fā)時延范圍 0 s - 999 s
分辨率 100 µs (0 s - 100 s)
1 ms (100 s - 999 s)
表 2. 階躍時延
范圍 0 s - 999 s
分辨率 100 µs (0 s - 100 s)
1 ms (100 s - 999 s)
測量端子： 四端子對
測試線纜長度： 0 m、 1 m、 2 m、 4 m
測量時間模式：短時間（SHORT）模式、中等長度時間（MED）模式、長時間（LONG）模式。
表 3. 平均值
范圍 1 - 256 次測量
分辨率 1
測試信號
表 4. 測試頻率
測試頻率 20 Hz - 2 MHz (E4980A)
20 Hz - 1 MHz (E4980AL-102)
20 Hz - 500 kHz (E4980AL-052)
20 Hz - 300 kHz (E4980AL-032)
分辨率 0.01 Hz (20 Hz - 99.99 Hz)
0.1 Hz (100 Hz - 999.9 Hz)
1 Hz (1 kHz - 9.999 kHz)
10 Hz (10 kHz - 99.99 kHz)
100 Hz (100 kHz - 999.9 kHz)
1 kHz (1 MHz - 2 MHz)
測量精度 ±0.01%
表 5. 測試信號模式
常規(guī) 在測量端子開路或短路時，程序分別選擇的電壓或電流。
恒定 無論被測器件阻抗如何變化，均在被測器件上維持選定的電壓或電流。
表 6. 測試信號電壓
范圍 0 Vrms - 2.0 Vrms
分辨率 100 µVrms (0 Vrms - 0.2 Vrms)
200 µVrms (0.2 Vrms - 0.5 Vrms)
500 µVrms (0.5 Vrms - 1 Vrms)
1 mVrms (1 Vrms - 2 Vrms)
精度 常規(guī) ±(10% + 1 mVrms) 測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)
測試頻率 > 1 MHz：典型值
恒定1 ±(6% + 1 mVrms) 測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)
測試頻率 > 1 MHz：典型值
表 7. 測試信號電流
范圍 0 Arms - 20 mArms
分辨率 1 µArms (0 Arms - 2 mArms)
2 µArms (2 mArms - 5 mArms)
5 µArms (5 mArms - 10 mArms)
10 µArms (10 mArms - 20 mArms)
精度 常規(guī) ±(10% + 10 µArms) 測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)
測試頻率 > 1 MHz：典型值
恒定1 ±(6% + 10 µArms) 測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)
測試頻率 > 1 MHz：典型值
輸出阻抗： 100 Ω（標(biāo)稱值）
測試信號電平監(jiān)測功能
– 可以監(jiān)測測試信號的電壓和電流。
– 電平監(jiān)測精度：
表 8. 測試信號電壓監(jiān)測精度（Vac）
測試信號電壓2 測試頻率 技術(shù)指標(biāo)
5 mVrms - 2 Vrms ≤ 1 MHz ±（讀數(shù)的 3% + 0.5 mVrms）
> 1 MHz ±（讀數(shù)的 6% + 1 mVrms）
表 9. 測試信號電流監(jiān)測精度（lac）
測試信號電流2 測試頻率 技術(shù)指標(biāo)
50 µArms - 20 mArms ≤ 1 MHz
> 1 MHz
±（讀數(shù)的 3% + 5 µArms）
±（讀數(shù)的 6% + 10 µArms）
1. 當(dāng)自動電平控制功能開啟時。
2. 這不是輸出值，而是顯示的測試信號電平。
表 10 列出了屏幕上可以顯示的測量值范圍。對于有效的測量范圍，參見圖 1 中的阻抗
測量精度示例。
表 10. 允許的測量值顯示范圍
參數(shù) 測量顯示范圍
Cs、 Cp ± 1.000000 aF 至 999.9999 EF
Ls、 Lp ±1.000000 aH 至 999.9999 EH
D ±0.000001 至 9.999999
Q ±0.01 至 99999.99
R、 Rs、 Rp、 X、 Z、 Rdc ±1.000000 a? 至 999.9999 E?
G、 B、 Y ±1.000000 aS 至 999.9999 ES
Vdc ±1.000000 aV 至 999.9999 EV
Idc ±1.000000 aA 至 999.9999 EA
qr ±1.000000 arad 至 3.141593 rad
qd ±0.0001 deg 至 180.0000 deg
?% ±0.0001% 至 999.9999%
a： 1 x 10-18、 E: 1 x 1018
絕對測量精度
絕對精度使用以下方程式來計算。
|Z|、 |Y|、 L、 C、 R、 X、 G、 B 的絕對精度 Aa（當(dāng)Dx ≤ 0.1 時， L、 C、 X 和 B 精度適
用，當(dāng) Qx ≤ 0.1 時， R 和 G 精度適用）
當(dāng) Dx ≥ 0.1，用 Acal 乘以 √1+D2x， 得到 L、 C、 X 和 B 精度
當(dāng) Qx ≥ 0.1，用 Acal 乘以 √1+Q2x ，得到 R 和 G 精度
在交流磁場中，可以使用以下方程式來計算測量精度。
A x (1 + B x ( 2 + 0.5 / Vs))
其中 A 絕對精度
B 磁感應(yīng)強度 [Gauss]
Vs 測試信號電壓電平 [V]
方程式 1： Aa = Ae + Acal
Aa 絕對精度（讀數(shù)的 %）
Ae 相對精度（讀數(shù)的 %）
Acal 校準(zhǔn)精度（%）
其中， G 精度僅適用于 G-B 測量。
D 精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時）
方程式 2： De +qcal
Dx 測得的 D 值
De D 的相對精度
qcal q 的校準(zhǔn)精度（弧度）
當(dāng) 0.1 < Dx ≤ 1 時，用 qcal 乘以 (1 + Dx)
Q 精度（當(dāng) Qx × Da < 1 時）
方程式 3： (Qx2 × Da)
± ————————————
(1 ± Qx × Da)
Qx 測得的 Q 值
Da D 的絕對精度
q 精度
方程式 4： qe + qcal
qe q 的相對精度（角度）
qcal q 的校準(zhǔn)精度（角度）G 精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時）
方程式 5： Bx + Da (S)
1
Bx = 2πfCx = ——————
2πfLx
Dx 測得的 D 值
Bx 測得的 B 值 (S)
Da D 的絕對精度
f 測量頻率 (Hz)
Cx 測得的 C 值 (F)
Lx 測得的 L 值 (H)
其中， G 精度適用于 Cp-G 測量。
Rp 的絕對精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時）
方程式 6： Rpx × Da
±————————— (?)
Dx± Da
Rpx 測得的 Rp 值 (Ω)
Dx 測得的 D 值
Da D 的絕對精度
Rs 的絕對精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時）
方程式 7： Xx × Da (?)
1
Xx = ——————= 2πfLx
2πfCx
Dx 測得的 D 值
Xx 測得的 X 值 (?)
Da D 的絕對精度
f 測試頻率 (Hz)
Cx 測得的 C 值 (F)
Lx 測得的 L 值 (H)
1. 當(dāng)計算結(jié)果為負(fù)值時，應(yīng)用 0 A。
相對精度
相對精度包括穩(wěn)定度、溫度系數(shù)、線性度、重復(fù)度以及校準(zhǔn)內(nèi)插值誤差。相對精度是在滿足以下所有條件時規(guī)定的：
– 預(yù)熱時間： 30 分鐘
– 測試線纜長度： 0 m、 1 m、 2 m 或 4 m（Keysight 16048A/D/E）
– 沒有顯示“信號源過載”警告。
當(dāng)測試信號電流超過下面表 11 中的值時， LCR 表會顯示“信號源過載”警告。
表 11.
測試信號電壓 測試頻率 條件1
≤ 2 Vrms – –
> 2 Vrms ≤ 1 MHz 110 mA 或 130 mA - 0.0015 × Vac × (Fm / 1 MHz) ×
(L_cable + 0.5)，取較小值
> 1 MHz 70 mA - 0.0015 × Vac × (Fm / 1 MHz) × (L_cable + 0.5)
Vac [V] 測試信號電壓
Fm [Hz] 測試頻率
L_cable [m] 線纜長度
– 已進行了開路和短路校正。
– 偏置電流隔離：關(guān)閉
– 直流偏置電流不會超過每個直流偏置電流范圍內(nèi)的設(shè)定值
– 通過將被測器件的阻抗與有效測量范圍匹配，選擇最佳阻抗范圍。
|Z|、 |Y|、 L、 C、 R、 X、 G 和 B 精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時， L、 C、 X 和 B 精度適用；當(dāng) Qx ≤0.1 時， R 和 G 精度適用）
當(dāng) Dx > 0.1 時，用 Ae 乘以 √1+D2x ，得到 L、 C、 X 和 B 精度
當(dāng) Qx > 0.1 時，用 Ae 乘以 √1+Q2x ，得到 R 和 G 精度
相對精度 Ae 按下式計算：
方程式 8： Ae = [Ab + Zs /|Zm| × 100 + Yo × |Zm| × 100 ] × Kt
Zm 被測器件阻抗
Ab 基本精度
Zs 短路偏置
Yo 開路偏置
Kt 溫度系數(shù)
D 精度
當(dāng) Dx ≤ 0.1 時， D 精度 De 按下式計算：
方程式 9： De = ±Ae/100
Dx 測得的 D 值
Ae |Z|、 |Y|、 L、 C、 R、 X、 G 和 B 的相對精度
當(dāng) 0.1 < Dx ≤ 1 時，用 De 乘以 (1 + Dx)
Q 精度（當(dāng) Q x De < 1 時）
Q 精度 Qe 按下式計算：
方程式 10： (Qx2 × De)
Qe = ± —————————————
(1± Qx × De)
Qx 測得的 Q 值
De 相對 D 精度
q 精度
q 精度 θ e 按下式計算：
方程式 11: 180 × Ae
qe = (deg)
π × 100
Ae |Z|、 |Y|、 L、 C、 R、 X、 G 和 B 的相對精度
G 精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時）
G 精度 Ge 按下式計算：
方程式 12： Ge = Bx × De (S)
1
Bx = 2πfCx = ——————
2πfLx
Ge G 相對精度
Dx 測得的 D 值
Bx 測得的 B 值
De D 相對精度
f 測試頻率 (Hz)
Cx 測得的 C 值 (F)
Lx 測得的 L 值 (H)
Rp 精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時）
Rp 精度 Rpe 按下式計算：
方程式 13： Rpx × De (?)
Rpe = ± ———————————
Dx ± De
Rpe Rp 相對精度
Rpx 測得的 Rp 值 (?)
Dx 測得的 D 值
De D 的相對精度
Rs 精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時）
Rs 精度 Rse 按下式計算：
方程式 14： Rse = Xx × De (?)
1
Xx = —————–—= 2πfLx
2πfCx
Rse Rs 的相對精度
Dx 測得的 D 值
Xx 測得的 X 值 (?)
De D 的相對精度
f 測試頻率 (Hz)
Cx 測得的 C 值 (F)
Lx 測得的L 值 (H)
C-D 精度計算示例
測量條件
測試頻率： 1 kHz
測得的 C 值： 100 nF
測試信號電壓： 1 Vrms
測量時間模式： MED
測量溫度： 23°C
Ab = 0.05%
|Zm| = 1 / (2π × 1 × 103 × 100 × 10-9) = 1590 ?
Zs = 0.6 m? × (1 + 0.400/1) × (1 + √(1000/1000) = 1.68 m?
Yo = 0.5 nS × (1 + 0.100/1) × (1 + √(100/1000) = 0.72 nS
C 精度： Ae = [0.05 + 1.68 m/1590 × 100 + 0.72 n × 1590 × 100] × 1 = 0.05%
D 精度： De = 0.05/100 = 0.0005
基本精度
基本精度 Ab 可通過表 12、 13、 14、 15 獲得。
表 12. 測量時間模式 = SHORT
測試
頻率 [Hz]
測試信號電壓
5 mVrms ≤ -
< 50 mVrms
50 mVrms ≤ -
< 0.3 Vrms
0.3 Vrms ≤ -
1 Vrms
1 Vrms < -
≤ 10 Vrms
10 Vrms < -
≤ 20 Vrms
20 - 125 (0.6%) ×
(50 mVrms/Vs)
0.60% 0.30% 0.30% 0.30%
125 - 1 M (0.2%) ×
(50 mVrms/Vs)
0.20% 0.10% 0.15% 0.15%
1 M - 2 M (0.4%) ×
(50 mVrms/Vs)
0.40% 0.20% 0.30% 0.30%
表 13. 測量時間模式 = MED、 LONG
測試
頻率 [Hz]
測試信號電壓
5 mVrms ≤ -
< 30 mVrms
30 mVrms ≤ -
< 0.3 Vrms
0.3 Vrms ≤ -
≤ 1 Vrms
1 Vrms < -
≤ 10 Vrms
10 Vrms < -
≤ 20 Vrms
20 - 100 (0.25%) ×
(30 mVrms/Vs)
0.25% 0.10% 0.15% 0.15%
100 - 1 M (0.1%) ×
(30 mVrms/Vs)
0.10% 0.05% 0.10% 0.15%
1 M - 2 M (0.2%) ×
(30 mVrms/Vs)
0.20% 0.10% 0.20% 0.30%
Vs [Vrms] 測試信號電壓
被測器件阻抗的效應(yīng)
表 14. 被測器件阻抗低于 30 Ω 時，添加以下值。
測試頻率 [Hz] 被測器件阻抗
1.08 Ω ≤ |Zx| < 30 Ω |Zx| < 1.08 Ω
20 - 1 M 0.05% 0.10%
1 M - 2 M 0.10% 0.20%
表 15. 被測器件阻抗高于 9.2 k Ω 時，添加以下值。
測試頻率 [Hz] 被測器件的阻抗
9.2 kΩ < |Zx| ≤ 92 kΩ 92 kΩ < |Zx|
10 k - 100 k 0% 0.05%
100 k - 1 M 0.05% 0.05%
1 M - 2 M 0.10% 0.10%
電纜延長的效應(yīng)
當(dāng)電纜延長時，每一米增加以下元素。
0.015 % × (Fm/1 MHz)2 × (L_cable)2
Fm [Hz] 測試頻率
L_cable [m] 電纜長度
短路偏置 Zs
表 16. 被測器件阻抗 > 1.08 ?
測試
頻率 [Hz]
測量時間模式
SHORT MED、 LONG
20 - 2 M 2.5 m? × (1 + 0.400/Vs) ×
(1 + √(1000/Fm))
0.6 mΩ × (1 + 0.400/Vs) ×
(1 + √(1000/Fm))
表 17. 被測器件阻抗 ≤ 1.08 ?
測試
頻率 [Hz]
測量時間模式
SHORT MED、 LONG
20 - 2 M 1 m? × (1 + 1/Vs) × (1 + √(1000/Fm)) 0.2 m?× (1 + 1/Vs)× (1 + √(1000/Fm))
Vs [Vrms] 測試信號電壓
Fm [Hz] 測試頻率
電纜延長的效應(yīng)（短路偏置）
表 18. 當(dāng)電纜延長后， Zs 增加以下值（與測量時間模式無關(guān)）。
測試
頻率 [Hz]
電纜長度
0 米 1 米 2 米 4 米
20 - 1 M 0 0.25 m? 0.5 m? 1 m?
1 M - 2 M 0 1 m? 2 m? 4 m?
開路偏置 Yo
表 19. 測試信號電壓 ≤ 2.0 Vrms
測試
頻率 [Hz]
測量時間模式
SHORT MED、 LONG
20 - 100 k 2 nS × (1 + 0.100/Vs) × (1 + √(100/Fm)) 0.5 nS × (1 + 0.100/Vs) × (1 + √(100/Fm))
100 k - 1 M 20 nS × (1 + 0.100/Vs) 5 nS × (1 + 0.100/Vs)
1 M - 2 M 40 nS × (1 + 0.100/Vs) 10 nS × (1 + 0.100/Vs)
表 20. 測試信號電壓 > 2.0 Vrms
測試
頻率 [Hz]
測量時間模式
SHORT MED、 LONG
20 - 100 k 2 nS × (1 + 2/Vs) × (1 + √(100/Fm)) 0.5 nS × (1 + 2/Vs) × (1 + √(100/Fm))
100 k - 1 M 20 nS × (1 + 2/Vs) 5 nS × (1 + 2/Vs)
1 M - 2 M 40 nS × (1 + 2/Vs) 10 nS × (1 + 2/Vs)
Vs [Vrms] 測試信號電壓
Fm [Hz] 測試頻率
說明
由于剩余響應(yīng)，在 40 至 70 kHz 和 80 至 100 kHz
范圍內(nèi)，開路偏置可能變大為原來的三倍。
電纜長度的效應(yīng)
表 21. 當(dāng)電纜延長后，用 Yo 乘以以下因數(shù)。
測試
頻率 [Hz]
電纜長度
0 米 1 米 2 米 4 米
補償功能
表 28. E4980A 提供了三種補償功能：開路補償、短路補償和負(fù)載補償。
補償類型 描述
開路補償 補償測試夾具的雜散導(dǎo)納（C, G）導(dǎo)致的誤差。
短路補償 補償測試夾具的剩余阻抗（L, R）導(dǎo)致的誤差。
負(fù)載補償 補償用戶所需的測量條件下實際測量值與已知標(biāo)準(zhǔn)值之間的誤差。
列表掃描
點數(shù)： 最大點數(shù)為 201 點。
第一個掃描參數(shù)（一次參數(shù)）： 測試頻率、測試信號電壓、測試信號電流、直流偏置信號的測試信號電壓、直流偏置信號的測試信號電流、直流電源電壓。
第二個掃描參數(shù)（二次參數(shù)）： 無、阻抗范圍、測試頻率、測試信號頻率、測試信號電壓、測試信號電流、直流偏置信號的測試信號電壓、直流偏置信號的測試信號電流、直流電源電壓
觸發(fā)模式
順序模式： 一旦觸發(fā) E4980A，它會在所有掃描點測量器件。 /EOM/INDEX 只輸出一次。
步進模式： 每次觸發(fā) E4980A 時，掃描點都會遞增。在每個點上都會輸出 /EOM/INDEX，但只有在最后一個/EOM 輸出后，列表掃描的比較器功能才會提供結(jié)果。
說明
為兩個參數(shù)中的其中一個擇的參數(shù)無法再為另一個參數(shù)選中。無法設(shè)置測試信號電壓與測試信號電流組合，或直流偏置信號的測試信號電壓與直流偏置信號的測試信號電流組合之一。
二次參數(shù)只能通過 SCPI 命令設(shè)置。
美國KEYSIGHT是德LCR電橋E4980A
列表掃描的比較器功能： 比較器功能支持為每個測量點設(shè)置一對上下限值。
您可以選擇： 通過第一個掃描參數(shù)進行判斷/通過第二個參數(shù)進行判斷/不用于每對
限值。
時間戳功能： 在順序模式下，可以將 FW 檢測到觸發(fā)信號的時間定義為 0，以記錄每個
測量點上的測量開始時間，而后通過 SCPI 命令獲取該時間。
比較器功能
Bin 排序： 一次參數(shù)可以排序為 9 個 BIN、 OUT_OF_BINS、 AUX_BIN 和 LOW_C_
REJECT。二次參數(shù)排序為 HIGH、 IN 和 LOW。可以選擇順序模式和容限模式作為分類模式。
限值設(shè)置： 設(shè)置中可以使用絕對值、偏差值 和 % 偏差值。
BIN 計數(shù)： 可從 0 記錄至 999999。
直流偏置信號
表 29. 測試信號電壓
范圍 0 V 至 +2 V
分辨率 僅限 0 V / 1.5 V / 2 V
精度 0.1% + 2 mV (23°C ± 5°C)
(0.1% + 2 mV) × 4
(0 至 18°C 或 28 至 55°C）
輸出阻抗： 100 ?（標(biāo)稱值）
輔助測量功能
數(shù)據(jù)緩存功能： 每個批次最多可以讀取 201 個測量結(jié)果。
保存/調(diào)用功能：
– 可以向內(nèi)置非易失性存儲器中寫入或從其中讀出最多 10 個設(shè)置條件。
– 可以向 USB 存儲器中寫入或從其中讀出最多 10 個設(shè)置條件。
– 在將設(shè)置條件寫入到 USB 存儲器的寄存器 10 時，執(zhí)行自動調(diào)用功能。
按鍵鎖定功能： 可以鎖定前面板按鍵。
GPIB： 引腳 D-Sub（D-24 型），陰頭；符合 IEEE488.1、 2 和 SCPI 標(biāo)準(zhǔn)
USB 主機端口： 通用串行總線插座， Type-A（4 個觸點位置，觸點 1 位于您的左側(cè)），
陰頭（僅限連接 USB 存儲器）。
USB 接口端口： 通用串行總線插座， Type Mini-B（ 4 個觸點位置）；符合 USBTMC-USB488 和 USB 2.0 標(biāo)準(zhǔn)；陰頭；用于連接外部控制器。
USBTMC： USB 測試與測量分類的縮寫
LAN： 10/100 BaseT 以太網(wǎng)， 8 個引腳（兩個速度選項）
LXI 一致性： C 類（僅適用于固化軟件版本 A.02.00 或更高版本的設(shè)備）
說明
可以使用以下 USB 存儲器。
符合 USB 1.1 標(biāo)準(zhǔn)；大容量存儲器類別，
FAT16/FAT32 格式；最大消耗電流低于 500 mA。
推薦使用的 USB 存儲器： 4 GB USB 閃存
（Keysight PN 1819-0637）和 16GB USB 閃
存（Keysight PN 1819-1235）。
使用專門推薦 E4980A 使用的 USB 存儲器，
否則，以前保存的數(shù)據(jù)可能被清除。如果您沒
有使用推薦的 USB 存儲器，那么數(shù)據(jù)可能無
法正常保存或調(diào)用。
對于因使用 E4980A 導(dǎo)致的 USB 存儲器數(shù)據(jù)丟失，是德科技不承擔(dān)責(zé)任。
當(dāng)直流偏置隔離設(shè)置為開啟時，開路偏置 Yo 增加以下值。
方程式 20： Yo_DCI1 × (1 + 1/(Vs)) × (1 + √(500/Fm)) + Yo_DCI2
Zm [?] 被測器件阻抗
Fm [Hz] 測試頻率
Vs [V] 測試信號電壓
Yo_DCI1,2 [S] 利用表 61 和 62 計算此值
Idc [A] 直流偏置隔離電流
表 66. Yo_DCI1 值
直流偏置電流范圍 測量時間模式
SHORT MED、 LONG
20 µA 0 S 0 S
200 µA 0.25 nS 0.05 nS
2 mA 2.5 nS 0.5 nS
20 mA 25 nS 5 nS
100 mA 250 nS 50 nS
表 67. Yo_DCI2 值
直流偏置電流
范圍
測量時間模式
≤ 100 Ω 300 Ω, 1 k Ω 3 k Ω, 10 k Ω 30 k Ω, 100 k Ω
20 µA 0 S 0 S 0 S 0 S
200 µA 0 S 0 S 0 S 0 S
2 mA 0 S 0 S 0 S 3 nS
20 mA 0 S 0 S 30 nS 30 nS
100 mA 0 S 300 nS 300 nS 300 nS
直流偏置建立時間
當(dāng)直流偏置設(shè)置為開啟時，建立時間增加以下值：
表 68. 直流偏置建立時間
偏置 建立時間
1 標(biāo)配 被測器件電容 × 100 × loge (2/1.8 m) + 3 m
2 選件 001 被測器件電容 × 100 × loge (40/1.8 m) + 3 m
10 msec
100 msec
1 sec
10 sec
100 sec
1.
2.
1 µF 10 µF 100 µF 1 mF 10 mF 100 mF
被測器件電容
圖 建立時間
12. 直流偏置建立時間
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