日本橫河AQ6375B AQ6370B/C光譜分析儀

橫河AQ6375B技術參數(shù)

一、光學參數(shù)
波長范圍：192～1100nm
光譜分辨率：0.05～0.5nm (步長0.01nm)
光學靈敏度：75000 counts (Si探測器，633nm，0.1ms積分時間)
光學靈敏度漂移：±1.5% (溫度變化±5℃)
溫度穩(wěn)定性：±1.0% (以環(huán)境溫度為基準)
光孔直徑：≤6mm
光孔移動范圍：X方向±8mm，Y方向±8mm，Z方向±15mm
光孔移動速度：最大50mm/s
二、機械參數(shù)
大?。篖495×W347×H148mm
重量：約12kg (不包括附件)
三、系統(tǒng)參數(shù)
電源：AC 100V±10%, 50/60Hz, 約200VA
冷卻方式：強制風冷（小型冷卻裝置）
顯示語言：中文
電腦接口：RS-232C (9芯插頭)
工作環(huán)境：室內(nèi)，溫度5～35℃，濕度20%～80%
四、測試功能
掃描速度：最高達64次掃描/秒(基于雙掃描方式)
掃描模式：等速時間掃描(IS掃描)，等速角度掃描(IA掃描)，等速波長掃描(IW掃描)
基線校正：自動或手動
噪聲測量：實時測量，2Hz～200Hz，0～20℃
五、測量應用
透過率/吸收率測量：T(λ)/A(λ)測量，無需樣品室，可測量多層鍍膜、光學零件等
反射率/反射能量測量：R(λ)/E(λ)測量，可測量鍍膜光學零件、各種金屬材料等
雙光束測量：測量光束與參考光束同時測量，自動扣除干擾因素影響，提升測量精度
六、系統(tǒng)應用
基本測量應用：透過率/吸收率、反射率/反射能量、光譜分布、光致發(fā)光譜(PL譜)、熒光光譜(FL譜)、拉曼光譜(RS譜)等
高級測量應用：等離子體診斷、納米顆粒跟蹤、生物分子光學厚度測量、熒光壽命成像(FLI)、多光子激發(fā)(MPELE)、光泵浦(OPO)等
七、附加功能
數(shù)據(jù)存儲功能：可存儲掃描數(shù)據(jù)及分析結果，支持U盤等存儲設備，文件格式為通用CSV格式，可隨時導入至PC端進行數(shù)據(jù)分析及處理
數(shù)據(jù)復制功能：支持數(shù)據(jù)復制，實現(xiàn)數(shù)據(jù)轉移，方便多個設備間數(shù)據(jù)共享
遠程控制功能：支持遠程控制，通過PC端或手機端實現(xiàn)遠程操作二、機械參數(shù)
大小：L495×W347×H148mm
重量：約12kg (不包括附件)
三、系統(tǒng)參數(shù)
電源：AC 100V±10%, 50/60Hz, 約200VA
冷卻方式：強制風冷（小型冷卻裝置）
顯示語言：中文
電腦接口：RS-232C (9芯插頭)
工作環(huán)境：室內(nèi)，溫度5～35℃，濕度20%～80%
四、測試功能
掃描速度：最高達64次掃描/秒(基于雙掃描方式)
掃描模式：等速時間掃描(IS掃描)，等速角度掃描(IA掃描)，等速波長掃描(IW掃描)
基線校正：自動或手動
噪聲測量：實時測量，2Hz～200Hz，0～20℃
五、測量應用
透過率/吸收率測量：T(λ)/A(λ)測量，無需樣品室，可測量多層鍍膜、光學零件等
反射率/反射能量測量：R(λ)/E(λ)測量，可測量鍍膜光學零件、各種金屬材料等
雙光束測量：測量光束與參考光束同時測量，自動扣除干擾因素影響，提升測量精度
六、系統(tǒng)應用
基本測量應用：透過率/吸收率、反射率/反射能量、光譜分布、光致發(fā)光譜(PL譜)、熒光光譜(FL譜)、拉曼光譜(RS譜)等
高級測量應用：等離子體診斷、納米顆粒跟蹤、生物分子光學厚度測量、熒光壽命成像(FLI)、多光子激發(fā)(MPELE)、光泵浦(OPO)等
七、附加功能
數(shù)據(jù)存儲功能：可存儲掃描數(shù)據(jù)及分析結果，支持U盤等存儲設備，文件格式為通用CSV格式，可隨時導入至PC端進行數(shù)據(jù)分析及處理
數(shù)據(jù)復制功能：支持數(shù)據(jù)復制，實現(xiàn)數(shù)據(jù)轉移，方便多個設備間數(shù)據(jù)共享
遠程控制功能：支持遠程控制，通過PC端或手機端實現(xiàn)遠程操作

AQ6370系列分別有AQ6370D、AQ6370C、AQ6360、AQ6373B、AQ6374、AQ6375B、AQ6376、AQ6377、AQ6317B，相關參數(shù)如下圖

深圳市星琪儀器儀表有限公司：
1.我司所有儀器設備在裝運之前均經(jīng)過嚴格的質(zhì)量檢測無問題才安排發(fā)貨。
2.可根據(jù)客戶要求將我司測試合格后的儀器送國家計量單位進行計量，并出具計量合格證書。
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