38DL測厚儀主要特性

■可與雙晶探頭和單晶探頭兼容。

■寬泛的厚度測量范圍：0.08毫米?635毫米, 具體可測厚度根據(jù)材料和所選探頭而定。

■使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測厚操作。

■使用穿透涂層(THRU-COAT)技術(shù)和回波到回波功 能，可在帶有漆層和涂層的表面上測量材料的厚度

■內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項。

■對于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。

■在使用頻率范圍為2. 25 MHz?30 MHz的單晶探頭 時，高分辨率軟件選項可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚 度測量。

■多層軟件選項可同時對多層材料的各層進(jìn)行厚度測量, 多可同時測量4層。

■髙穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具 有高衰減性的材料。

■厚度、聲速和渡越時間的測量。

■差分模式和縮減率模式。

■時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可回顧的讀數(shù)。

■帶有數(shù)字式濾波器的奧林巴斯高動態(tài)増益技術(shù)。

■用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。

■設(shè)計符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。

OLYMPUS奧林巴斯38DL測厚儀技術(shù)參數(shù)

雙晶探頭測量模式：從波勵脈沖后蹄稿延遲琳一個回波之間的時間間隔。

穿透涂層測量模式：利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7908探頭）。

穿透漆層回波到回波測量模式：在兩個連県底面回波之閭的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。

單晶探頭測量模式。

模式1：波勵廠沖與個底面回波之間的時間間陽。

模式2：延遲塊回波與個底面回波之間的時間間陽(使用延遲塊或水浸式探頭)。

模式3：在激勵豚沖之后，位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時何 間隔(使用延遲琳?頭或水浸式探頭)。

氧化層模式：可選購。

多層模式：可選購。

厚度范圍：0.080毫米 ～ 635.00毫米，具體可測厚度根據(jù)材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。

材料聲速范國：0.508 mm/μs ～ 13.998 mm/μs。

制率何選擇：低分解率：0.1毫米 標(biāo)準(zhǔn)分瓣率：0.01毫米 高分常率(可迭項):0.001臺米。

探頭頻率范圍：標(biāo)準(zhǔn)：2.0 MHz ～ 30 MHz（–3 dB）高穿透（可選項）：0.50 MHz ～ 30 MHz（–3 dB）

一般規(guī)格：

操作溫度范圍：–10°C ～ 50°C。

鍵區(qū)：密封、以色彩區(qū)分功能的鍵區(qū)，帶有觸感及聲音反饋。

外殼：防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)売，機(jī)売上的接口密封.設(shè)計符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。

外型尺寸 （寬 × 高 × 厚）：總體尺寸：125»米X 211毫米X 46臺米。

重量：0.814公斤。

電源：AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節(jié)AA輔助電池。

鈕離子電池供電時間：操作時間：少12.6小時，一般14小時，多14.7小時，快速充電：2到3小時。

標(biāo)準(zhǔn)：設(shè)計符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。

爆炸性氣氛：通過了 MIL-STD-810G方法511. 5程序I中規(guī)定的測試。

顯示：

彩色透反VGA顯示：液晶顯示，顯示屏尺寸：56.16毫米 × 74.88毫米。

檢波：全波、射頻波、正半波、負(fù)半波。

輸入/輸出：

USB：1.0從接口。

RS-232：有。

存儲卡容量：2 GB外置microSD存儲卡。

視頻輸出：VGA輸出標(biāo)準(zhǔn)。

內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器：

數(shù)據(jù)記錄器：38DL PLUS測厚儀通過標(biāo)準(zhǔn)RS-232串口或USB端口識別、存儲、調(diào)用、清除、傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置等信息。

容量：475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形。