*軟件界面僅供參考
純中文的操作界面
功能設(shè)計簡單易操作。符合國人使用習(xí)慣,即使是新手用戶,簡單了解后也能快速上手。
完善的自動化功能
自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散,均可一鍵調(diào)節(jié),提高工作效率。
豐富的測量工具
長度、面積、圓度、角度等測量功能強大的照片管理和預(yù)覽、編輯功能。
光學(xué)導(dǎo)航
想看哪里點哪里,導(dǎo)航更輕松
標配光學(xué)導(dǎo)航攝像頭,可拍攝高清樣品臺照片,快速定位樣品。
防撞設(shè)計
對新手更友好的防碰撞設(shè)計,最大限度保護敏感單元。
一鍵成像
*軟件一鍵成像,新手也能輕松駕馭。
分析距離
最佳分析距離和成像距離二合一,輕松體驗優(yōu)質(zhì)性能。
SEM2000軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像??赏瑫r觀察到樣品的形貌信息和成分信息。
SE:3.9 nm @20 kV
BSE:4.5 nm @ 20 kV
高靈敏度背散射探測器
· 多通道成像
探測器設(shè)計精巧,靈敏度高,采用4分割設(shè)計,無需傾斜樣品,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。
四個單通道的陰影像
成分像
· 二次電子成像和背散射電子成像對比
背散射電子成像模式下,荷電效應(yīng)明顯減弱,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。
鐵礦石-(SE)
鐵礦石-(BSE)
能譜
金屬夾雜物能譜面掃分析結(jié)果。
電子背散射衍射
鎢燈絲電鏡束流大,滿足高分辨EBSD的測試需求,能夠?qū)饘?、陶瓷、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析。 該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖,能夠識別晶粒大小和取向,判斷晶界和孿晶,對材料組織結(jié)構(gòu)進行精確判斷。