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          馬爾文帕納科

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          K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng)

          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
          • 品牌 FEI/賽默飛
          • 型號(hào)
          • 產(chǎn)地
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
          • 更新時(shí)間 2024/8/28 14:21:13
          • 訪問(wèn)次數(shù) 1578

          聯(lián)系方式:張怡玲查看聯(lián)系方式

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          FEI公司,2016年被賽默飛世爾科技收購(gòu),成為賽默飛材料與結(jié)構(gòu)分析(MSD) 電鏡事業(yè)部,是顯微鏡和微量分析解決方案的創(chuàng)新者和供應(yīng)商。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM,透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM,結(jié)合先進(jìn)的軟件套件,運(yùn)用廣泛的樣本類型,通過(guò)將高分辨率成像與物理、元素、化學(xué)和電學(xué)分析相結(jié)合,使客戶的問(wèn)題變成有效可用的數(shù)據(jù)。

          掃描電子顯微鏡,雙束電鏡,透射電子顯微鏡,冷凍電鏡,X射線光電子能譜儀,三維可視化軟件

          價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類 國(guó)產(chǎn)
          應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工

          K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng)

          K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng)用于高性能表面分析的 X 射線光電子能譜

          Thermo Scientific K-Alpha X射線光電子能譜儀 (XPS)系統(tǒng)為表面分析帶來(lái)了一種新方法。K-Alpha XPS 系統(tǒng)專注于使用簡(jiǎn)化的工作流程提供高質(zhì)量的結(jié)果,使 XPS 操作簡(jiǎn)單直觀,而不會(huì)犧牲性能或功能。K-Alpha XPS系統(tǒng)是一種集成式單色小光斑XPS系統(tǒng),具備深度剖析能力。

          更先進(jìn)的性能、更低的價(jià)格、更容易的使用性和較大的樣品測(cè)試量,使 K-Alpha XPS 系統(tǒng)成為多用戶環(huán)境的理想選擇。K-Alpha XPS系統(tǒng)使世界各地的研究人員能夠進(jìn)行表面分析。

          K-Alpha X 射線光電子能譜儀特點(diǎn)

          高性能X射線源

          K-Alpha X射線光電子能譜儀配備的X射線單色器允許在50 µm 至 400 µm 的分析區(qū)域內(nèi)以 5 µm 的步長(zhǎng)進(jìn)行選擇選擇 ,以尋求所需的信號(hào)。

          樣品視圖

          使用K-Alpha XPS系統(tǒng)的光學(xué)觀察系統(tǒng)和XPS SnapMap聚焦樣品,幫助您快速確定分析測(cè)試區(qū)域。

          深度剖析

          使用K-Alpha X射線光電子能譜儀所配備的EX06離子源進(jìn)行更深層表面的分析。自動(dòng)源優(yōu)化和氣體處理功能確保的性能和實(shí)驗(yàn)重現(xiàn)性。


          可選樣品臺(tái)

          提供與K-Alpha X射線光電子能譜儀相匹配的各種特殊樣品臺(tái)供您選擇,包括用于變角 XPS、樣品加偏壓測(cè)試,或從手套箱惰性轉(zhuǎn)移樣品等等。

          優(yōu)異的電子光學(xué)系統(tǒng)

          高效電子透鏡、半球形分析儀和檢測(cè)器,讓K-Alpha X射線光電子能譜儀可實(shí)現(xiàn)的檢測(cè)和快速數(shù)據(jù)采集。

          絕緣樣品分析

          在K-Alpha X射線光電子能譜儀中,獲得的雙束電子源將低能量離子束與低能量的電子(小于 1 eV)耦合,防止分析過(guò)程中的樣品帶電,從而在大多數(shù)情況下消除了荷電效應(yīng)。

          數(shù)碼控制

          由 Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)指導(dǎo)的直觀操作使 K-Alpha XPS 系統(tǒng)成為多用戶、測(cè)試中心和注重高效操作和高測(cè)試量的 XPS 專家的理想選擇。

          K-Alpha XPS系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)

          分析儀類型
          • 180°雙聚焦半球分析儀, 128通道探測(cè)器

          X 射線源類型
          • 單色化、微聚焦、低功率的 Al K-Alpha X 射線源

          X 射線光斑尺寸
          • 50-400 µm(以 5µm 為單位可調(diào))

          深度剖析
          • EX06 離子源

          樣品最大面積
          • 60x60 mm

          樣品最大厚度
          • 20 mm

          真空系統(tǒng)
          • 兩個(gè)渦輪分子泵,配有自動(dòng)鈦升華泵和機(jī)械泵

          可選配件
          • ADXPS 樣品 支架, 工作 功能 樣品 支架, 手套 箱







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