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          產(chǎn)品展廳

          產(chǎn)品求購(gòu)企業(yè)資訊會(huì)展

          發(fā)布詢價(jià)單

          化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>電子背散射衍射系統(tǒng)(EBSD)>Sigma 300 /500系列 蔡司 掃描電子顯微鏡

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          Sigma 300 /500系列 蔡司 掃描電子顯微鏡

          參考價(jià)1500000-2800000/臺(tái)
          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

          聯(lián)系方式:李先生查看聯(lián)系方式

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          杭州科賦機(jī)電設(shè)備有限公司成立于2011年7月,公司位于浙江省杭州市濱江區(qū)(高新區(qū))江南大道3778號(hào)A3樓,公司業(yè)務(wù)覆蓋浙江、江蘇、上海、安徽、福建、江西等省市,主要經(jīng)營(yíng)系列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、非標(biāo)檢測(cè)試驗(yàn)設(shè)備、自動(dòng)化檢測(cè)集成軟件及配套硬件,亦是專業(yè)從事檢測(cè)儀器的設(shè)備集成商,公司憑借多年在材料力學(xué)、長(zhǎng)度計(jì)量、化學(xué)分析、無(wú)損檢測(cè)等領(lǐng)域的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),為廣大的客戶提供了性能優(yōu)良、精度高、性價(jià)優(yōu)益的檢測(cè)儀器設(shè)備,公司有專業(yè)團(tuán)隊(duì),依托設(shè)備生產(chǎn)商的鼎力支持,為您提供推薦選型,幫助您的企業(yè)在選擇優(yōu)益的技術(shù)完善您產(chǎn)品的可靠性檢測(cè)。為您企業(yè)提供的產(chǎn)品在市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中保駕護(hù)航。

          公司經(jīng)營(yíng)理念:

          誠(chéng)信是基礎(chǔ)、品質(zhì)是保證、產(chǎn)品是核心、服務(wù)是未來(lái);

          站在使用者的角度去思考,為您提供優(yōu)質(zhì)的檢測(cè)設(shè)備;

           站在經(jīng)營(yíng)者的角度去思考,為您企業(yè)的產(chǎn)品提供高效的檢測(cè)解決方案;

          科賦機(jī)電經(jīng)營(yíng)的產(chǎn)品涵蓋了長(zhǎng)度計(jì)量檢測(cè)儀器、材料力學(xué)檢測(cè)儀器、化學(xué)分析檢測(cè)儀器、無(wú)損檢測(cè)儀器及環(huán)境試驗(yàn)儀器:

          長(zhǎng)度計(jì)量類:

          三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、輪廓儀、圓度儀、軸類檢測(cè)儀、影像儀、測(cè)長(zhǎng)機(jī)、粗糙度儀一鍵閃測(cè)儀等;

          材料力學(xué)類:

          里氏硬度計(jì)、布氏硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、維氏硬度計(jì)、顯微硬度計(jì)、電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)、液壓萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)、動(dòng)態(tài)疲勞試驗(yàn)機(jī),扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)、沖擊試驗(yàn)機(jī)及輔助設(shè)備;

          化學(xué)分析類:

          金相顯微鏡及配套設(shè)備、體式顯微鏡、清潔度分析儀、光譜分析儀、ROHS分析儀、掃描電子顯微鏡;氧氮?dú)浞治鰞x、碳硫分析儀等;

          無(wú)損檢測(cè)類:

          超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀、涂鍍層測(cè)厚儀、X射線探傷機(jī)、X-RAY實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng);

          環(huán)境試驗(yàn)類:

          鹽霧試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、高低溫沖擊試驗(yàn)箱、三綜合試驗(yàn)設(shè)備、振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)等;

               科賦公司的發(fā)展與未來(lái)離不開(kāi)廣大新老用戶的支持與信任,誠(chéng)摯的希望與您同心協(xié)力實(shí)現(xiàn)合作、共贏!




          長(zhǎng)度計(jì)量類如:三坐標(biāo)、輪廓儀、圓度儀、軸類檢測(cè)儀、影像儀、測(cè)長(zhǎng)機(jī)、粗糙度儀;材料力學(xué)類如:里氏硬度計(jì)、布氏硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、維氏硬度計(jì)、顯微硬度計(jì)、電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)、液壓萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)、動(dòng)態(tài)疲勞試驗(yàn)機(jī),扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)、沖擊試驗(yàn)機(jī)及輔助設(shè)備;化學(xué)分析類如:金相顯微鏡及配套設(shè)備、體式顯微鏡、清潔度分析儀、光譜分析儀、ROHS分析儀、掃描電子顯微鏡;氧氮?dú)浞治鰞x、碳硫分析儀等;無(wú)損檢測(cè)類如:超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀、涂鍍層測(cè)厚儀、X射線探傷機(jī)、X-RAY實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng);環(huán)境試驗(yàn)類如:鹽霧試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、高低溫沖擊試驗(yàn)箱、三綜合試驗(yàn)設(shè)備、振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)等;

          產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 50萬(wàn)-100萬(wàn)
          應(yīng)用領(lǐng)域 電子,航天,汽車,綜合

          蔡司 Sigma 300 系列掃描電子顯微鏡

          擁有高品質(zhì)成像和分析功能的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

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          InLens 探測(cè)器

          InLens SE: 鏡筒內(nèi)高分辨二次電子探測(cè)器

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          HDBSD探測(cè)器

          高清晰度背散射電子探測(cè)器,在所有真空模式下, 可對(duì)各類樣品進(jìn)行出色的低電壓組份成像


          智能并加速工作流程

          Sigma 3004 步工作流程可控制Sigma 的所有功能??煽焖佾@取圖像,同時(shí),節(jié)約在培訓(xùn)上的時(shí)間。.

          導(dǎo)航您的樣品,并為其設(shè)置的成像條件。

          在樣品上定義感興趣區(qū)域,可自動(dòng)實(shí)現(xiàn)在多個(gè)樣品上采集圖像。

          獲得可關(guān)聯(lián)的可視化結(jié)果。

          *進(jìn)的分析系統(tǒng)

          n 在樣品上定義感興趣區(qū)域,可自動(dòng)實(shí)現(xiàn)在多個(gè)樣品上采集圖像。

          n 獲得可關(guān)聯(lián)的可視化結(jié)果。

          n 掃描電鏡與要素分析相結(jié)合:

          Sigma 300頂尖的EDS 幾何設(shè)計(jì)能夠增強(qiáng)分析能力,尤其是對(duì)電子束敏感的樣品。

          n 可實(shí)現(xiàn)在之前一半的束流下得到分析數(shù)據(jù),同時(shí)測(cè)試速度比之前快一倍。

          n 8.5mm 的工作距離和35 度的出射角,可得到?jīng)]有陰影區(qū)域的分析結(jié)果靈活的探測(cè)手段獲取高分辨率的圖像。

          靈活的探測(cè)手段獲取高分辨率的圖像

          n 使用最新探測(cè)器技術(shù)描繪您的所有樣本。

          n 使用新型的ETSE 二次電子探測(cè)器及用于高真空狀態(tài)下的InLense 二次電子探測(cè)器可以獲得高分辨率的形貌信息。

          n VPSE C2D探測(cè)器在各種壓力模式下都可以獲取清晰的圖像。

          n 使用環(huán)形STEM 探測(cè)器可以獲取高分辨率的傳送圖像。

          n 使用四通道BSD探測(cè)器和釔鋁石榴石晶體探測(cè)器研究成分。

          技術(shù)參數(shù)

          主要技術(shù)參數(shù)

          蔡司Sigma 300

          蔡司Sigma 500

          電子槍

          肖特基場(chǎng)發(fā)射

          肖特基場(chǎng)發(fā)射

          15kV 對(duì)應(yīng)分辨率

          1.0 nm

          0.8 nm

          1kV 對(duì)應(yīng)分辨率

          1.6 nm

          1.4 nm

          背散射電子探測(cè)器類型

          HD BSD

          HD BSD

          最大掃描速度

          50 ns/pixel

          50 ns/pixel

          加速電壓

          0.02 30 kV

          0.02 30 kV

          放大倍率

          10× – 1,000,000 ×

          10× – 1,000,000 ×

          探針束流

          3pA -20nA  (20nA )    

          6pA -100nA  (100nA)

          3pA -20nA  (20nA )

          6pA -100nA  (100nA)

          圖像存儲(chǔ)分辨率

          32  k × 24  k pixels

          接口

          12

          能譜接口

          2  ( 1 個(gè) EDS 專用及誒口)         3  (2 個(gè) EDS 專用及誒口)

          高真空模式

          Yes

          Yes

          樣品倉(cāng)尺寸

          365 mm (?) x 275 mm (h)

          2 133 Pa

          358 mm (?) x 270.5 mm (h)

          樣品臺(tái)種類

          全電動(dòng)5軸樣品臺(tái)

          可選配全電動(dòng)5軸樣品臺(tái)            

          全電動(dòng)5軸優(yōu)中心樣品臺(tái)

          X 方向移動(dòng)范圍

          125mm

          130mm

          125mm

          Y 方向移動(dòng)范圍

          125mm

          130mm

          125mm

          Z 方向移動(dòng)范圍

          50mm

          50mm

          50mm

          傾斜范圍

          -10 to +90 degrees

          -3 to +70 degrees                  

          -10 to +90 degrees

          旋轉(zhuǎn)范圍

          360° Continuous

          360° Continuous                      360° Continuous

          最大樣品載重

          Up to 0.5 kg all axes, up to 2kg without tilt, up to 5 kg on XY platform only

          Up to 0.5 kg

          Up to 0.5 kg all axes, up to 2kg without tilt, up to 5 kg on XY    platform only

          最大樣品尺寸

          250 mm (?) x 145 mm (h), With the ZTR module removed; At the analytical working distance






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