賽可SNE 賽可SNE全自動臺式掃描電鏡
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 上海賽可檢測設備有限公司
- 品牌 SEC/賽可
- 型號 賽可SNE
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/11/6 8:45:43
- 訪問次數 3991
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| 產地類別 | 進口 | 儀器種類 | 鎢燈絲 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,石油,電子,制藥 |
賽可SNE全自動臺式掃描電鏡特點：
更加人性化的新一代操作軟件，任何人都能輕松操作，無需專業(yè)測試人員。并提供豐富的擴展功能：顆粒物自動分析，3D粗糙度分析，超大視野拼圖軟件。超快的真空抽速，減少等待的煩惱，提高測試效率。小巧而精致的設計，可在狹窄的空間內安裝使用。
5nmResolution250,000xMagnification：
1、同級別最高性能的StageNavigation功能：優(yōu)于5um的高精密navigation移動，可迅速位移
2、同級別不二標配全自動5軸樣品臺：搭載全新的第三代操作軟件
3、任何人均可簡單操作
4、強大的自動功能
5、超快的真空系統(tǒng)
6、Vacuum90sec,Venting15sec
7、同級別最快的真空系統(tǒng)，豐富的擴展功能
8、3D粗糙度分析，超大視野拼圖軟件
9、顆粒物粒物自動分析(Particleanalysis)
10、CompactDesign!更強大的性能!
11、與現有型號相比，Dimension減少了40%
12、300(W)x465(D)x600(H)
13、強化用戶便利功能
14、自動獲取Navigation圖像
15、關閉樣品倉的同時開始自動抽真空
HIGH-PERFORMANCEHARDWARE：
最高放大倍率25萬倍，5nmResolution，實現同級別最高放大倍率及超高分辨率，通過全新的高精密電子光學系統(tǒng)，獲取高質量圖像。
-與現款相比，Dimension減少40%
-小巧緊湊，可在狹窄的空間內安裝使用
-300(W)x465(D)x600(H)
全新的操作軟件，提高用戶體驗
注重人性化的操作界面，操作更加便捷，在短時間內輕松獲取高質量圖像
強大的自動功能
*的AutoFocus功能，可快速獲取高質量圖像
超大視野給用戶帶來更直觀的觀測體驗，通過超大視野拼圖功能，觀測樣品全貌，得到大范圍的高分辨率圖像
所需區(qū)域后無需人員操作，軟件開始自動區(qū)域掃描，并將圖像拼成全景圖像，方便觀測并提高效率。
通過四分割BSE探測器，重構3D立體圖像，簡單快速的分析表面粗糙度
更加人性化的新一代操作軟件，任何人都能輕松操作，無需專業(yè)測試人員。并提供豐富的擴展功能：顆粒物自動分析，3D粗糙度分析，超大視野拼圖軟件。超快的真空抽速，減少等待的煩惱，提高測試效率。小巧而精致的設計，可在狹窄的空間內安裝使用。
5nmResolution250,000xMagnification：
1、同級別最高性能的StageNavigation功能：優(yōu)于5um的高精密navigation移動，可迅速位移
2、同級別不二標配全自動5軸樣品臺：搭載全新的第三代操作軟件
3、任何人均可簡單操作
4、強大的自動功能
5、超快的真空系統(tǒng)
6、Vacuum90sec,Venting15sec
7、同級別最快的真空系統(tǒng)，豐富的擴展功能
8、3D粗糙度分析，超大視野拼圖軟件
9、顆粒物粒物自動分析(Particleanalysis)
10、CompactDesign!更強大的性能!
11、與現有型號相比，Dimension減少了40%
12、300(W)x465(D)x600(H)
13、強化用戶便利功能
14、自動獲取Navigation圖像
15、關閉樣品倉的同時開始自動抽真空
HIGH-PERFORMANCEHARDWARE：
最高放大倍率25萬倍，5nmResolution，實現同級別最高放大倍率及超高分辨率，通過全新的高精密電子光學系統(tǒng)，獲取高質量圖像。
五軸全自動樣品臺：
優(yōu)于5um的高精密全自動樣品臺，實現迅速位移并精準的找到樣品位置。
-與現款相比，Dimension減少40%
-小巧緊湊，可在狹窄的空間內安裝使用
-300(W)x465(D)x600(H)
全新的操作軟件，提高用戶體驗
注重人性化的操作界面，操作更加便捷，在短時間內輕松獲取高質量圖像
強大的自動功能
*的AutoFocus功能，可快速獲取高質量圖像
超大視野給用戶帶來更直觀的觀測體驗，通過超大視野拼圖功能，觀測樣品全貌，得到大范圍的高分辨率圖像
所需區(qū)域后無需人員操作，軟件開始自動區(qū)域掃描，并將圖像拼成全景圖像，方便觀測并提高效率。
通過四分割BSE探測器，重構3D立體圖像，簡單快速的分析表面粗糙度
EDS（EnergyDispersiveX-raySpectrometer）是一種安裝在SEM（電子顯微鏡）上的分析樣品表面成分的裝置。
利用掃描電鏡的電子束作用在待分析樣品上，接收不同元素在電子束作用后所產生的特征X射線信號進行定性和定量分析。
Features：
硅漂移探測器（SDD）
30mm2有效面積
超輕元素窗口,元素探測范圍B(5)~Cf(98),
能量分辨率MnKα≤129eV
帕爾貼制冷，無需液氮或其他冷卻劑
簡便的操作軟件，快速實現對材料的微區(qū)化學成分分析
主要功能：定性·定量分析,MappingLineScan,Report等
賽可SNE全自動臺式掃描電鏡規(guī)格：
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