專用紅外物鏡超寬光譜成像更清晰

配備了5X-50X專業(yè)紅外物鏡，提供了從可見(jiàn)光到近紅外波長(zhǎng)的像差校正，適用于常規(guī)明場(chǎng)及專用紅外的觀察。

OLIP-NIR系列平場(chǎng)半復(fù)消紅外物鏡

對(duì)于高倍數(shù)值孔徑較大的物鏡，增加了校正環(huán)，可校正由覆蓋片厚度不同引起的相差，實(shí)現(xiàn)近紅外波段的高清晰精準(zhǔn)檢測(cè)。

整機(jī)寬敞照明、面陣探測(cè)

寬光譜、大視野、高分辨成像

自主研發(fā)軟件-操作功能強(qiáng)大

采用Mvimage專用圖像軟件，在常規(guī)圖像管理、測(cè)量、圖像采集、圖形管理等功能模塊上，增加了紅外*的圖像增加功能和自動(dòng)檢測(cè)功能。

圖像增加功能：

實(shí)時(shí)拉伸算法，具有圖像增強(qiáng)功能，提升圖像清晰度，局部細(xì)節(jié)更明顯。

AI軟件賦能：

自主開(kāi)發(fā)的可根據(jù)檢測(cè)樣品的缺陷進(jìn)行AI自主學(xué)習(xí)的功能，進(jìn)行自動(dòng)缺陷識(shí)別、抓取、技術(shù)統(tǒng)計(jì)等功能。同時(shí)，可根據(jù)用戶的不同需求進(jìn)行定制。

豐富拓展模塊-可適配更多系統(tǒng)解決方案

紅外功能附件按模塊化開(kāi)發(fā)，可以根據(jù)客戶端不同的需求，順利搭載到我司其他金相顯微鏡或晶圓檢測(cè)系統(tǒng)等產(chǎn)品，以滿足客戶端4-12寸不同規(guī)格的晶圓檢測(cè)，為客戶提供更多的解決方案。

可應(yīng)用到晶磚及硅晶體檢測(cè)、晶圓檢驗(yàn)及封裝、光伏發(fā)點(diǎn)等多種半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域

詳細(xì)技術(shù)規(guī)格